(pusi
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к датчикам давления.
Цель изобретения - повьшение точности путем уменьшения температурного коэффициента сопротивления резистора.
На фиг. 1 показана структура полупроводникового резистора из AlGaSb; на фиг. 2 - рассчитанная зависимость коэффициента качества от состава; на фиг.З - теоретически рассчитанная зависимость температурного коэффициента сопротивления от температуры и экспериментально измеренные значе- ния его для резистора из А,
Резистор из твердого раствора AlxGa xSb получают методом лсидко- фазной зпитаксии (фиг, 1). На подлож- .ке 1 p-GaSb с ориентацией (100) с целью улучшения электрической изоляции рабочего слоя от подложки вьщол- няют слой 2 дырочного ,xSb с содержанием AlSb х 0,3 толщиной 7 мкм. Мышьяк вводят с целью согласо- вания постоянных решетки, подложки и слоя. Далее наравщвают рабочий слой 3 электронного . (А8)тол- щиной 16 мкмо Для изготовления надежных омических Контактов поверх рабо- чего слоя наращивают слой 4 электронного GaSb. Омические контакты 5 формируют вплсшлением навесок олова. Из рабочего слоя Alp j GageiSb (As) с помощью фотолитографии вытравливают рабочий участок тензорезистора в ввде полоски длиной 3 мм и шириной 0,5 ммРезистор из (xSb указанного составй помещают в корпус .(на чертеже не показан), заполненный непроводящей химически неактивной жидкостью, па- пример трансформаторным маслом.
Датчик работает следующим образом
Давление к резистору подводится гидростатически. Его сопротивление, зависящее от давления, измеряется омметром, показания которого являются выходным сигналом датчика.
Резистор выполнен из твердого раствора n-Al,, Sb с содержанием AlSb 0,,45, легированного теллуром до концентрации электронов 1 ..
Требованиями, предъявленными к датчикам давления вообще, и к тен- зорезисторам, в частности, являются высокое значение коэффициента пье- зочувствительности о(в° dR/dp и низкое значение температурного козф
0 5 О
л
,
5
5
фициента сопротивления о R MR/dT, где R -удельное сопротивление резис TOpaJ Р - удельное сопротивление резистора; Р - давление; Т - темпераг- тура. Отношение этих двух характеристик определяет коэффициент качества Q oip/0.Очевидным требованием к датчику давления является необходимость высокого значения Q.
Расчет oij,(x),«г(х) и Q(x) для различных составов твердого раствора ведется через вычисление удельного сопротивления твердого раствора по формуле R е( где п и |U; - соответственно концентрация и подвижность электронов в i-M минимуме зоны проводимости. Концентрации nj вычисляют посредством решения уравнения электронейтральности с использованием известных значений параметров. Зависимость фициента качества от содержания х AlSb в твердом растворе , Sb приведена на фиг. 2. Расчет показал, что в твердом растворе А Sb коэффициент качества может пйчти на порядок величины превьппать значение Q в GaSb. Высокое значение Q в п- -А1 g Sb обусловлено низким значением oi при X 0,4.
Слабая температурная зависимость удельного сопротивления твердого раствора вызвана тем, что в упомянутой области составов в переносе заряда принимают участие электроны, находящиеся одновременно в F, L и X подзонах зоны проводимости. Факторы, которые определяют сильную зависимость от температуры в других полупроводниковых материалах в данном материале взаимно компенсируют друг друга. При этом пьезочувствительиость остается высокой и составляет (0,4) 1 . Ю . Расчеты показьшают также, что уровень легирования п - - AlxGa.)(Sb не должен превьш1ать , так как более сильное легирование ведет к резкому уменьшению коэффициента пьезочувствительно- сти. Нижний предел уровня легирования -1 10 обусловлен технологическими трудностями получения дого раствора с меньшей концентрацией электронов. На фиг, 3 изображена расчетная зависимость температурного коэффициента сопротивления от температуры. Видно, что в интервале температур 220-320 К расчетное значею1е
превьшает З-Ю К , что на порядок ниже значения о в GaSb.
Коэффициент тензочувствительности данного реяистора составляет 1,1л
х1СГ Па
, что примерно в два раза
ниже значенияodpв GaSb. Зависимость
Формула изобретения
температурного коэффициента сопротивления от температуры изображена точками- на фиг. 3. Видно, что в области температур К значения ei, Низки, и приблизительно соответствуют расчетным. В интервале температур Т 220К увеличивается, однако остается в два |5 путем уменьшения температурного коэф- раза ниже, чем у резистора из GaSb. фициента сопротивления резистора, поПрименение в качестве пьезочувст- лупроводниковый резистор выполнен в вительного элемента резистора из твер- виде твердого раствора AlyGa,- Sb дого раствора AlyGa, Sb с составом при условии 0,35 ; х 0,45, легирован- 0,,45, легированного теллуром 20 ного теллуром до концентрации электДатчшс давления, содержащий кор- 0 пус, заполненный неэлектропроводной химически нейтральной жидкостью, и размещенный в нем полупроводниковый резистор, о тл ича ющий с я тем, что, с целью повышения точности
до уровня 1 CM S , прзворонов
. 5 .
fifVПа
Ю
5,
10
Г7
.лит создавать термостабильные датчики давления простые по конструкции, не требующие дополнительньЬс мер к стабилизации температуры.
Формула изобретения
путем уменьшения температурного коэф- фициента сопротивления резистора, поДатчшс давления, содержащий кор- пус, заполненный неэлектропроводной химически нейтральной жидкостью, и размещенный в нем полупроводниковый резистор, о тл ича ющий с я тем, что, с целью повышения точности
лупроводниковый резистор виде твердого раствора A при условии 0,35 ; х 0,4 ного теллуром до концент
ронов
. 5 .
Лг/
4-Ш
Z W
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
КМОП УСТРОЙСТВА НА ОСНОВЕ СУРЬМЫ | 2007 |
|
RU2419916C2 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ НА ОСНОВЕ GaInAsSb | 2023 |
|
RU2805140C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ НА ОСНОВЕ GaInAsSb | 2023 |
|
RU2813746C1 |
Способ получения полупроводниковой структуры | 1977 |
|
SU668506A1 |
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ | 2015 |
|
RU2605839C2 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ НАНОГЕТЕРОСТРУКТУРЫ СО СВЕРХРЕШЕТКОЙ | 2015 |
|
RU2611692C1 |
Полупроводниковый датчик давления | 1975 |
|
SU549053A1 |
Способ гетероэпитаксиального наращивания слоев твердого раствора на основе арсенида индия-алюминия | 1990 |
|
SU1785048A1 |
Гетероструктура с составной активной областью с квантовыми точками | 2018 |
|
RU2681661C1 |
Способ получения антимонида галлия с большим удельным электрическим сопротивлением | 2016 |
|
RU2623832C1 |
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения высоких давлений жидкостей и газов. Целью изобретения является повышение точности путем уменьшения температурного сопротивления пьезорезистора. Пьезорезистор сформирован эпитаксиальным методом в виде монокристаллического слоя 3 твердого раствора ALXGA1-XSB на электроизолирующей подложке 2, при этом 0,35≤X≤0,45, и произведено легирование теллуром до концентрации электронов (1...5).1023 м-3. Давление к пьезорезистору подводится гидростатически. Повышение точности достигается за счет выбора состава твердого раствора в указанных пределах, при этом уменьшается температурный коэффициент сопротивления αт примерно на порядок по сравнению с чистым GASB, а пьезочувствительность αр остается неизменной. В результате улучшается качество пьезорезистора Q=ΑP/ΑT, что позволяет создавать термостабильные датчики давления. 3 ил.
0,0 0,2 0,4 Фаг.2
Марьямова И.И., Сьщир Б.И., Екимов Ю.С | |||
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Материалы III Всесоюзной конференции Нитевидные кристаллы для новой техники | |||
- Воронеж, 1979, с | |||
Халат для профессиональных целей | 1918 |
|
SU134A1 |
ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ НАПРЯЖЕНИЯ В ЦИФРОВОЙ КОД | 1972 |
|
SU433634A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
, |
Авторы
Даты
1989-11-15—Публикация
1988-02-22—Подача