Изобретение относится к фотометрии, а более конкретно к технике измерения квантовой.эффективности к поглощенному излучению фотодиодов и фо- тбгапьванических элементов, и может быть использовано в научных исследованиях, связанных с разработкой и аттестацией фотоприемников.
Цель изобретения - повышение точности измерений квантовой эффективности фотоприемников.
На чертеже представлены исследу.е- мый фотоприемник 1,эталонный фотоприемник 2 с единичной квантовой эффективностью поглощенного излучения, поворотный столик 3,эталонные фотоприемники 4 и 5 с единичной квантовой эффективностью поглощенного излучения, образующие ячейку с единичной квантовой эффективностью падающего излучения.
Способ реализуется, например, с помощью представленного на чертеже устройства следующим образом.
Исследуемый фотоприемник 1 и эталонный фотоприемник 2 укрепляются на поворотном столике 3 с фиксированными углами поворота. Фототок измеряется через тот фотоприемник, на который в момент измерений падает монохроматический пучок излучения. Эталонные фотоприемники 4 и 5,образующие фотоэлектрическую ячейку, расположены в пространстве таким образом, что входящий в ячейку пучок претерпевает многократное отражение от поверхнос- , тей фотоприемников 4 и 5, благодаря чему устраняются потери, связанные с отражением, и ячейка обладает единич- ной квантовой эффективностью падаю- щего излучения. При измерениях фото- jg ч1ока ялейки фотоприемники 4 и 5 вклю- в измерительную цепь параллельно.
При первом фиксированном положении столика 3 производится измерение фо- 15 тотоков исследуемого фотоприемника 1Х и ячейки 1р.После поворота столика излучение падает на эталонный фотоприемник 2 и производится измерение фототоков этого фотоприемника Iэ и фо- 20 тоэлекгрической ячейки In , Затем по выражению,проведенному в формуле изобретения;определяется квантовая эффективность ч исследуемого фотоприемника к поглощенному им излуче- 25 нию.
В качестве эталонного фотоприемника и фотоприемников 4 и 5 ячейки могут быть использованы фотоприемники на основе гетероструктуры э: 30 :S C0x-n S rt , обладающей квантовой
эффективностью поглощенного излучени не хуже 0,995 в видимом спектральном диапазоне.
Таким образом, предлагаемый метод не нуждается в проведении измерений абсолютных значений падающего потока излучения, коэффициента отражения от поверхности фотоприемника, что упрощает процесс измерений и приводит к повышению точности.
Пример. Производится измерение квантовой эффективности кремниевого фотодиода. Испытуемый фотоприемник 1 устанавливается на поворотном столике 3 и освещается монохроматическим излучением гелий-неонового лазера так, чтобы отраженный пучок попадал на фотоприемник 4. Производится измерение фототока фотоприемника 1 и фототока ячейки, образованной параллельно включенными фотоприемниками 4 и 5 IRX. Затем столик 3 поворачивают так, чтобы освещался фотоприемник 2. Измеряется фототек 13 эта1- лонного фотоприемника 2 и фототок ячейки 1д . Результаты заносятся в таблицу,и рассчитывается квантовая эффективность фотоприемника 1 по математическому выражению, приведенному в формуле изобретения.
I
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ГРАДУИРОВКИ ФОТОДИОДНЫХ ПРИЕМНИКОВ ПО АБСОЛЮТНОЙ МОЩНОСТИ ПОТОКА ИЗЛУЧЕНИЯ | 2019 |
|
RU2727347C1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КВАНТОВОЙ ЭФФЕКТИВНОСТИ ФОТОДИОДНЫХ ПРИЕМНИКОВ ИНФРАКРАСНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ | 2023 |
|
RU2807168C1 |
КВАНТОВЫЙ ТРАП-ДЕТЕКТОР | 2017 |
|
RU2659329C1 |
Способ поверки чувствительности измерительных фотодиодов | 1987 |
|
SU1497460A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ГРАДУИРОВКИ ФОТОПРИЕМНИКОВ ПО АБСОЛЮТНОЙ МОЩНОСТИ ПОТОКА ИЗЛУЧЕНИЯ | 2020 |
|
RU2746699C1 |
Способ измерения шероховатости поверхности изделия и устройство для его осуществления | 1990 |
|
SU1781537A1 |
СПОСОБ ВОСПРОИЗВЕДЕНИЯ, ПЕРЕДАЧИ И ИЗМЕРЕНИЯ ТЕРМОДИНАМИЧЕСКОЙ ТЕМПЕРАТУРЫ | 2018 |
|
RU2697429C1 |
Способ определения спектральной чувствительности фотоприемника | 1988 |
|
SU1730568A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЛИЧЕСТВА ЧАСТИЦ БИОЛОГИЧЕСКИХ СРЕД И РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ИХ ПО СКОРОСТЯМ | 2009 |
|
RU2387997C1 |
Флуктуационный оптический магнитометр | 2019 |
|
RU2744814C1 |
Изобретение относится к фотометрии, а более конкретно к технике измерения квантовой эффективности фотодиодов и фотогальванических элементов, и может быть использовано при аттестации фотоприемников. Цель изобретения - повышение точности измерений. Суть изобретения заключается в том, что при измерениях фототока, соответствующего поглощенному излучению, и фототока, соответствующего отраженному от измеряемого фотоприемника излучению, в последнем случае используют измерительную фотоячейку с единичной квантовой эффективностью. Такие измерения проводят для исследуемого и эталонного фотоприемников, после чего вычисляют квантовую эффективность *98N исследуемого фотоприемника по математическому выражению, приведенному в формуле изобретения. 1 табл., 1 ил.
52,Ь
3,4 50,8 13,4
40
Формула изобретения Способ измерения квантовой эффективности фотоприемников, заключающийся в том, что освещают исследуемый и эталонный фотоприемники монохромати- 45 ческим пучком излучения, измеряют фототоки этих фотоприемников, возбужденные освещающим пучком, отраженный от исследуемого фотоприемника пучок направляют в измерительную ячейку и CQ измеряют ее фототок, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, при измерении фототока эталонного фотоприемника его устанавливают на место исследуемого, . при помощи ячейки измеряют также фототок, возбуждаемый пучком, отраженным от эталонного фотоприемника, при этом, при измерениях фототоков, в ка86,3
честве измерительной ячейки используют фотоэлектрическое устройство, обладающее единичной квантовой эффективностью к падающему излучению, а в качестве эталонного фотоприемника - фотоприемник, обладающий единичной квантовой эффективностью к поглощенному излучению, а квантовую эффективность к поглощенному излучению исследуемого фотоприемника определяют по формуле
1Й +I3-IR
кэ кх
1Х - фототок исследуемого фотоприемника ;
1Э - фототок эталонного фотоприемника;
LRx и
R - фоготоки ячейки при измерении пучка, отраженного от
Л
Редактор Г.Гербер
Составитель В.Калечиц Техред м. Ходанич
Заказ 1055
Тираж 427
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. А/5
Производственно-издательский комбинат Патент, г.Ужгород, ул. Гагарина,101
исследуемого и эталонного фотоприемников соответственно .
Корректор В.Кабаций
Подписное
Колтун М.М | |||
Оптика и ыетрблогия солнечных элементов | |||
- М.: Наука, 1985, гл.З | |||
Вавилов B.C | |||
Процессы радиационной ионизации в кристаллах германия и кремния | |||
Фальцовая черепица | 0 |
|
SU75A1 |
Авторы
Даты
1990-05-07—Публикация
1987-12-21—Подача