Устройство для измерения геометрических параметров поверхностей Советский патент 1989 года по МПК G01B21/00 

Описание патента на изобретение SU1471069A1

Похожие патенты SU1471069A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ФОКУСИРОВКИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ОБЪЕКТ 2005
  • Бородин Владимир Григорьевич
  • Лопато Алексей Владимирович
  • Филиппов Владимир Геннадьевич
  • Оспенникова Софья Наумовна
  • Игнатьев Георгий Николаевич
  • Андрианов Василий Петрович
RU2289153C1
ЛАМПОВЫЙ ПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОСТАВА АЭРОЗОЛЕЙ НА ОСНОВЕ ЛЮМИНЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА ИНДИВИДУАЛЬНЫХ ЧАСТИЦ 2004
  • Воробьев Сергей Александрович
RU2279663C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОБЪЕМНОГО КРОВОТОКА 2003
  • Тучин В.В.
  • Мареев О.В.
  • Федосов И.В.
  • Мареев Г.О.
RU2238671C1
Спектрометр комбинационного рассеяния с совмещением микро- и макрорежимов для химического и структурного анализа веществ 2017
  • Мочалов Константин Евгеньевич
  • Олейников Владимир Александрович
  • Залыгин Антон Владленович
  • Соловьева Дарья Олеговна
RU2672792C1
Способ голографической регистрации быстропротекающих процессов и устройство для его осуществления 1990
  • Долгих Олег Иванович
  • Колобродов Григорий Николаевич
  • Долгих Сергей Олегович
SU1762318A1
Устройство для записи и воспроизведения информации с дискового оптического носителя 1987
  • Клишевич Андрей Александрович
SU1490661A1
Способ теплового контроля 1977
  • Серебряков Анатолий Георгиевич
  • Шипцов Виктор Семенович
  • Гомбалевский Александр Георгиевич
  • Воробьев Константин Константинович
  • Исаева Светлана Константиновна
  • Рапопорт Дмитрий Александрович
SU750291A1
ПРИЕМО-ПЕРЕДАЮЩИЙ КАНАЛ НЕКОНТАКТНОГО ДАТЧИКА ЦЕЛИ 2004
  • Дунькович Сергей Станиславович
  • Ивонин Александр Николаевич
  • Мальцев Валерий Владимирович
  • Фомин Михаил Робертович
RU2280235C2
Интерферометр для контроля выпуклых параболоидов 1987
  • Феоктистов Владимир Андреевич
  • Назмеев Мунир Минхадыевич
  • Хуснутдинов Амирхан Гильмутдинович
  • Алипов Борис Алексеевич
SU1425437A1
Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка 1990
  • Феоктистов Владимир Андреевич
SU1712778A1

Реферат патента 1989 года Устройство для измерения геометрических параметров поверхностей

Изобретение относится к измерительной технике и может быть применено в машиностроении при изготовлении и контроле изделий сложной формы. Цель изобретения - упрощение, повышение чувствительности и точности за счет устранения погрешностей установки точечной диафрагмы в фокусе объектива путем использования пространственной модуляции светового пучка с помощью системы регистрации. Излучение источника 1 оптического излучения коллимируется объективом 2. С помощью объектива 3 излучение фокусируется на поверхности объекта, установленного на платформе 4. Отраженное излучение через светоделитель 6 и объектив 7 фокусируется на систему 8 регистрации. Результат измерения регистрируется с помощью осциллографа 10 и цифрового мультиметра 11. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 471 069 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1989 года SU1471069A1

Патент СИЛ № 3550839, кл
Катодное реле 1921
  • Коваленков В.И.
SU250A1

SU 1 471 069 A1

Авторы

Земсков Георгий Георгиевич

Бессонов Юрий Львович

Каушинис Саулюс Клеменсович

Макухин Виталий Николаевич

Морозова Нина Дмитриевна

Скролис Повилось Адольфо

Солодов Сергей Евгеньевич

Даты

1989-04-07Публикация

1986-04-10Подача