Способ потенциометрического определения компонентов теллурида кадмия Советский патент 1990 года по МПК G01N27/48 

Изобретение относится к аналитической химии, а именно к определению состава полупроводниковых соединений, и промышленно-санитарной химии (к контролю содержания токсичных веществ) .

Целью изобретения является повышение точности и сокращение продолжительности анализа.

Способ осуществляется следующим образом.

Навеску сплава растворяют по общепринятой методике в кислотах. Аликво- ту раствора, содержащего 1-0,1 мг CdTe разбавляют до 20-25 мл дистиллированной водой если рН раствора близко к 6-7, то добавляют 0,1 М НС1 до кислой реакции) и титруют Те (IV) потенциометрически раствором ДДТК с платиновым или графитовым индикаторным электродом и хлоридсеребряным электродом сравнения. К другой алик- воте раствора, содержащего 1-0,1 мг CdTe, добавляют 2-3 мп 0,5 М аммиач- но-виннокислого буферного раствор-а до , разбавляют водой до 20-25 мл и титруют Cd (II) раствором ДДТК с платиновым или графитовым индикаторным электродом.

Результаты определения состава теллурида кадмия приведены в таблице.

Полученные данные показывают возможность определения малых количеств теллурица кадмия с погрешностью не более 0,8%. Общее время, затрачиваQ1

О1

ч|

&1

КюД

емое на определение обоих компоненто не превышает 15 мин.

Предлагаемый способ прост в исполнении. По сравнению с известным предлагаемый способ позволяет проводить определение двух компонентов полупроводникового сплава CdTe одним методом - осадительным потенцио- метрическим титрованием раствором ДДТК с большой точностью. Время затрачиваемое на анализ составляет 10-15 мин, что значительно меньше продолжительности анализа (1,5 ч) известным способом. Предлагаемый способ характеризуется высокими метрологическими характеристиками. При определении 1 мг CdTe величина Sr 0,4%, а по компонентам не превы-

шает 0,8%. Способ может применяться для оценки стехиометрии полупроводниковых соединений.

Формула изобретения

Способ потенциометрического определения компонентов теллурида кадмия, включающий растворение пробы в кислотах и титрование компонентов, о т- личающийся тем, что, с целью повышения точности и экспресснос- ти анализа, проводят последовательно осадительное потенциометрическое титрование теллура (IV) в кислой среде и кадмия (II) в аммиачно-виннокис- iлой среде раствором диэтилдитиокарба- мината натрия с платиновым или графитовым индикаторным электродом.

Изобретение относится к аналитической химии - к определению состава полупроводниковых соединений и промышленно-санитарной химии, к контролю токсичных веществ. Цель изобретения - повышение точности и сокращение продолжительности анализа. Сущность способа состоит в растворении пробы в кислотах и потенциометрическом осадительном титровании теллура (IY) в кислой среде, а кадмия (II) в аммиачно-виннокислой среде при PH*98 8 раствором диэтилдитиокарбамината натрия с платиновым или графитовым индикаторным электродом. 1 табл.