Способ контроля положения рабочих зазоров в многодорожечном блоке магнитных головок Советский патент 1989 года по МПК G11B5/455 

турная схема устройства, в котором реализован предлагаемый способ; на фиг. 6 - вырезанные диафрагмами увеличенные изображения контролируемого и эталонного участков датчика, каждый из которых состоит из двух доменов, сформированных соответственно в области рабочего зазора отдельной головки контролируемого блока и в области действия внешнего и противофазного (по отношению к полю контролируемой головки) магнитного поля (например, поля эталонной головки).

Магнитные головки 1, имеющие рабо- Благодаря этому оба участка

чие зазоры 2, установлены в общем блоке 3, располагаемом в процессе контроля на магнитооптическом датчике 4. При реализации способа каждая головка блока 3 вводится в контакт с датчиком 4 и при подаче в головку тока в ее рабочем зазоре возникает магнитное поле, которое можно разложить на тангенциальную 5 (фиг. 2) составляющую К. и нормальную 6 составляющую Hz с получением результирующей Н, обозначенной позицией 7. Позицией 8 обозначена условная магнитная силовая линия. Нормальная составляющая Н поля в некоторой точке рабочего зазора равна нулю и меняет знак на противоположный (кривая а , фиг. 3). Геометрическое место точек, где нормальная составляющая поля рабочего зазора равна нулю, принимаем за ось рабочего зазора головки.

В процессе контроля отклонения оси каждой головки от общей геометрической оси всего блока 3 используется светополяризационный канал (фиг. 5), состоящий из источника 9 света, коллиматора 10, поляризатора 11, светоделительной пластины 12, микрообъектива 13, фокусирующего световой поток на расположенные в непосредственной близости один от другого два участка датчика: контролируемый участок 14 датчика, находящийся в контакте с рабочим зазором отдельной головки блока 3 (число таких идентичных участков равно числу головок в блоке), и эталонный участок 15 датчика, находящийся под воздействием внешнего градиентного и противофазного (по отношению к полю контролируемой головки) магнитного поля (например, поля эталонной головки). Указанное поле может быть создано, например, путем записи на высококоэр20

25

30

35

40

45

50

55

датчика одновременно находят ле зрения микрообъектива 13.

Нормальная составляющая Н занного внешнего поля, форми эталонной головкой, в некото ке эталонного участка 15 дат же обращается в нуль и меняе на противоположный (кривая S1 Но, так как рабочий зазор эт головки представляет собой п линию, геометрическое место где HZ gr 0, также является линией (фиг. 4).

Датчик 4 состоит из ферри товой эпитаксиальной пленки ращенной на немагнитной проз подложке 17, и нанесенного м вакуумной конденсации на пов пленки отражающего покрытия пример, тонкого слоя алюмини пластиной 12 последовательно жены анализатор 19, находящи ной плоскости две прямоуголь афрагмы 20 и 21 шириной d, о

22и фотоприемник 23. К фото

23могут быть подключены уси

24постоянного тока и регист прибор 25. Совместное переме датчика 4 и блока 3 головок тельно оптической оси светоп ционного канала осуществляет мощью узла 26 перемещений. Н система координат ориентиров чтобы ось ОХ совпадала с гео кой осью блока головок, а ос

с оптической осью светополяр ного канала.

В отсутствие внешнего маг поля доменная структура датч ет вид лабиринта (27, фиг. 4 участки 14 датчика воздейств нитным полем контролируемой путем введения датчика в мех кий контакт с головкой в обл

0

Благодаря этому оба участка

цитивной магнитной пленке (магнитной ленте) магнитного отпечатка поля рабочего зазора эталонной головки в контакт с участком 15 датчика. При этом доменная структура участка 15 датчика перестраивается под действием нормальной составляющей поля рассеивания отпечатка. Размеры указанной высококоэрцитивной пленки намного меньше габаритных размеров эталонной головки, и поэтому эталонный участок 15 может быть расположен достаточно близко к контролируемому участку 14.

14 и 15 в по0

5

0

5

0

5

0

5

датчика одновременно находятся ле зрения микрообъектива 13.

Нормальная составляющая Н2 указанного внешнего поля, формируемого эталонной головкой, в некоторой точ- ке эталонного участка 15 датчика также обращается в нуль и меняет знак на противоположный (кривая S1 фиг. 3). Но, так как рабочий зазор эталонной головки представляет собой прямую линию, геометрическое место точек, где HZ gr 0, также является прямой линией (фиг. 4).

Датчик 4 состоит из феррит-гранатовой эпитаксиальной пленки 16, выращенной на немагнитной прозрачной подложке 17, и нанесенного методом вакуумной конденсации на поверхность пленки отражающего покрытия 18 (например, тонкого слоя алюминия). Под пластиной 12 последовательно расположены анализатор 19, находящиеся в одной плоскости две прямоугольные диафрагмы 20 и 21 шириной d, объектив

22и фотоприемник 23. К фотоприемнику

23могут быть подключены усилитель

24постоянного тока и регистрирующий прибор 25. Совместное перемещение датчика 4 и блока 3 головок относительно оптической оси светополяриза- ционного канала осуществляется с помощью узла 26 перемещений. На фиг. 5 система координат ориентирована так, чтобы ось ОХ совпадала с геометрической осью блока головок, а ось OZ с оптической осью светополяризационного канала.

В отсутствие внешнего магнитного поля доменная структура датчика имеет вид лабиринта (27, фиг. 4). На участки 14 датчика воздействуют магнитным полем контролируемой головки путем введения датчика в механический контакт с головкой в области ее

5

рабочих зазоров. Одновременно на участок 15 датчика воздействуют противофазные (по отношению к полю контролируемой головки) полем эталонной головки, например, путем введения датчика в контакт с магнитным отпечатком поля эталонной головки, записанным на высококоэрцитивной пленке (например, магнитной ленте). Так как датчи обладает одноосной анизотропией с осью легкого намагничивания, ориентированной перпендикулярно плоскости датчика, то его доменная структура на участках 14 и 15 перестраивается под воздействием нормальных составляющих соответственно поля контролируемой головки HZ Y и поля эталонной головки Н . Символы + и - (фиг. 4) поясняют ориентацию намагниченности в доменах на участках 14 и 15 датчика. При этом доменная граница на участках 14 ориентируется по оси рабочего зазора каждой головки контролируемого блока 3, а на участке 15 - по оси рабочего зазора эталонной головки, т.е. по прямой линии (так как величины нормальных составляющих поля Н г и HZзг вдоль указанных осей равны нулю).

Световой поток от источника 9, пройдя коллиматор 10 и поляризатор 11, отражается от светоделительной пластины 12 и с помощью микрообъектива 13 фокусируется на участки 14 и 15 датчика в области рабочего зазора, например, первой головки блока 3. Далее, дважды пройдя датчик, после отражения от покрытия 18 через светоделительную пластину 12, анализатор 19 и объектив 22 попадает на фотоприемник 23. Так как имеет место разность углов фарадеевского вращени в левом и правом доменах на участках 14 и 15 датчика (вследствие взаимно противоположной ориентации намагниченности), то на выходе из анализатора возникает оптический контраст между изображениями указанных доменов на участках 14 и 15 датчика, содержащих эти домены и разделяющие их две доменные стенки (фиг, 6).

При совместном перемещении датчика и многодорожечного блока относительно оптической оси светополяризационного канала световой поток микро7336

объективом 13 последовательно фокусируется на участки датчика в области рабочих зазоров 2,3,...,п-й головок, блока (п - число головок в бло- ч

ке) .

Осуществляя совместное перемещение датчика и многодорожечного блока относительно оптической оси светополяризационного канала, последовательно измеряют разностную величину светового потока, прошедшего через датчик в области 2, 3,0..,п-й головок блока, и по ней определяют величину отклонения оси рабочего зазора каждой головки блока А , ауэ мг ,... ЛУ„ мг от геометрической продольной оси всего блока.

Формула изобретения

Способ контроля положения рабочих зазоров в многодорожечном блоке магнитных головок, заключающийся в преобразовании лабиринтной доменной

структуры пленочного магнитооптического датчика в двухдоменное состояние посредством взаимодействия на датчик нормальной составляющей магнитного

поля исследуемой головки блока с по- следующим измерением величины светового потока, прошедшего через контролируемые участки датчика, находящиеся в контакте с рабочими зазорами

головок блока путем совместного перемещения многодорожечного блока и датчика относительно оптической оси светополяризационного канала по направлению продольной геометрической

°си блока, после чего осуществляют контроль положения рабочих зазоров, отличающий ся тем, ч то , с целью повышения точности, в магнитооптическом датчике предварительно

создают на эталонном участке датчика двухдоменное состояние с взаимно противоположной ориентацией намагниченности по отношению к намагниченности аналогичного состояния от головки

блока и с доменной границей, ориентированной параллельно направлению перемещения, а контроль осуществляют измерением суммы величин световых потоков, прошедших через соответствуюЩие контролируемые и эталонные участки.

f.

г

спз

4-3

X

(HyHr) S(HzHr) 7W

Изобретение относится к приборостроению, а именно к технике магнитной записи и позволяет повысить контроль положения рабочих зазоров в многодорожечном блоке магнитных головок. Способ заключается в преобразовании лабиринтной доменной структуры пленочного магнитооптического датчика в двухдоменное состояние при воздействии на датчик нормальной составляющей магнитного поля исследуемой головки блока с последующим измерением величины светового потока путем совместного перемещения многодорожечного блока и датчика 4 относительно оптической оси светополяризационного канала по направлению продольной геометрической оси блока. После этого осуществляют контроль положения рабочих зазоров. При этом в магнитооптическом датчике на его эталонном участке создают двухдоменное состояние с взаимно противоположной ориентацией намагниченности по отношению к намагниченности аналогичного состояния, созданного полем головки блока. Доменную границу в таком двухдоменном состоянии ориентируют параллельно направлению перемещения. Контроль осуществляют измерением суммарного светового потока, прошедшего через соответственно контролируемые и эталонные участки магнитооптического датчика. 6 ил.

Фиг.1

(W «

Фие.2

5 (Я2„)

.5

27

75

Фиг.5

21

Фиг. 6