Способ определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах Советский патент 1962 года по МПК G01R31/27 

Описание патента на изобретение SU149505A1

Известные способы определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах предполагают обязательную отпайку испытуемого диода, если диоды включены параллельно.

Описываемый -способ позволяет определять отсутствие контакта в полупроводниковых диодах, включаемых параллельно в электрическую схему, без их отпайки. С этой целью используют разборный трансформатор напряжения.

Принципиальная схема проверки диодов по описываемому способу приведена на чертеже.

Разборный трансформатор / выполнен на разборном сердечнике, на одной половине которого укреплена первичная обмотка. При охватыванни магнитопроводом вывода проверяемого диода 2 этот вывод выполняет функцию одного витка вторичной обмотки трансформатора. Если к зажимам 3 подключить источник переменного напряжения, то при замыкании общих выводов 4 и 5 схемы по образованному замкнутому контуру потечет ток. При этом ток потечет только при условии отсутствия обрыва в испытуемом диоде.

Прохождение тока через контур обнаруживают с помощью трансформатора 6 тока, витком первичной обмотки которого служит провод, замыкающий общие точки схемы. К зажимам 7 вторичной обмотки трансформатора 6 подключают индикатор, например осциллограф. Наличие в проверяемых устройствах диодов, включенных параллельно испытуемому, не влияет на точность проверки, поскольку они закорочены проводом, соединяющим выводы 4 и 5. Перенося разборный трансформатор / с одного диода на другой, можно испытать на обрыв все параллельно включенные диоды.

Описанный способ может найти щнрокое применение на предприятиях, выпускаюп№х массовую продукцию на полупроводниковых диода.х.

№149505

изобретения

Способ определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах, включенных параллельно один относительно другого в электрическую схему, по прохождению тока через испытуемый диод, отличающийся тем, что, с целью поверки любого из этих диодов без их отпайки, индуктируют посредством разборного тр ансформатора напряжение в выводе испытуемого диода, используя этот вывод в качестве вторичной обмотки трансформатора, и определяют исправность диода по току во вторичной обмотке повышающего трансформатора, первичную обмотку которого включают параллельно испытуемому диоду.

о

Похожие патенты SU149505A1

название год авторы номер документа
Устройство для автоматической проверки работоспособности релейной защиты без отключения электроустановки 1980
  • Сердюк Юрий Иванович
  • Пеклер Владимир Наумович
SU945915A1
Электропривод ленточной машины 1961
  • Кричевский М.Э.
  • Мовшович П.М.
  • Сергеев К.В.
  • Хавкин В.П.
SU145922A1
Преобразователь частоты 1981
  • Шипицын Виктор Васильевич
  • Лузгин Владислав Игоревич
  • Рухман Андрей Александрович
  • Новиков Алексей Алексеевич
  • Дрягин Вениамин Викторович
  • Кропотухин Сергей Юрьевич
  • Глухих Владимир Архипович
  • Чижевский Владимир Александрович
  • Абрамов Анатолий Васильевич
  • Чуркин Дмитрий Васильевич
  • Вакарев Александр Ильич
SU1012406A1
Способ контроля исправности трансформаторов тока высоковольтных присоединений и устройство для его осуществления 1988
  • Кузнецов Анатолий Павлович
  • Гловацкий Всеволод Георгиевич
  • Степанов Юрий Александрович
  • Силантьев Николай Алексеевич
SU1647484A1
Автономный инвертор 1979
  • Акодис Михаил Миронович
  • Курашко Юрий Иванович
  • Глухих Владимир Архипович
  • Кропотухин Сергей Юрьевич
SU819914A1
Высокочастотный конвертор 1979
  • Лобанова Татьяна Петровна
  • Пакидов Алексей Петрович
  • Широков Владимир Леонидович
SU811441A1
Преобразователь постоянного напряжения в @ -ступенчатое переменное 1981
  • Липковский Константин Александрович
  • Тонкаль Владимир Ефимович
  • Мельничук Леонид Павлович
  • Дыхненко Юрий Иванович
  • Сидоренко Юрий Васильевич
SU1014110A1
ЕМКОСТНЫЙ НАКОПИТЕЛЬ 1998
  • Костюкова Т.П.(Ru)
  • Рогинская Л.Э.(Ru)
  • Саенко Алексей Геннадьевич
RU2130685C1
Устройство для испытания транзисторов 1979
  • Трифонов Николай Леонтьевич
SU873165A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ ПРОВОДИМОСТИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ЦЕПЕЙ 1948
  • Озерной М.И.
SU86342A1

Иллюстрации к изобретению SU 149 505 A1

Реферат патента 1962 года Способ определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах

Формула изобретения SU 149 505 A1

SU 149 505 A1

Авторы

Кричевский М.Э.

Даты

1962-01-01Публикация

1960-02-26Подача