Многолучевой интерферометр Советский патент 1990 года по МПК G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU1610250A1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при разработке спектральных приборов типа спектрографа с высоким спектральным разрешением.

Цель изобретения - расширение функциональных возможностей за счет обеспечения пространственного спектрального разложения излучения.

На чертеже приведена схема многолучевого интерферометра.

Многолучевой интерферометр содержит два светоделительных элемента, каждый из которых выполнен в виде вогнутого сферического полупрозрачного зеркала. Центр Ci кривизны зеркала 1 лежит на поверхности другого зеркала, выполненного рассеченным на два, зеркала 2 и 3, оба зеркала 2 и 3 взаимно развернуты таким образом, что центры С2 и Сз их кривизны не совпадают и лежат на поверхности зеркала

Интерферометр работает следующим образом.

Луч Л, падающий на зеркало 1 интерферометра, распространяется по прямой АВ и частично проходит сквозь зеркало 2 в виде луча n. Отраженная от зеркала 2 часть излучения распространяется по линии BDFGB. Этот путь замкнут, поскольку каждое из зеркал 1-3 отражает падающий на него луч таким образом, что пересечения падающего и отраженного лучей с противоположным свето,делительным элементом симметричны относительно центра кривизны отражающего зеркала. После прохождения пути BDFGB излучение вновь частично проходит сквозь зеркало 2 в виде луча Л2. Процесс обхода излучением зеркал интерферометра повторяется многократно, причем при последующих обходах точка, соответствующая точке G, каждый раз смещается на зеркале 1 на величину 2 Л, где А- расстояние между центрами кривизны Са и Сз зеркал 2 и 3. Таким образом, полное число N лучей, интерферирующих в точке В, ограничено величиной

N,(,)

где D - поперечный разрез зеркала 1.

Разность хода S интерферирующих лучей Л1, Ла, а также последующих лучей, попадающих в точку В, равна с точностью до сферических аберраций

S 4/3 + 2 А Р/р,(2)

где/э-радиус кривизны зеркал;

Р - расстояние от точки В до оси интерферометра, т.е. расстояние ВСь

В выражении (2) первый член суммы соответствует разности хода в интерферометре со сферическими зеркалами. Это член не зависит от направления и положения пада- ющего на интерферометр луча. Второй член суммы зависит от параметра Р, который определяет точку пересечения падающего на интерферометр луча с зеркалом 2. Выделяемая интерферометром длина волны Аопределяется согласно (2) условием

МЯ 4р + .(3)

1аким образом, выделяемая интерферометром длина волны зависит от параметра Р. характеризующего направление и

положение падающего излучения, и при освещении интерферометра излучением с широким угловым распределением происходит пространственное спектральное разложение падающего излучения. При этом на поверхности зеркала 2 формируется развертка спектра излучения.

Разрешающая сила R, получаемая при пространственном спектральном разложении излучения с помощью интерферометра,

определяется выражением

R NM,(4)

где N - число интерферирующих лучей, ограниченное поперечным размером светоделительных элементов;

М - порядок интерференции.

Считая, что получаемьт спектр охватывает один порядок интерференции, найдем величину М через значение Я Яо , отвечающее Р 0;

М 4/9/Ао(5)

где АО - длина волны излучения, выделяемая интерферометром в осевом направлении.

При значении Р D/2 порядок интерференции изменяется по сравнению с Р О на единицу. Отсюда и из (3) вытекает, что А Яр/D.

Соответственно, ограниченное поперечными размерами светоделительных элементов значение N равно

N

D

(6)

Окончательно из (4)-(6) получим значеQ ние разрешающей силы Р -2 Р

А|

(7)

Кроме того, следует учитывать ограничение размера D светоделительного эле- 5 мента, связанное с требованием малости сферических аберраций. Считая., что аберрации не должны создавать при одном обходе зеркал интерферометра дополнительную

разность хода, большую длины волны излучения, получим

D 16ylop (8)

Таким образом, предлагаемый интерферометр позволяет получить пространственное спектральное разложение с разрешающей силой, определяемой по (7), при выполнении условия (8).

Формулаизобретения Многолучевой интерферометр, содержащий два светоделительных элемента, которые выполнены в виде вогнутых сферических полупрозрачных зеркал, уста10 новленных одно относительно другого таким образом, что центр кривизны каждого зеркала лежит на поверхности противоположного зеркала, отличающийся тем. что, с целью расширения функциональных

15 возможностей за счет обеспечения пространственного спектрального разложения излучения, одно из зеркал выполнено рассеченным плоскостью, проходящей через ось интерферометра, на две равные части и обе 20 части зеркала взаимно развернуты таким образом, что центры их кривизны не совпадают.

Похожие патенты SU1610250A1

название год авторы номер документа
Интерферометр для контроля качества оптических систем 1980
  • Кузнецов Алексей Иванович
SU991150A1
МНОГОЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ СФЕРИЧЕСКОЙ ОБОЛОЧКИ 1998
  • Веселов А.В.
RU2159406C2
Многолучевой интерферометр 1983
  • Архипов Виктор Михайлович
SU1154527A1
Двухлучевой фурье-спектрометр 1976
  • Лапшин Владимир Иванович
SU577397A1
СТАТИЧЕСКИЙ ФУРЬЕ-СПЕКТРОМЕТР 2010
  • Белаш Александр Олегович
  • Богачев Дмитрий Львович
  • Сениченков Василий Андреевич
  • Строганов Александр Анатольевич
RU2436038C1
Интерферометр для контроля качества по-ВЕРХНОСТи ОпТичЕСКиХ дЕТАлЕй 1979
  • Бубис Исак Яковлевич
  • Кузнецов Алексей Иванович
SU794362A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ВЫСОКОТОЧНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ОБЪЕКТА 2007
  • Бржозовский Борис Максович
  • Грачев Дмитрий Владимирович
  • Елисеев Юрий Юрьевич
  • Захарченко Михаил Юрьевич
  • Захарченко Юрий Федорович
RU2353925C1
Частотный способ измерения дальности с измерением частоты биений голографической измерительной системой 2021
  • Габриэльян Дмитрий Давидович
  • Демченко Валентин Иванович
  • Караваев Сергей Вячеславович
  • Мусинов Вадим Михайлович
  • Прыгунов Александр Германович
RU2765727C1
Интерферометр для контроля качества оптических деталей 1978
  • Кузнецов Алексей Иванович
SU684296A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР С ОБРАТНО-КРУГОВЫМ ХОДОМ ЛУЧЕЙ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ВОГНУТЫХ СФЕРИЧЕСКИХ И АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ 1979
  • Губель Н.Н.
  • Духопел И.И.
  • Ефимов В.К.
  • Федина Л.Г.
SU786471A1

Реферат патента 1990 года Многолучевой интерферометр

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при разработке спектральных приборов типа спектрографа с высоким спектральным разрешением. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей за счет обеспечения пространственного спектрального разложения излучения. Это достигается путем выполнения одного из сферических зеркал многолучевого интерферометра рассеченным на две части, которые развернуты одна относительно другой таким образом, что центры их кривизны не совпадают на поверхности цельного зеркала. Луч Л, падающий на зеркало 1, распространяется по прямой AB и частично проходит сквозь зеркало 2 в виде луча Л1. Отраженная от зеркала 2 часть излучения распространяется по линии BDFGB. Затем излучение вновь частично проходит сквозь зеркало 2 в виде Л2. Процесс обхода излучением зеркал интерферометра повторяется многократно. При освещении интерферометра излучением с широким угловым распределением происходит пространственное спектральное разложение падающего излучения. При этом на поверхности зеркала 2 формируется развертка спектра излучения. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 610 250 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1990 года SU1610250A1

Connes Р
Journal de Physics et de Radium, 1958, т.19, N; 3, p.262-269.

SU 1 610 250 A1

Авторы

Мазуренко Юрий Тарасович

Даты

1990-11-30Публикация

1988-10-24Подача