Способ определения коэффициента отражения материала Советский патент 1991 года по МПК G01R27/06 

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ, может использоваться для измерения коэффициента отражения листовых материалов в свободном пространстве и регулярных волноводах.

Цель изобретения - повышение точности измерений коэффициента отражения материала, коэффициент отражения которого близок к единице.

На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства, реализующего способ определения коэффициента отражения материала

Устройство содержит генератор 1 СВЧ, сферическую передающую антенну 2, первый плоский образец 3 исследуемого материала, помещенный на половине фокусного расстояния передающей антенны 2, второй плоский образец 4 исследуемого материала,

приемную антенну 5, индикатор 6, например панорамный рефлектометр.

Способ определения коэффициента отражения материала реализуется следующим образом.

Колебания генератора 1, пройдя первый интерферометр, образованный передающей антенной 2 и образцом 3, одновременно выполняющим роль коллиматора, проходят к образцу 4, имея плоский фронт волны и многочисленные узкие полосы пропускания. Пройдя через второй интерферометр, образованный образцами 3 и 4. к приемной антенне 5 подойдет плоский фронт волны и спектр с большим свободным спектральным интервалом (расстоянием между полосами пропускания), т.е с мапым числом полос, например одной полосой в диапазоне частот рефлектометра

О

о со ел

4 О

Этот сигнал поступит на индикатор б, где будет произведено измерение ширины отфильтрованной интерферометрии полосы пропускания системы, по которой будет определен коэффициент отражения по форму- ле,

, KgAVd .pcatf-d2 ;

Х1.2-Л2

где R Xi,22 при Xi.2 1 - коэффициент отражения по мощности;

1 1 б Я С (т5- - т-) полоса пропускания;

ЧТ1 Т2

f 1 и fa - частоты на уровне трех децибелл слева и справа от максимума;

d - расстояние между образцами;

РЈ коэффициент отражения материала по напряжению;

Л,-длина волны;

с - скорость света.

Система обладает избирательными свойствами, обеспечивая высокую точность измерений.

Формула изобретения

Способ определения коэффициента от- ражения материала, заключающийся в облучении плоского образца исследуемого материала плоской электромагнитной волной с помощью передающей антенны, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений коэффициента отражения материала, коэффициент отражения которого близок к единице, плоский образец

2 3

исследуемого материала устанавливают на расстоянии, равном половине фокусного расстояния передающей антенны, перемещают плоский образец исследуемого материала вдоль оптической оси передающей антенны до получения максимального отношения сигнал/шум и минимального числа полос пропускания, затем параллельно плоскому образцу исследуемого материала на расстоянии от него, равном нескольким длинам волн, устанавливают дополнительный плоский образец исследуемого материала, перемещают его вдоль оптической оси передающей антенны до получения максимального отношения сигнал/шум и минимального числа полос пропускания, измеряют ширину полосы пропускания по уровню трех децибелл и определяют коэффициент отражения материала по формуле

6 Ipw rdr77.

я

л:(дЯ) Xi.2 -Я2

где R Xi,2 . при Xi.2 1 - коэффициент отражения по мощности;

1 1

(5 А С (т- - т-) полоса пропускания; 41 12

f I, f2 - частоты на уровне трех децибелл слева и справа от максимума:

рЕ - VR- коэффициент отражения материала по.напряжению;

d - расстояние между образцами;

Я - длина волны;

с - скорость света.

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ. Цель изобретения - повышение точности измерений коэффициента отражения (КО) материала, КО которого близок к единице. Для этого колебания СВЧ-генератора 1, пройдя первый интерферометр, образованный передающей антенной 2 и образцом 3, одновременно выполняющим роль коллиматора, проходят по образцу 4, имея плоский фронт волны и многочисленные узкие полосы пропускания. Пройдя через второй интерферометр, образованный образцами 3 и 4, к приемной антенне 5 подойдет плоский фронт волны и спектр с большим свободным спектральным интервалом, т.е. с малым числом полос. Этот сигнал поступает на индикатор 6, где производится измерение ширины отфильтрованной интерферометрами полосы пропускания системы, с помощью которой по формуле определяется КО. 1 ил.