Способ определения перемещений на участках контакта Советский патент 1991 года по МПК G01B11/16 

Описание патента на изобретение SU1640536A1

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к способам определения перемещений на участках контакта упругого образца с жесткой прозрачной опорной деталью, и предназначено для определения перемещений, когда контактирование происходит на отдельных выступах поверхности упругого образца.

Цель изобретения - повышение достоверности за счет получения интерферограмм только на участках контакта.

На чертеже представлено устройство, реализующее способ определения перемещений на участках контакта.

Устройство содержит источник 1 когерентного излучения, светоделители 2 и 3, зеркала 4-9, формирователь 10 объектного пучка, формирователь 11 опорного пучка, формирователь 12 дополнительного пучка,

исследуемый объект 13, прозрачную опорную деталь 14 - отражательную призму- ромб или призму Дове, оптическую систему 15 формирования изображения регистрирующую среду 16 и светофильтр 17.

Способ осуществляют следующим образом.

Упругий образец, у которого определяются перемещения на участках контакта, устанавливают между опорными деталями. Нагружают образец, например, сжимающий силой и затем сдвигающей силой и записывают голограмму сфокусированного изображения и отраженный неконтактирующими участками опорной детали второй пучок. При этом пучок света от источника 1 когерентного излучения светоделителями 2 и 3 разделяют на опорный объектный и второй дополнительный пучки соответственно.

О

о ел со о

Опорный пучок через формирователь 11 опорного пучка подают на регистрирующую среду 16. Объектный пучок отражают зеркалом 9 и через формирователь 10 объектного пучка и опорную деталь 14 подают на объект 13. Отразившийся от образца пучок проходит через оптическую систему 15, формирующую изображение объекта в плоскости регистрирующей среды 16. Второй, дополнительный, пучок отражают зеркалом 4 и через формирователь 12 направляют в опорную деталь 14. Второй пучок попадает на контактную поверхность опорной детали 14 под углом, большим угла полного внутреннего отражения. Второй пучок отражается от участков контактной поверхности, не соприкасающихся с образцом, выходит из опорной детали 14, отражается зеркалом 5 через светофильтр 6-8 на регистрирующую среду 16.

Интенсивность второго пучка больше интенсивности предметного пучка, отраженного площадкой контакта, Происходит засветка регистрирующей среды на неконтактирующих участках, голограмма сфокусированного изображения на неконтактирующих участках не регистрируется. Записывается только голограмма сфокусированного изображения контактирующих участков (контактирующих выступов) поверхности обьекта.

Изменяют сдвигающую силу. Записывают вторую голограмму сфокусированного изображения с единичным увеличением и

отраженный неконтактирующими уастка- ми опорной пластины второй пучок. Анализируют полученную голографическую интерферограмму сфокусированного изо- бражения контактирующих участков.

Расшифровка интерферограммы сфокусированного изображения с единичным увеличением проводится так же, как обычной голографической интерферограммы.

Формула изобретения

Способ определения перемещений на участках контакта, заключающийся в том,

что помещают объект на прозрачную опорную деталь, освещают поверхность объекта, находящуюся в контакте с прозрачной опорной деталью, пучком когерентного излучения записывают голограмму сфокусированного изображения поверхности на регистрирующую среду, после приложения нагрузки вновь записывают голограмму сфокусированного изображения на ту же регистрирующую среду, восстанавливают двухэкспозиционную

голограмму и регистрируют интерферограмму, по которой определяют перемещения, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности, поверхность объекта освещают под углом, большим угла

полного внутреннего отражения, дополнительным пучком излучения некогерентным с излучением основного пучка, и направляют отраженную часть дополнительного пучка на регистрирующую среду.

f5

/7

Похожие патенты SU1640536A1

название год авторы номер документа
Способ определения перемещений поверхности объекта 1990
  • Гриневский Андрей Григорьевич
SU1828995A1
Способ определения деформаций диффузно-рассивающих поверхностей деталей 1981
  • Гусев Владимир Георгиевич
  • Копытин Юрий Дмитриевич
SU953456A1
ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ 1992
  • Довгаленко Георгий Евгеньевич
  • Онищенко Юрий Иванович
RU2006791C1
Способ получения интерферограммы для контроля плоскостности прозрачных деталей 1989
  • Гусев Владимир Георгиевич
SU1647215A1
Способ определения формы поверхности объекта 1988
  • Клева Григорий Дмитриевич
SU1562687A1
Голографический способ измерения амплитуды колебаний объекта 1987
  • Гусев Владимир Георгиевич
SU1705706A1
Способ определения компонент вектора перемещения диффузно отражающих микрообъектов и устройство для его осуществления 1988
  • Бахтин Вячеслав Геннадьевич
  • Перк Ольга Николаевна
  • Костюченко Владимир Петрович
  • Глухов Леонид Михайлович
SU1504498A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ ОБЪЕКТА С ОТРАЖАЮЩЕЙ ПОВЕРХНОСТЬЮ 1971
SU309232A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ДИФФУЗНО ОТРАЖАЮЩИХ ОБЪЕКТОВ 2005
  • Большаков Олег Петрович
  • Котов Игорь Ростиславович
  • Майоров Евгений Евгеньевич
  • Майорова Ольга Викторовна
  • Прокопенко Виктор Трофимович
  • Хопов Владимир Викторович
RU2289098C1
СПОСОБ ЗАПИСИ ГОЛОГРАММ 1997
  • Булыгин Федор Владиленович
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Ямников Леонид Сергеевич
  • Маркова Нина Васильевна
RU2107320C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 640 536 A1

Реферат патента 1991 года Способ определения перемещений на участках контакта

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения перемещений на контактирующих поверхностях Целью изобретения является повышение достоверности за счет получения интерферограмм только на участках контакта. Для этого освещают поверхность объекта, находящуюся в контакте с прозрачной опорной деталью, первым пучком когерентного излучения и вторым пучком излучения, некогерентного с излучением первого пучка Второй пучок направляют под углом, большим угла полного внутреннего отражения прозрачной опорной детали, и отраженную часть этого пучка направляют на регистрирующую среду. Записывают го- лог рамму сфокусированного изображения объекта до и после приложения нагрузки Восстанавливая голограмму, получают интерференционную картину на контактирующих участках поверхности 1 ил

Формула изобретения SU 1 640 536 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1991 года SU1640536A1

Моссаковский В.П., Петров В В О влиянии трения на микроскольжение - ДАН СССР, 1976, т
Машина для удаления камней из почвы 1922
  • Русинов В.А.
SU231A1

SU 1 640 536 A1

Авторы

Гриневский Андрей Григорьевич

Даты

1991-04-07Публикация

1989-04-20Подача