СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЙ В ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫХ МАТЕРИАЛАХ Советский патент 1964 года по МПК G01B11/16 G01N21/17 

Описание патента на изобретение SU163775A1

Известны способы определения напряжений в деталях с отверстиями, изготовленных из оптически активных материалов, которые состоят в том, что в модели изделия сверлят отверстие и рассматривают линии изохром вокруг пего, по которым и судят о напряжениях вокруг отверстия. Однако напряжения в конструкции определяют после сложной математической обработки экспериментальных данных.

Предлагаемый способ отличается от известных тем, что на основе полос изохром, возникающих вокруг малого отверстия, выполняемого в изучаемой детали, определяют главные напряжения, характеризующие напряженное состояние детали. Для этого изготовляют модель изделия из оптически активного материала и в ней в задаппых точках выполняют отверстия возможно меньшего диаметра. По порядкам полос изохром вокруг этих отверстий (в двух или трех характерных точках) подсчитывают главные напряжения в изделии по формуле:

+ а« Я(Г-Яв+0,381|/п

(.

где: Па, П, -порядки полос в характерных точках вокруг отверстия;

Од и Off- главные напряжения для 5изделия в рассматриваемой точке сечения.

Предлагаемый способ упрощает определение напряжений в заданных сечениях изделия..f.#,;fj

0 Для определения напряжений в исследуемом оптически активном материале заранее просверливается отверстие возможно меньшего диаметра. Материал с отверстием «замораживается под нагрузкой. При просвечи5 вании поляризованным светом среза из материала, перпендикулярного к оси отверстия, наблюдается картина изохром, возникающая вокруг отверстия. Картина изохром для разных видов нагрузки сохраняет свою форму. По направлению большего по величине для данной точки главного напряжения поля стд наблюдаются пониженные порядки полос изохром в виде петель. В сечении, перпендикулярном направлению большего главного напряжения, на кромках отверстия наблюдается концентрация напряжений. По осям, составляющим с направлениями главных напряжений угол 45, образуются своеобразные лепестки изохром

По картине изохром вокруг отверстия определяют направления главных напряжений поля.

Неизвестные главные напряжения материала без отверстия стд и а принимают в точке размещения отверстия за средние интенсивности поля напряженного состояния. В этом поле рассматривают концентрацию напряжений около отверстия, характеризуемую полем .изохром. Порядок полос изохром для каладон точки поля около отверстия теоретически определяют через главные напряжения поля. Или наоб-орот, достаточно двух точек около отверстия, в которых известны порядки полос, чтобы определить главные напряжения поля

Практически наиболее целесообразно для вычисления напряжений поля использовать три .характерные точки, отстояш;ие от центра отв рсти-я на расстоянии г 2го и расположенные на направлении главных напряжений поля и на осях, составляющих с нимн угол 45°. Порядки полос изохром в характерных точках: -в точке на направлении действия больщего по абсолютной величине главного напряжения от а на расстоянии г 2го от центра отверстия; Hff -то же, на направлении главного напряжения Off;

Я45 -в точке на расстоянии г 2го от центра отверстия. На направлении, составляющем с направлениями главных .напряжений стд и eg угол 45°, находят методом компенсации. Все работы нроводят на поляризационном микроскопе. Для компенсации применяют

обычный .кварцевый компенсатор. Компенсирующий порядок вводимого кварцевого клина (цвет) просматривается непосредственно через обследуемое отверстие.

Для контроля экспериментальных данных рекомендуется формула: /7д +/7(у 1,05 Я45°. Значения главных напряжений поля сТд и Og находят по формулам, основанным на теоретическом решении Кирща для концентрации напряжений вокруг отверстия в поле равномерно распределенных напряжений.

Предмет изобретения

Способ определения напряжений в оптически активных материалах, включающий определение порядков полос изохром вокруг отверстий, отличающийся тем, что, с целью упрощения определения напряжений в задаиных сечениях изделия, изготовляют его модель, в заданных точках которой выполняют отверстия возможно меньшего диаметра и по порядкам полос изохром вокруг этих отверстий (в трех характерных точках) подсчитывают главные напрял ения в изделии по формуле:

Я -Я«+0,381 Л/ я|5 - -Па) Пс-Па -0,381 1//7 (Пв-Пд) 4

порядки полос в характерных точках отверстия; главные напряжения для изделия в рассматриваемой точке.

Похожие патенты SU163775A1

название год авторы номер документа
Способ исследования термических напряжений, возникающих в твердом материальном теле, поляризационно-оптическим методом на модели из пьезооптического материала при воздействии на нее локального теплового потока с определением теоретического коэффициента концентрации термических напряжений 2015
  • Есаулов Сергей Константинович
RU2621458C1
Способ исследования напряжений и деформаций твердого материального тела поляризационно-оптическим методом на модели из пьезооптического материала при воздействии на нее локального теплового потока 2015
  • Есаулов Сергей Константинович
RU2610219C1
Способ разрушения материального твердого тела при локальном высокоинтенсивном тепловом воздействии на его поверхность 2020
  • Есаулов Сергей Константинович
  • Кукушкин Сергей Сергеевич
  • Светлов Геннадий Валентинович
  • Фокина Наталья Сергеевна
  • Суменков Николай Александрович
RU2756936C1
СПОСОБ РАЗРУШЕНИЯ МАТЕРИАЛЬНОГО ТВЕРДОГО ТЕЛА ПРИ ЛОКАЛЬНОМ ВЫСОКОИНТЕНСИВНОМ ТЕПЛОВОМ ВОЗДЕЙСТВИИ НА ЕГО ПОВЕРХНОСТЬ 2020
  • Есаулов Сергей Константинович
  • Кукушкин Сергей Сергеевич
  • Светлов Геннадий Валентинович
  • Фокина Наталья Сергеевна
  • Суменков Николай Александрович
RU2756998C1
СПОСОБ РАЗРУШЕНИЯ МАТЕРИАЛЬНОГО ТВЕРДОГО ТЕЛА ПРИ ЛОКАЛЬНОМ ВЫСОКОИНТЕНСИВНОМ ТЕПЛОВОМ ВОЗДЕЙСТВИИ НА ЕГО ПОВЕРХНОСТЬ 2020
  • Есаулов Сергей Константинович
  • Кукушкин Сергей Сергеевич
  • Светлов Геннадий Валентинович
  • Фокина Наталья Сергеевна
  • Суменков Николай Александрович
RU2756935C1
Устройство для наблюдения оптической картины в скважинных фотоупругих датчиках 1984
  • Кулаков Григорий Иванович
SU1199939A1
ФОТОУПРУГИЙ ДАТЧИК НАПРЯЖЕНИЙ 2010
  • Семенова Лариса Николаевна
  • Ваганова Валентина Алексеевна
  • Моисеев Сергей Витольдович
  • Кулаков Геннадий Иванович
RU2431115C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНТАКТНЫХ УСЛОВИЙ ВИДА "ПОЛНОЕ СЦЕПЛЕНИЕ" И "ПОЛНОЕ ПРОСКАЛЬЗЫВАНИЕ" В СОПРЯЖЕНИИ СООСНЫХ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ СОВМЕСТНО ДЕФОРМИРУЮЩИХСЯ ЭЛЕМЕНТОВ СОСТАВНОЙ СИСТЕМЫ 1999
  • Курленя М.В.
  • Кулаков Г.И.
  • Гужова С.В.
RU2177142C2
Способ исследования напряженного состояния горного массива на моделях из оптически чувствительных материалов 1987
  • Шик Владимир Михайлович
  • Жариков Евгений Денисович
  • Бедарев Николай Тимофеевич
  • Иевлев Глеб Андреевич
SU1452981A1
Способ определения оптической постоянной оптически чувствительного материала 1984
  • Зайнуллин Закий Лутфуллович
SU1232941A1

Реферат патента 1964 года СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЙ В ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫХ МАТЕРИАЛАХ

Формула изобретения SU 163 775 A1

SU 163 775 A1

Авторы

В. М. Алексеев

Даты

1964-01-01Публикация