Магнитный дефектоскоп Советский патент 1990 года по МПК G01N27/87 

ьнчж

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использо вано при контроле качества ферромагнитных изделий во всех отраслях маши- ностроения.

Целью изобретения является повышение чувствительности за счет увеличения разбаланса моста, обусловленного включением в смежные его пле- чи стабилизаторов тока.

На чертеже показана блок-схема де- фектоскопа.

Дефектоскоп содержит блок 1 намагничивания, мостовую измерительную схему 2 в два идентичных смежных плеча которой включены магнитодиоды 3 и 4, а в два другие - последовательно соединенные регулируемые резисторы 5 и 6 и стабилизаторы 7 и 8 тока, ис- точник 9 питания, подключенный одним выводом к общей точке соединения резисторов ЗиЛ, а другой - к общей точке соединения стабилизаторов 7 и 8.тока, последовательно соединенные дифференциальный усилитель 10, одним входом подключенньй к общей точке соединения магнитодиода 3 и резистора 5, а другим - к общей точке соединения магнитодиода 4 и резистора б, де- тектор 11, пороговый блок 12 и регистратор 13 дефектов

Устройство работает сле дую1цим образом.

Блок 1 намагничивания с размещен- ными между его полюсами магнитодиода- ми 3 и 4 устанавливается на контролируемое изделие (не показано), Разместив магнитодиоды 3 и 4 над бездефектным участком изделия, выполняют урав- новешивание мостовой измерительной схемы, например, с помощью регулируемых резисторов 5 и 6 или регулировкой стабилизаторов 7 и 8, Затем вы- полняют сканирование поверхности кон тролируемого изделия намагничивающим устройством.

при отсутствии дефектов на магнитодиоды 3 и 4 воздействуют только манитные поля рассеяния блока 1 .намаг- ничивания, влияние которых мало при соответствующем выборе положения маг нитодиодов 3 и 4. Равновесие мостово схемы не нарушается, регистратор 13 дефектов не работает,

При появлении дефектов под магни- |тодиодами 3 и 4 на них воздействуют магнитные поля рассеяния. Сопротивление магнитодиодов 3 и 4 изменяется

так как очи включены последовательно со стабилизаторами 7 и 8 тока. Поэтому чувствительность каждого из магнитодиодов не изменяется. Изменение сопротивления любого из магнитодиодов 3, 4 вызьшает разбаланс мостовой схемы. На выходе дифференциального усилителя 10 появляется напряжение, которое затем подается на вход амплитудного детектора 11. Продетект ро- ванное напряжение поступает на вход порогового блока 12, В случае превышения заданного порога (задаваемого цри настройке и соответствующего браковочному уровню сигнала от дефекта) напряжение с выхода порогового блока 12 подается на вход регистратора 13 дефектов, который регистрирует наличие дефекта.

Величина напряжения на входе измерительного моста максимальна в тот момент, когда магнитодиоды находятся симметрично относительно дефекта (они при сканировании контролируемой поверхности последовательно проходят над дефектом), При этом на каждый из них воздействует равное по напряженности, но противоположное по направлению магнитное поле. Сопротивление одного из магнитодиодов возрастает, а другого - уменьшается. Поскольку напряжение питания мостовой .;мы неизменно, то в цепях, состоящих из идентичных последовательно соединенных магнитодиодов 3 и 4, резисторов :5 и 6 и стабилизаторов 7 и 8 тока, изменение сопротивления каждого магнитодиода при неизменной величине тока в цепи вызывает изменение внутреннего сопротивления стабилизаторов 7 и 8 тока. Внутреннее сопротивление стабилизатора 7, включенного последовательно с первым магнитодиодом 3, уменьшается а стабилизатора 8, включенного последовательно со вторым магнитодибдом 4 увеличивается. Поскольку они включены в соседние плечи моста, то это изменение вызывает дополнительный разбаланс мостовой схемы, что равносильно увеличению чувствительности.

Таким образом, снабжение дефектоскопа стабилизаторами тока и включени их в соседние плечи мостовой измерительной схемы, содержащие резисторы, позволяет устранить уменьшение чувствительности магнитодиодов в плечах мостовой схемы При увеличении напряженности магнитных полей дефектов.

5 159

увеличить чувствительность мостовой схемы за счет автоматического изменения сопротивления стабилизаторов в противоположную сторону изменению сопротивлению магнитодиодов, включенных с ними последовательно. Формула изобретения

Магнитный дефектоскоп, содержащий мостовую измерительную схему, в два смежньрс плеча которой включены магни- тодиоды,, а в два другие - резисторы, источник питания, подключенный к об

щей точке плеч с магнитодиодами и общей точке плеч с резисторами, дифференциальный усилитель, подключенный каждым из входов соответственно к об- щей точке одного из магнитодиодов и резистора,, соединенные последовательна детектор, пороговьй блок и регистратор дефектов, отличающий- с я тем, что, с целью повьшения чувствительности контроля, он снабжен двумя стабилизаторами тока, каждый из которых включен в соответствующее плечо мостовой схемы с резистором.

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных изделий. Целью изобретения является повышение чувствительности контроля за счет увеличения разбаланса места, обусловленного наличием в смежных плечах его стабилизатора тока. Цель достигается тем, что дефектоскоп содержит блок 1 намагничивания, мостовую измерительную схему 2, образованную последовательно соединенными параллельными идентичными цепями - магнитодиодами 3,4, резисторами 5,6 и стабилизаторами 7,8, источник 9 питания, подключенный выводами к общим точкам магнитодиодов 3,4 и стабилизаторов 7,8 тока, подключенные к другой диагонали моста последовательно соединенные усилитель 10, детектор 11, пороговый блок 12 и регистратор 13 дефектов. В процессе контроля равновесие мостовой схемы 2 под действием рассеянного поля дефекта нарушается за счет изменения сопротивления магнитодиодов 3,4. Стабилизаторы 7,8 поддерживают величину тока в цепях мостовой схемы постоянной. Внутреннее сопротивление стабилизатора 7 одного плеча уменьшается, а другого - смежного - увеличивается. При этом происходят дополнительные увеличения разбаланса мостовой схемы, а следовательно, и ЭДС, на выходе измерительной диагонали его. 1 ил.