Устройство для отбраковки радиоэлектронных компонентов по величине теплового сопротивления Советский патент 1991 года по МПК G01R21/02 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для отбраковки радиоэлектронных компонентов по величине теплового сопротивления в процессе их производства или в процессе отбора компонентов для конкретного применения.

Цель изобретения - повышение производительности.

На фиг. 1 представлена функциональная схема устройства для отбра- ковки радиоэлектронных компонентов по величине теплового сопротивления1, на фиг. 2 - временные диаграммы превыгоения температур Д0 (t) исследуемого (t) и эталонного 0,(1:) компоненИС П

тов.

Устройство для отбраковки радиоэлектронных компонентов по величине теплового сопротивления содержит (см. фиг. 1) датчик 1 разности температур, термостат 2, в котором размещены испытуемый 3 и эталонный 4 компоненты, находящиеся в тепловом контакте с датчиком 1 разности температур, источник питания 5, усилитесь 6 термоЭДС и блок 7 регистрации ухода измеряемого параметра за пределы допуска.

о ел

00

Источник питания 5 подключен первым выводом к первым выводам испытуемого 3 и эталонного 4 компонентов, а вторым и третьим выводами - к втопым выводам соответственно испытуемого 3 и эталонного 4 компонентов. Выход датчика 1 разности температуры под- соединен через усилитель 6 термоЭДС к входу блока 7 регистрации ухода из- меряемого параметра за пределы допуска. Датчик 1 представляет собой термоэлектрический преобразователь, .сконструированный по типу вспомогательной стенки. На его плоских по- верхностях расположены несколько тысяч последовательно включенных термопар, обеспечивающих его высокую чувствительность.

Устройство для отбраковки радио- электронных компонентов по величине теплового сопротивления работает следующим образом.

При включении источника питания 5 его выходное напряжение параллельно подается на испытуемый 3 и эталонный 4 компоненты, которые начинают нагреваться. Превышение температур их тепловых центров изменяются в соответст- вии с кривыми Оцеп (t) и 09T(t) (см. фиг. 2). По достижении установившегося теплового режима (через интервал времени, равный 2-3 тепловым постоянным компонентов) превышения температур тепловых центров испытуемого 3 и эталонного 4 компонентов определяются по формулам

9

исп

R,

р 9Эт WP (1

т. исп где Rfilicn тепловое сопротивление

испытуемого компонента 3 RT Эт - тепловое сопротивление

эталонного компонента 4, Г,- - мощность потерь источни

ка 5, от которого нагру- жаются испытуемый 3 и эталонный 4 компоненты. Беря разность выражений (1), имеем

&9 Оисп .иеп

-RT.(2)

У испытуемого 3 и эталонного 4 компонентов одного типономинала при одинаковых температурах корпусов бу

дут примерно одинаковыми и температуры тепловых центров. Наличие же разницы превышения температур &9 (фиг.2) молет быть обусловлено только разниц.

„

0

0

5

цей из тепловых сопротивлений. Причем, так как оба компонента параллельно нагружаются от одного источника питания 5, т.е. мощность потерь РП одинакова для испытуемого 3 и эталонного 4 компонентов, то разность превыиения температур Лбв соответствии с формулой (2) пропорциональна разности тепловых сопротивлений испытуемого 3 и эталонного 4 компонентов. Датчик 1 разности температур вырабатывает термоЭДС, которая после усиления в усилителе 6 подается на блок 7 регистрации ухода измеряемого параметра за пределы допуска. Блок 7 представляет собой пороговое устройство, которое реагирует на величину термоЭДС, превышающую пороговое значение i Unop . Значение |Un0ft определяется допустимым отклонением величины теплового сопротивления ± RT и((1 от заданного значения RT т . Регистрирующим элементом блока 7 может быть реле с напряжением срабатывания, равным Un0p, контакты которого включают либо сигнал (световой, звуковой и т.д.) ухода КТ.ИСР. за пРеДе-ль допуска, либо приводят к срабатыванию простейший автомат, отбраковывающий испытуемый компонент. В самом простейшем случае регистрирующим элементом может служить вольтметр с нулем посредине шкалы, на которой отмечены значения 1иПОр .

Таким образом, предлагаемое устройство позволяет быстрее и проще по сравнению с прототипом без производства необходимых в прототипе вычислений зафиксировать уход величины теплового сопротивления испытуемого компонента за пределы допуска. Использование изобретения в условиях массового производства позволит ускорить и простыми средствами автоматизировать процесс отбраковки радиоэлектронных компонентов по величине теплового сопротивления.

Формула изобретения

Устройство для отбраковки радиоэлектронных компонентов по величине теплового сопротивления, содержащее термостат, в котором размещены испытуемый и эталонный компоненты, находящиеся в тепловом контакте с датчиком разности температур, источник питания, блок регистрации и усилитель

термоЭДС, подключенный входом к выходу датчика разности температур, а выходом - к входу Спока регистрации, источник питания соединен первым выводом к первым выводам испытуемого и эталонного компонент, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности, в нем источник питания снабжен третьим выводом и подключен вторым и третьим выводами к вторым выводам соответственно испытуемого и эталонного компонентов.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для отбраковки радиоэлектронных компонентов по величине теплового сопротивления в процессе их производства или в процессе отбора компонентов для конкретного применения. Цель иэобретения - повышение производительности. В устройстве, содержащем датчик 1 разности температур, термостат 2, в котором размещены испытуемый 3 и эталонный 4 компоненты, находящееся в тепловом контакте с датчиком 1 разности температур, источник питания 5, усилитель 6 термоЭДС и блок 7 регистрации ухода измерительного параметра за пределы допуска, источник питания 5 снабжен третьим выводом и подключен вторым и третьим выводами к вторым выводам соответственно испытуемого и эталонного компонентов. Информация о величине отклонения теплового сопротивления испытуемого компонента 3 подается в виде напряжения на выходе усилителя 6 термоЭДС. Подключение, испытуемого 3 и эталонного 4 компонентов одновременно и к одному источнику питания 5 позволяет повысить производительность измерений. 2 ил. SS (Л

Bit)

Редактор Т.Шагова

Составитель В.Костюхин

Техред М.Моргентал Корректор Н.СамборСкая

Заказ 2432

Тираж 418

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Фиг. 7

Ав

в «nit)

(}

Фиг. 2

Подписное