Толщиномер покрытий Советский патент 1990 года по МПК G01B15/02 

Описание патента на изобретение SU1597539A1

I

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения толщины с помощью волновых излучений или потока элементарных частиц, и предназначено преимущественно для измерения толщины различного рода покрытий на узких протяженных участках изделия, например на наружной поверхности ребер жесткости.

Известны толщиномеры покрытий,, включающие установленные на раме источник ионизирующего излучения и детектор отраженного излучения С1 J.

Эти толсу номеры могут быть использованы для большинства практических задач. Однако они неприменимы для измерения толщины покрытия на наружной поверхности ребер жесткости.

Наиболее близким к изобретению является толщиномер покрытий, содержащий раму, установленные в одной плоскости и располагаемые по одну сторону от контролируемого объекта источник ионизирующего излучения со щелевой диафрагмой и детектор со щелевым коллиматором, и регистрирующий прибор, подключенный к детектору 12.

Однако точность измерения толщины покрытия на наружной поверхности ребер жесткости известным толщиномером недостаточна. Это обусловлено тем, что для регистрируемого отраженного излучения информационный вес его компонентов, соответствующих различным участкам контролируемой зоны исследуемого ребра жесткости,, неодинаков, и конструкция рамы не обеспечивает жесткой привязки системы источник - детектор К этой зоне.

СП

CD

сл

со се

3159

Цель изобретения состоит в повышении точности измерения толщины покрытия на наружной поверхности ребер.

Эта цель достигается тем, что в толщиномере покрытий, содержащем раму, установленные в одной плоскости и располагаемые по одну сторону от контролируемого объекта источник иони зирукяцего излучения со щелевой диаф- рагмо й и детектор со щел евым коллиматором, и регистрирующий прибор, под- ключенньй к детектору, щелевой колЛи- матор выполнен в сечении, нормальном центральной оси отраженного потока излучения, в форме центрального сечения двояковогнутой линзы, а рама выполнена с выступом, параллельным большим осям щелевой диафрагмы и щелевого коллиматора.

На фиг.1 изображена схема толщиномера покрытий; на фиг.2 - схема хода квантов излучения источника ионизирующего излучения через диафрагму источ- ника и коллиматор детектора.

Толщиномер покрытий содержит раму 1, установленные в одной плоскости и располагаемые по одну сторону от контролируемого объекта .2 источник 3 ионизирующего излучения со щелевой диафрагмой 4, детектор 5 -со щелевым коллиматором 6 и регистрирующий прибор -7, подключенный к дететору 5. Ще- левой коллиматор 6 выполнен в cette- нии, нормальном центральной оси отраженного потока излучения, в форме центрального сечения двояковогнутой линзы, а рама 1 выполнена с выступо 8, параллельнь1М большим осям щелевой диафрагмы Аи щелевого коллиматора 6.

0

5

0

40

Толщиномер работает следуюищм о б- разом.

Кванты характеристического излу- чения источника (например, серебра с знергией 22,2 кэВ), испускаемые анодом рентгеновской трубки, попадают на объект контроля. Ослабляясь слоем 9 покрытия (например, серебра), проникают вглубь объекта контроля (ребра).

Часть зтих квантов вследствие процесса рассеяния отражается в направлении детектора 5. Отраженное излучение, также ослабляется слоем покрытия 9 и через щель коллиматора 6 поступает на детектор 5. В качестве -материала коллиматора предпочтительнее выбрать медь, так как если выбрать свинец, то при таких энергиях излучения происходит значительное натекание излучения в щель коллиматора за счет Ь-серии характеристического излучения (энергия излучения кэВ).Для меди значение энергии К-скачка поглощения составляе-Г 9 кэК, а L-линии - 1,1 кэВ.

Коллиматор 6 выполняется с увеличением ширины его щели O TI середины к краям таким образом, что проекция 10 сечения коллим атора на детектор имеет форму двояковыпуклой линзы. Вклад отраженного излучения из центру проекции II щелевой диафрагмы на объект 2 контроля в центральную часть проекции 10 максимален, причем в центре проекции 11 интенсивность отраженного излучения, наибольшая , а по краям проек- ции-минимальная. Кроме того, выступ рамы обеспечивает стабильность геометрических условий измерения для любого ребра объекта контроля и для разных его участков.

Похожие патенты SU1597539A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ КАЛИБРОВКИ РАДИОИЗОТОПНЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРИБОРОВ 1972
SU341088A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАЛОУГЛОВОЙ ТОПОГРАФИИ (ВАРИАНТЫ) 1997
  • Комардин О.В.(Ru)
  • Альберт Ф. Лоуренс
  • Лазарев П.И.(Ru)
RU2119659C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАЛОУГЛОВОЙ МАММОГРАФИИ (ВАРИАНТЫ) 1998
  • Комардин О.В.
  • Лазарев П.И.
RU2171628C2
СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ 2011
  • Микеров Виталий Иванович
  • Кошелев Александр Павлович
RU2472138C1
УЛЬТРАМАЛОУГЛОВАЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ ТОМОГРАФИЯ 1998
  • Комардин О.В.(Ru)
  • Лазарев П.И.(Ru)
RU2145485C1
Устройство для измерения толщины покрытия изделия 1983
  • Выстропов Владимир Иванович
  • Капранов Борис Иванович
  • Хрипунов Леонид Захарович
  • Забродский Виталий Антонович
  • Иващенко Владимир Антонович
SU1143970A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАЛОУГЛОВОЙ МАММОГРАФИИ (ВАРИАНТЫ) 1997
  • Комардин О.В.
  • Лазарев П.И.
RU2173087C2
СПОСОБ МАЛОУГЛОВОЙ ИНТРОСКОПИИ И УСТРОЙСТВА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 1997
  • Комардин О.В.
  • Лазарев П.И.
RU2137114C1
Способ измерения толщины стенки прозрачных труб и устройство для его осуществления 1988
  • Евсеенко Николай Иванович
  • Попов Евгений Гурьянович
  • Медник Софья Львовна
SU1522029A1
Радиоизотопное устройство для непрерывного измерения поперечного размера движущегося объекта 1980
  • Бродян Владимир Николаевич
  • Ермолаев Олег Григорьевич
  • Кнорозов Владимир Дмитриевич
SU934209A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 597 539 A1

Реферат патента 1990 года Толщиномер покрытий

Толщиномер покрытий, содержащий раму, установленные в одной плоскости и располагаемые по одну сторону от контролируемого объекта источник ионизирующего излучения со щелевой диафрагмой и детектор со щелевым коллиматором, и регистрирующий прибор, подключенный к детектору, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, щелевой коллиматор выполнен в сечении, нормальном центральной оси отраженного потока излучения, в форме центрального сечения двояковогнутой линзы, а рама выполнена с выступом, параллельным большим осям щелевой диафрагмы и щелевого коллиматора.

Формула изобретения SU 1 597 539 A1

Раг. /

W

иг.г

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1990 года SU1597539A1

Способ восстановления хромовой кислоты, в частности для получения хромовых квасцов 1921
  • Ланговой С.П.
  • Рейзнек А.Р.
SU7A1

SU 1 597 539 A1

Авторы

Недавний Олег Иванович

Даты

1990-10-07Публикация

1983-10-21Подача