Способ определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах Советский патент 1962 года по МПК G01R31/27 

Известные способы определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах предполагают обязательную отпайку испытуемого диода, если диоды включены параллельно.

Описываемый -способ позволяет определять отсутствие контакта в полупроводниковых диодах, включаемых параллельно в электрическую схему, без их отпайки. С этой целью используют разборный трансформатор напряжения.

Принципиальная схема проверки диодов по описываемому способу приведена на чертеже.

Разборный трансформатор / выполнен на разборном сердечнике, на одной половине которого укреплена первичная обмотка. При охватыванни магнитопроводом вывода проверяемого диода 2 этот вывод выполняет функцию одного витка вторичной обмотки трансформатора. Если к зажимам 3 подключить источник переменного напряжения, то при замыкании общих выводов 4 и 5 схемы по образованному замкнутому контуру потечет ток. При этом ток потечет только при условии отсутствия обрыва в испытуемом диоде.

Прохождение тока через контур обнаруживают с помощью трансформатора 6 тока, витком первичной обмотки которого служит провод, замыкающий общие точки схемы. К зажимам 7 вторичной обмотки трансформатора 6 подключают индикатор, например осциллограф. Наличие в проверяемых устройствах диодов, включенных параллельно испытуемому, не влияет на точность проверки, поскольку они закорочены проводом, соединяющим выводы 4 и 5. Перенося разборный трансформатор / с одного диода на другой, можно испытать на обрыв все параллельно включенные диоды.

Описанный способ может найти щнрокое применение на предприятиях, выпускаюп№х массовую продукцию на полупроводниковых диода.х.

№149505

изобретения

Способ определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах, включенных параллельно один относительно другого в электрическую схему, по прохождению тока через испытуемый диод, отличающийся тем, что, с целью поверки любого из этих диодов без их отпайки, индуктируют посредством разборного тр ансформатора напряжение в выводе испытуемого диода, используя этот вывод в качестве вторичной обмотки трансформатора, и определяют исправность диода по току во вторичной обмотке повышающего трансформатора, первичную обмотку которого включают параллельно испытуемому диоду.

о