СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОФИЛЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ПРИМЕСЕЙ В ПОЛУПРОВОДНИКАХ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ Советский патент 1999 года по МПК G01R31/26 H01L21/66 

Похожие патенты SU1646390A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВ 1989
  • Бобылев Б.А.
  • Марчишин И.В.
  • Овсюк В.Н.
  • Усик В.И.
RU2007739C1
Устройство для измерения концентрации примесей в полупроводниках 1980
  • Усик Виктор Иванович
SU924634A1
Устройство для измерения концентрации легирующих примесей в полупроводниках 1981
  • Усик Виктор Иванович
SU1075333A1
ДВУХЧАСТОТНОЕ ИМПУЛЬСНО-ДОПЛЕРОВСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТРЕВОЖНОЙ СИГНАЛИЗАЦИИ 2015
  • Иванов Владимир Эристович
  • Белов Андрей Геннадьевич
  • Долбилкин Роман Васильевич
  • Тихонов Евгений Николаевич
  • Суслов Алексей Николаевич
RU2594383C1
Устройство для определения концентрации примесей в полупроводниковых образцах 1982
  • Усик Виктор Иванович
SU1128202A1
Устройство для измерения профиля концентрации примесей в полупроводниках 1983
  • Усик Виктор Иванович
SU1150589A1
Способ обнаружения и высокоточного определения параметров морских ледовых полей и радиолокационная система для его реализации 2019
  • Дикарев Виктор Иванович
  • Берлик Сергей Анатольевич
  • Гурьянов Андрей Владимирович
  • Куркова Ольга Петровна
  • Савчук Александр Дмитриевич
RU2710030C1
БИКОРРЕЛОМЕТР 1992
  • Шемагин В.А.
  • Чикин А.И.
  • Горохов К.В.
  • Александров А.А.
RU2022358C1
ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ УГЛА ПОВОРОТА ВАЛА В НАПРЯЖЕНИЕ 1987
  • Счеславский В.П.
  • Грибанов Ю.И.
  • Панченко В.М.
  • Забегаев П.К.
RU2056700C1
КВАНТОВЫЙ СТАНДАРТ ЧАСТОТЫ НА ГАЗОВОЙ ЯЧЕЙКЕ С ЛАЗЕРНОЙ ОПТИЧЕСКОЙ НАКАЧКОЙ 2009
  • Беседина Алла Николаевна
  • Жолнеров Вадим Степанович
  • Тюляков Аркадий Евгеньевич
  • Харчев Олег Прокопьевич
  • Шебшаевич Борис Валентинович
RU2408978C1

Реферат патента 1999 года СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОФИЛЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ПРИМЕСЕЙ В ПОЛУПРОВОДНИКАХ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ

1. Способ определения профиля концентрации примесей в полупроводниках, заключающийся в подаче на полупроводниковый образец напряжения смещения, одновременном освещении полупроводникового образца двумя световыми потоками с частотами f1 и f2 и регистрации возникающих в полупроводниковом образце переменных напряжений с комбинационными частотами f1 + f2 и f1 - f2, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей и повышения точности измерений за счет выявления глубоких уровней примеси и измерения профиля их концентрации, дополнительно регистрируют две ортогональные составляющие суммарной или разностной частоты и по величине квадратурной составляющей напряжения определяют концентрацию глубоких уровней на глубине λ по формуле

где Vго - измеряемая амплитуда квадратурных составляющих напряжений комбинационных частот;
q - заряд электрона;
ε0 - диэлектрическая проницаемость вакуума;
ε - относительная диэлектрическая проницаемость полупроводника;
Q - интенсивность светового потока;
Nм(λ) - концентрация легирующей примеси на глубине λ;
λ - расстояние от поверхности полупроводника до точки пересечения глубокого уровня с уровнем Ферми в квазинейтральном объеме.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения профиля мелкой примеси, регистрируют синфазную составляющую напряжения суммарной или разностной частоты в зависимости от напряжения смещения при постоянной температуре, при которой величина синфазной составляющей напряжения минимальна.

3. Способ по п.1, отличающийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности к глубоким уровням примеси, регистрацию напряжения в зависимости от глубины производят при постоянной температуре, при которой величина квадратурной составляющей максимальна.

4. Устройство для определения профиля концентрации примесей в полупроводниках, содержащее первый и второй генераторы высокой частоты, выходы которых соединены с входами одноименных источников света, оптически связанных с первым и вторым входами световода с полупрозрачным металлическим электродом, установленным на выходе световода, направленного на полупроводниковый образец, изолированный от полупрозрачного металлического электрода и подключенный к выходу источника смещения, первый и второй селективные усилители, входы которых объединены, выход первого селективного усилителя соединен с входом амплитудного детектора, выход которого является первым выходом устройства, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, в устройство введен смеситель, узкополосный фильтр, первый и второй логарифмические усилители, повторитель напряжения, сумматоров, вычитатель, первый и второй синхронные детекторы, первый и второй переключатели, RC-фильтр, линейно регулируемый усилитель, нуль-орган и фазовращатель, а полупроводниковый образец и выход световода помещены в криостат с блоком управления температурой, выход которого является вторым выходом устройства, полупрозрачный металлический электрод через повторитель напряжения подключен к входу второго селективного усилителя, выход которого соединен с первым входом сумматора, выход которого подключен к первым входам синхронных детекторов, первый и второй входы смесителя подключены к выходам первого и второго генераторов высокой частоты, выход смесителя через узкополосный фильтр соединен с вторыми входами синхронных детекторов и первым входом первого переключателя, второй вход которого подключен к шине нулевого потенциала, выход первого переключателя через фазовращатель соединен с информационным входом линейно регулируемого усилителя, выход которого подключен к второму входу сумматора, выход первого синхронного детектора соединен с входом первого логарифмического усилителя, выход которого подключен к первому входу вычитателя и является третьим выходом устройства, выход второго синхронного детектора соединен с первым входом второго переключателя и входом нуль-органа, выход которого через RC-фильтр соединен с управляющим входом линейно регулируемого усилителя и вторым входом второго переключателя, выход которого подключен к входу второго логарифмического усилителя, выход которого соединен с вторым входом вычитателя и является четвертым выходом устройства, выход вычитателя является пятым выходом устройства.

SU 1 646 390 A1

Авторы

Бобылев Б.А.

Добровольский П.П.

Овсюк В.Н.

Усик В.И.

Даты

1999-11-10Публикация

1988-08-05Подача