| название | год | авторы | номер документа |
|---|---|---|---|
| Устройство для измерения комплексных параметров двухполюсников | 1986 |
|
SU1580282A1 |
| Устройство для измерения параметров рассеяния транзисторов | 1982 |
|
SU1084709A1 |
| Устройство для измерения параметров рассеяния четырехполюсника | 1978 |
|
SU741195A1 |
| Устройство для измерения комплексных у и S-параметров линейных четырехполюсников | 1980 |
|
SU949545A1 |
| Устройство для автоматической настройки компенсации емкостных токов в кабельных сетях с дугогасящим реактором | 1984 |
|
SU1229898A1 |
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ФЕРРОМАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ И ИЗДЕЛИЙ | 1992 |
|
RU2020468C1 |
| Устройство для допускового контроля сопротивления резистора в @ -цепи | 1984 |
|
SU1187108A1 |
| СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЗАДАННОЙ ВЕЛИЧИНЫ ОТРИЦАТЕЛЬНОГО ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ С ВОЛЬТАМПЕРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКОЙ S-ТИПА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 1992 |
|
RU2105989C1 |
| Контрольно-проверочный комплекс | 2020 |
|
RU2755331C1 |
| Устройство для измерения параметров нерезонансных трехэлементных двухполюсников | 1979 |
|
SU894577A1 |
Изобретение относится к технике радиоизмерений и может быть использовано в автоматизированных информационно-измерительных системах измерения и диагностики качества микросхем на высоких частотах. Цепью изобретения L 2 является повышение точности измерения четырехполюсник микросхем на высоких частотах за счет устранения влияния паразитных элементов. Устройство содержит источник 1 ЭДС, векторный вольтметр 2, управляемые ключи 3, 4, 6, 7, 13 и 15, конденсаторы 8, 11, 14, 16 и 22, программный блок 5, резисторы 9, 12, 17 и 18, контактный блок 10, блоки 19 и 20 питания, дроссель 21 высокой частоты. Сигнал переменного тока поступает с выхода источника 1 ЭДС на ключи 3, 4 и опорный вход векторного вольтметра 2. Программный блок 5 осуществляет попеременное подключение резисторов 9, 12, 17 и 18 и конденсаторов 8 и 14 к входам и выходам объекта контроля. По результатам измерений рассчитывается Y-матрица объекта контроля. 1 ил. с ;9 (Я
| Способ определения линейных параметров многополюсника | 1983 |
|
SU1317370A1 |
| Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
| И | |||
| Устройство для измерения параметров рассеяния четырехполюсника | 1978 |
|
SU741195A1 |
| Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
