Электрорентгенографический дефектоскоп Советский патент 1989 года по МПК G01N23/04 

Йзс ретение относится к иеразруша- ющему контролю качества материалов и изделий, конкретнее к радиационным методам, и может Зыть использовано при контроле объектов переменной толщины, «апример сложного литья, сварных соединений, путей электрорентгенографии объекта.

Целый изобретения является повышение качества изображений объектов сложной формы.

На чертеже изображена структурная схема электрорентгенографического дефект ос когма.

Эяектрорентгено рафический дефект тоскоп содержит рентгеновский излуча,тель 1 с коммутатором анодного напря- жения, электрорентгенографический преобразователь, вьнюлиеиный в виде

.слоя полупроводника 2, например селена, нанесенного на металлическую подложку 3, заключенный в светонепрони- цаемь корпус , расположенные параллельно полупроводниковому слою управ- ляю.дую сетку 5 и коронирующие электроды 6, изолированные от светонепроницаемого корпуса, причем управляющая сетка и коронирукмдие электроды электримески соединены через нормально разомкнутые и соответственно замкнутые контакты с источниками 7 и 8 высокого напряжения. Упомянутые контак- ты входят в коммутатор 9 На чертеже также изображен объект 10 контроля с резкими перепадами толщины.

Дефектоскоп работает следующим образом.

8 исходном,состоянии контакты 8 и Г коммутатора 9 замкнуты и селено- зая пластина заряжается от источника 8 посредством коронирующих электродов 6 до момента включения высокого нап- ряжения на аноде рентгеновского излу чателя 1 при помощи коммутатора анодного напряжения4 При одновременном включении рентгеновского излучателя 1 и коммутатора 9 (контакты В и Г размыка- ются,А и Б замыкаются) корониругащие электроды б отключаются от источника 8, а управляющая сетка соединяется с источником 7-Теневое рентгеновское изображение внутренней структуры преобразу- ется в электростатическое полупроводником 2 и затем виз1уализируется в пь леЕом облаке заряженных мелкодисперсных частиц (не показано). При этом благодаря электрическому полю между управляющей сеткой 5 и полупро водником 2 происходит откачка отрица™ тельных токов воздуха, возникающих во время экспонирования от поверхности полупроводникового слоя, т.е. устраняется явление подтравливания ; на границах перепада толщины илИ плотности.

Поскольку контролирующие злектро- ды и управляющая сетка размещены непосредственно на месте экспонирования, исключается разрыв эо времени между электризацией и экспонировани

о

5

0

ем, что приводит к повышению чуастви- тельности и стабильности контроля и повышению информативности за счет устранения явления подтравливания на границах перепада толщины или плотности.

Формула изобретения

Электрорентгенографический дефектоскоп, содержащий рентгеновский излучатель с коммутатором анодного напряжения, заключенный в светонепроницаемый корпус электрорадиографический преобразователь, выполненный в виде нанесенного на металлическую подложку слоя полупроводника, устройство электризации и проявления электростатического изображения, содержащее источник высокого напряжения, систему корони- рующих электродов и управляющую сетку, отличающийся тем, что,- с целью повышения качества изображений объектов сложной фор, дефекто- .скоп снабжен дополнительным источником высокого нап|эяжения и коммутатором, имеющим пары нормально замкнутых и нормально разомкнуtHX контактов, коронирующие электроды и управляющая сетка размещены в светонепроницаемом корпусе параллельно полупроводниковому слою, примем сетка расположена между упомянутыми слоем и злект юдами и подключена к нормально разомкнутым контактам коммутатора, система электродов связана с нормально замкнутыми контактами, к упомянутым парам контактов подключены выходы соотаетстаен- но первого и й,ополни1гельного источников BbfCOKoro напряжения, а коммутатор анодного иапряжения по входу управления связан с KOMfjyraTofTOM, имеющим чары упомянутых контактов.

тт

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий, конкретнее к радиационным методам, и может быть использовано при контроле объектов переменной толщины, например сложного литья, сварных соединений, путем электрорентгенографии объекта. Целью изобретения является повышение качества изображений объектов сложной формы. Дефектоскоп содержит расположенные в светонепроницаемом корпусе электрорадиографический преобразователь, систему коронирующих электродов, управляющую сетку. Перед экспонированием преобразователя на электроды подается через коммутатор высокое напряжение, производящее зарядку преобразователя. В момент включения анодного напряжения в рентгеновском излучателе электроды отключаются и высокое напряжение подается на управляющую сетку. После экспонирования происходит проявление скрытого изображения в пылевом облаке заряженных частиц. 1 ил.

10

/