Устройство для измерения шумовых характеристик микросхем Советский патент 1991 года по МПК G01R29/26 

Описание патента на изобретение SU1674020A1

V Т зз - 7 - Л

Похожие патенты SU1674020A1

название год авторы номер документа
Устройство для контроля записи информации в программируемые блоки памяти 1983
  • Борзенков Сергей Иванович
  • Токарев Вячеслав Николаевич
SU1104589A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОВОГО ИМПЕДАНСА ЦИФРОВЫХ КМОП ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ 2012
  • Сергеев Вячеслав Андреевич
  • Панов Евгений Анатольевич
  • Урлапов Олег Владимирович
  • Юдин Виктор Васильевич
RU2504793C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОВОГО ИМПЕДАНСА КМОП ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ 2011
  • Сергеев Вячеслав Андреевич
  • Ламзин Владимир Александрович
  • Юдин Виктор Васильевич
RU2463618C1
Устройство для контроля ориентации микросхем 1987
  • Труфанов Юрий Александрович
  • Кобляков Александр Андреевич
SU1550519A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПЕРЕХОД-КОРПУС ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ПРИБОРА 2009
  • Мальцев Иван Алексеевич
  • Мальцев Алексей Александрович
RU2392631C1
Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем 1986
  • Воинов Валерий Васильевич
  • Ледовской Иван Сергеевич
  • Кругликов Владимир Владимирович
SU1420558A1
Устройство для проверки логических микросхем 1988
  • Норакидзе Константин Георгиевич
  • Зедгинидзе Онисим Васильевич
  • Манукян Георгий Юрьевич
SU1596291A1
Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус цифровых интегральных микросхем 1985
  • Сергеев Вячеслав Андреевич
  • Афанасьев Геннадий Федорович
  • Романов Борис Николаевич
  • Юдин Виктор Васильевич
SU1310754A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПЕРЕХОД-КОРПУС ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ 2014
  • Сергеев Вячеслав Андреевич
  • Тетенькин Ярослав Геннадьевич
  • Юдин Виктор Васильевич
RU2569922C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕХОДНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ 2020
  • Сергеев Вячеслав Андреевич
  • Юдин Виктор Васильевич
  • Ламзин Владимир Александрович
RU2766066C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 674 020 A1

Реферат патента 1991 года Устройство для измерения шумовых характеристик микросхем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле линейных интегральных схем по шумовым характеристикам. Цель изобретения - повышение точности измерений за счет повышения стабильности коэффициента передачи. Устройство содержит контролируемую микросхему 1, узел 2 установки единичного коэффициента усиления, контакты 3 и 4 для подключения выводов питания микросхемы, контакты 5 и 6 для подключения входа и выхода микросхемы, контакты 11 и 12 для подключения источника питания. Введение блока 7 стабилизации, инверсных усилителей 9, 10 тока и узла 8 нагрузок повышает точность задания напряжения питания на контролируемую микросхему 1 и стабильность коэффициента передачи устройства. 2 ил.

Формула изобретения SU 1 674 020 A1

кет:3.i

Фигг

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1991 года SU1674020A1

Валеев Э.Я., Лосновский В.А
О прогнозировании надежности полупроводниковых приборов по импульсным шумам
- Надежность и контроль качества, 1979, Nb 8
Способ обнаружения скрытых дефектов в линейных интегральных схемах 1985
  • Карпов Александр Иванович
  • Андрущенко Анатолий Григорьевич
  • Макаров Юрий Михайлович
  • Леонтьев Валерий Юрьевич
SU1347050A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 674 020 A1

Авторы

Валеев Ульбрус Яхиевич

Зарукин Александр Игоревич

Даты

1991-08-30Публикация

1988-11-11Подача