Устройство для измерения емкости, зашунтированной проводимостью Советский патент 1991 года по МПК G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU1636797A1

Ё

Похожие патенты SU1636797A1

название год авторы номер документа
Способ определения динамических параметров активных четырехполюсников и устройство для его осуществления 1988
  • Биберман Леонид Исерович
SU1642412A1
Устройство для измерения уровня электропроводящих сред 1988
  • Клепиков Владимир Иванович
  • Прохоров Григорий Алексеевич
SU1721442A1
СМЕСИТЕЛЬ ЧАСТОТ 2004
  • Забелин К.А.
RU2266610C1
ЕМКОСТНАЯ МЕРА ДОБРОТНОСТИ 1993
  • Вербицкий Станислав Владимирович
  • Клионский Марк Данилович
RU2084907C1
Измеритель добротности варикапов 1982
  • Усик Виктор Иванович
  • Севастьянов Сергей Борисович
  • Добровольский Петр Порфирьевич
SU1051469A1
ИЗМЕРИТЕЛЬ ПАРАМЕТРОВ ДВУХПОЛЮСНЫХ RLC ЦЕПЕЙ 2012
  • Иванов Владимир Ильич
  • Титов Виталий Семенович
  • Балашов Алексей Вячеславович
RU2499269C1
ИЗМЕРИТЕЛЬ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 2001
  • Филиппов А.Н.
  • Машков А.С.
RU2213934C2
Импульсный стабилизатор постоянного напряжения 1987
  • Кадацкий Анатолий Федорович
  • Будников Олег Вениаминович
SU1580335A1
ДАТЧИК УРОВНЯ И БЛОК ОБРАБОТКИ СИГНАЛОВ ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2005
  • Евтюхин Александр Сергеевич
  • Соловьев Алексей Вячеславович
  • Маврин Михаил Борисович
  • Пуляев Сергей Петрович
RU2298153C2
Универсальный четырехплечий мост перменного тока 1977
  • Агамалов Юрий Рубенович
  • Кнеллер Владимир Юрьевич
  • Будницкая Елена Абрамовна
  • Лукашук Григорий Григорьевич
  • Смоляр Юрий Антонович
SU661363A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 636 797 A1

Реферат патента 1991 года Устройство для измерения емкости, зашунтированной проводимостью

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано в электротехнике, электронике, физике твердого тела, материаловедении. Цель изобретения - повышение точности измерений за счет уменьшения погрешности, обусловленной наличием шунтирующей проводимости, путем компенсации проводимости измеряемого объекта проводимостью противоположного знака. Устройство содержит высокочастотный мост 1, разделительную емкость 2, измерительный блок 5, элемент 6 развязки по частоте, источник 7 смещения, элемент 8 с регулируемой по знаку и величине дифференциальной проводимостью, разделительную емкость 9 второй источник 10 смещения, второй элемент 11 развязки по частоте моста, измерительный блок 12. 4 ил.

Формула изобретения SU 1 636 797 A1

Фаз. 7

О 00

о VJ ю XI

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано в электротехнике, электронике, физике твердого тела и материаловедении.

Цель изобретения - повышение точности измерений за счет уменьшения погрешности, обусловленной наличием шунтирующей проводимости, путем компенсации проводимости измеряемого объекта проводимостью противоположного знака.

На фиг. 1 приведена блок-схема устройства, на фиг.2 - схема включения низкоомного измеряемого объекта и элемента с регулируемой дифференциальной проводимостью (ДП), управляемого напряжением; на фиг.З - зависимости дифферен- циальной проводимости (кривая I), эквивалентной дифференциальной проводимости Сээкв (кривая II) и емкости (кривая III) и эквивалентной емкости Сээкв (кривая IV) от напряжения для элемента с регулируемой дифференциальной проводимостью (тунельного диода ЗИ202И) соответственно.

Устройство содержит высокочастотный мост 1, включенные через разделительную емкость 2 в одно из плеч моста контакты 3 для подключения измеряемого объекта 4, к которым присоединены измерительный блок 5 и через элемент 6 развязки по частоте моста источник 7 смещения. Кроме того, устройство содержит элемент 8 с регулируемой по знаку и величине дифференциальной проводимостью, подключенный через разделительную емкость 9 к присоединительным контактам 3, последовательно соединенные второй источник 10 смещения, второй элемент 11 развязки по частоте моста и второй измерительный блок 12, подключенные к элементу 8.

Анализ эквивалентной схемы подключения низкоомного емкостного объекта и элемента с регулируемой ДП, управляемого напряжением (фиг.2), приводит к следующим выражениям для эквивалентных значений измеряемой емкости С.экв и проводимости Сэ.экв:

г- г ± Ср2 Сэ.экв v

W.3KB - Сх + г , г л

1-Ф2 т .экв

бэ.экв

1 +

(JJ Сэ.экв (Ср2 + Сэ.экв)

---/Чл г -

л ,.ЭКВ

(1)

а (СР2 + Сэ.экв):

GX +

ft/2 Cp2 Сэ.

э.экв

+ OJ2 (Сэ.экв + СР2)2

где СР2 вторая разделительная емкость;

г2

оэ.экв

-(2)

0

Сэ.экв - эквивалентаня емкость элемента (ДП) при установленном напряжении смещения;

Сэ.экв - эквивалентная дифференциальная проводимость элемента (ДП) при установленном напряжении смещения.

Для элемента с регулируемой ДП, управляемого напряжением, значения Сэ.экв и Сэ.экв определяются выражениями

Сэ.экв - Сэ-иС Сз + Сэ)

(1 + R3 Сэ - ft/ 1э Сэ)2 + О (1э Сэ + Рэ Сэ)2

(3)

Сэ.экв

20

Сз (1 + R3 G9) + О R3 CJ

(1 + R3 G3 -ft)2 Ь C3)2 + 0 (U G3 + R3 Сэ):

,(4)

5

0

5

где Сэ - эквивалентная дифференциальная проводимость элемента (ДП);

ш- круговая частота;

Рэ - паразитное сопротивление элемента (ДП);

Ц - паразитная индуктивность элемента (ДП);

Сэ - эквивалентная емкость элемента (ДП).

Анализ выражения (2) показывает, что наиболее широкий диапазон компенсации проводимости GX при заданных параметрах элемента с регулируемой дифференциальной проводимостью достигается при соблюдении следующих условий;

I Сэ.экв I

СР2 Сэ.экв, СР2

О)

(5)

40

При этом, как следует из (1), точность измерения емкости тем выше, чем лучше выполняется условие

5

0

5

СР2

Г2

Ьэ.экв

(6)

ш Сэ.экв

Устройство работает следующим образом,

После подключения измеряемого объекта 4 к присоединительным контактам 3 высокочастотного моста 1 и установления на нем заданного напряжения смещения по измерительному блоку 5 от источника 7 через элемент 6 развязки, определяются некоторые значения емкости и проводимости. Величина напряжения смещения, поступающего от источника 10 через элемент 11 развязки на элемент 8 с изменяемой ДП, регулируется до получения наиболее полной компенсации проводимости измеряемого объекта 4, при этом фиксируются показания моста 1 и измерительного блока

12. По показанию измерительного блока 12 в соответствии с фиг.З, 4 определяются эквивалентные значения дифференциальной проводимости Сэ.экв и емкости Сэ.экв элемента 8, а значение емкости измеряемого обьекта 4 определяется по формуле

г - г-Ср2 Сэ.экв v

UX - V,Ј3KB Г-75 Л

Ср2 + Сэ.экв

1 +

а2.

,экв

ш Сэ.экв (Ср2 + Сэ,экв)

1 +Сээ

(7)

UJ2 (СР2 + Сэ.экв)

Использование предлагаемого устройства для измерения емкостей, зашунтиро- ванных проводимостью, открывает возможности для проведения физических исследований ряда емкостных объектов (р - n-переходов, барьеров Шоттки при положительных напряжениях смещения, ТД и др.), практически ранее недоступных исследований

0

5

0

например определения параметров полупроводниковых материалов методами емкостной спектроскопии и др. Формула изобретения

Устройство для измерения емкости, за- шунтирЪванной проводимостью, содержащее высокочастотный мост, включенные через разделительную емкость в одно из плеч моста контакты для подключения измеряемого обьекта, к которым присоединены измерительный блок и, через элемент развязки по частоте моста, источник смещения, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, оно содержит подключенный к контактам через вторую разделительную емкость элемент с регулируемой дифференциальной проводимостью, к которому присоединены второй измерительный блок и через второй элемент развязки по частоте моста второй источник смещения.

0,8

ФилЗ

Фиг.Ь

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1991 года SU1636797A1

Диоды полупроводниковые
Автомат для отпуска жидкостей 1928
  • Золотарев И.М.
  • Коган М.А.
  • Хмельницкий В.М.
SU18986A1
Переносная печь для варки пищи и отопления в окопах, походных помещениях и т.п. 1921
  • Богач Б.И.
SU3A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1

SU 1 636 797 A1

Авторы

Вайткус Юозас Юозович

Лякас Михаил Аронович

Пранайтис Регимантас Вацловович

Даты

1991-03-23Публикация

1988-03-29Подача