Способ измерения диэлектрической проницаемости Советский патент 1990 года по МПК G01R27/26 

Изобретение относится к измерениям электрических величин и может быть использовано в приборостроении для контроля диэлектрической проницаемости материала деталей малых размеров и сложной формы.

Целью изобретения является повышение точности Р. упрощение процесса измерения диэлектрической проницаемости образцов малых размеров и (или) сложной формы„

На чертеже представлена установка, реализующая способ,

Установка содержит электродную систему 1 (на чертеже изображена двух- злектродная плоскоконденсаторная из-

мерительная ячейка)s помещенную в бункер 2, в лоторкй засыпается (до 0,8- 0,9 от объема бункера) дисперсная диэлектрическая среда 30

Способ осуществляется следующим образом.

Предварительно в рабочий объем измерительной ячейки (между электродами ) помещают объект 4 измерения. Диэлектрическая проницаемость дисперсной среды 6ас берется заведомо большей,, чем диэлектрическая проницаемость объекта измерения 6OU . Бункер установлен на столе 5 вибростенда. При воздействии вибрации плотность дисперсной среды изменяется: чем

т

&э

больше амплитуда колебаний, тем меньше плотность дисперсной среды. Частоту вибрации подбирают эмпирически для каждой конкретной дисперсной ере- ды из требования создания равномерной плотности в объеме измерительной ячейки.

Таким обраэом, при плавном увеличении амплитуды вибрации плавно уменьшается плотность дисперсной среды, а следовательно, плавно уменьшается ее диэлектрическая проницаемость, Для фиксации момента выравнивания значений б«с и Још на том же столе вибростенда установлен точно такой же второй бункер 6 аналогичной электродной системой 7 и такой же дисперсной средой, но без объекта измерения, момент выравнивания 6qc и Јоц фиксируют по равенству емкостей двух конденсаторных ячеек: с образцом и без образца. Равенство ем 3е

костей ячеек означает, что Јдс сравнялась с 80ц

Размер частиц дисперсной среды берется много меньшим объекта измерения, чем обеспечивается макрооднородность диэлектрической проницаемое- ти дисперсной среды, а также надежное

0

5

Q

заполнение дисперсной средой возмойс- ных полостей, отверстий, углублений и т.п. в объектах измерения сложной формы.

Формула изобретения

Способ измерения диэлектрической проницаемости, заключающийся в помещении контролируемого образца между электродами измерительной конденсаторной ячейки и измерении полученной емкости, отличающийся тем, -что, с целью повышения точности и упрощения процесса измерения диэлектрической проницаемости образцов малых размеров и (или) сложной формы, промежуток между электродами и контролируемым образцом и объем образцовой аналогичной ячейки заполняют диэлектрической дисперсной средой с проницаемостью, заведомо большей проницаемости контролируемого образца, плавно уменьшают диэлектрическую проницаемость дисперсной среды до равенства значений емкости измерительной и образцовой ячеек и исходя из величины емкости образцовой ячейки определяют диэлектрическую проницаемость

Изобретение относится к измерениям электрических величин и может быть использовано для определения диэлектрической проницаемости материалов. Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса диэлектрической проницаемости образцов малых размеров и (или) сложной формы. Способ заключается в том, что объект измерения помещают между электродами измерительной конденсаторной ячейки, заполняют промежуток между электродами и образцом диэлектрической дисперсной средой с проницаемостью, заведомо большей проницаемости объекта измерения, уменьшают диэлектрическую проницаемость дисперсной среды до равенста ее с диэлектрической проницаемостью объекта измерения. Цель достигается за счет введения дисперсной диэлектрической среды, обеспечения плавной регулировки диэлектрической проницаемости дисперсной среды и фиксации равенства диэлектрической проницаемости дисперсной среды и объекта измерения. 1 ил.