Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может быть использовано для измерения комплексного коэффициента отражения (ККО) СВЧ устройств.
Цель изобретения - повышение точности.
На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства для реализации способа определения ККО, которое содержит генератор 1, направленный ответ- витель 2, коммутационный фазовращатель 3, регулируемый аттенюатор 4, дополнительный направленный ответвитель 5, исследуемый двухполюсник 6, сумматор 7, измеритель 8 и 9 мощности, коммутатор 10 и блок 11 вычисления и индикации.
Способ определения ККО осуществляется следующим образом,
Регулируемым аттенюатором 4 и коммутационным фазовращателем 3 уравнивают амплитуды и фазы волн в опорном и изме рительном каналах, для чего вместо исследуемого двухполюсника 6 подключают короткозамыкатель Затем регулируемым аттенюатором 4 увеличивают амплитуду волны в опорном канале в 1,5 раза и измерителем 8 измеряют суммарную мощность PI волн опорного и измерительного каналов при I положениях коммутационного фазовращателя 3, 3, при подсоединенном исследуемом двухполюснике 6 При этом для каждого i-ro положения коммутациейо
xj vj СЬ О О
ного фазовращателя переключают коммутатор 10 и измеретелем 9 измеряют мощность Pni падающей на исследуемый двухполюсник 6 волны.
При этом получают три уравнения вида
(Гн)2+К||Гн1со8СРн+ Cilrjsln рн, rfleQi Ni |ОГ I2- ВГГ,
IDi i cos ро |-2 I Bi IcosipBi, I Bf sin pBi-2Ni ID i I sin po ,
Mr 1-Ni, N1Pi
Pm I Ai
; 1,2,3,
I Art, IBi l Dil. рв, po , - модули и фазы обобщенных структурных параметров устройства для определения ККО, А, ВГ, DI : Ai Ai/Ani, ВГ В|/А|, D rBni/Ani ,Ai, Bj. Ani, Bni - структурные параметры устройства для определения ККО, получаемые при его калибровке.
Решение полученной системы дает значения |ГН I И .
Преимуществом способа определения ККО является уменьшение погрешности, вызванной изменением амплитуды падающей волны при изменении фазы коммутаци
0
5
0
5
0
онного фазовращателя 3 за счет рассогласования.
Формула изобретения
1.Способ определения комплексного коэффициента отражения, основанный на разделении сигнала на измерительный и опорный, подаче измерительного сигнала на вход исследуемого двухполюсника, выделении отраженного сигнала, суммировании его с опорным сигналом, измерении мощности суммарного сигнала при различных зна- чениях фазы опорного сигнала и вычислении искомого параметра путем решения системы калибровочных уравнений, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, дополнительно измеряют мощность волны, падающей на вход исследуемого двухполюсника, при тех же значениях фазы опорного канала, а в качестве свободного члена каждого калибровоч- ного уравнения берут отношение суммарной и падающей мощностей при одинаковых значених фазы опорного канала.
2.Способ по п. 1,отличающийся тем, что перед измерением мощностей уравнивают амплитуды и фазы волн опорного и измерительного каналов при подключении вместо исследуемого двухполюсника корот- козамыкателя, после чего амплитуду волны опорного канала увеличивают в 1,5 раза.
Изобретение относится к технике измерений на СВЧ. Цель изобретения - повышение точности. Способ определения комплексного коэффициента отражения основан на разделении сигнале на измерительный и опорный, подаче измерительного сигнала на вход исследуемого двухполюсника (ИД), выделении отраженного сигнала, суммировании его с опорным сигналом измерении мощности суммарного сигнала при различных значениях фазы опорного сигнала и вычислении искомого параметра путем решения системы калибровочных уравнений (КУ). Цель достигается тем, что дополнительно измеряют мощность волны, падающей на вход исследуемого двухполюсника, при тех же значениях фазы опорного канала, а в качестве свободного члена каждого КУ берут отношение суммарной и падающей мощностей при одинаковых значениях фазы опорного канала Перед измерением мощностей уравнивают амплитуды и фазы волн опорного и измерительного каналов при подключении вместо ИД коротко- замыкателя, после чего амплитуду волны опорного канала увеличивают в 1,5 раза. 1 з.п.ф-лы, 1 ил. (Л С
н 7 «
Тишер Ф | |||
Техника измерений на сверхвысоких частотах | |||
- М Гос изд-во физ.-мат | |||
лит.-ры, 1969, с 158- 159 | |||
Авторское свидетельство СССР № 1064771,кл G 01 R 27/04,1982. |
Авторы
Даты
1991-09-15—Публикация
1988-08-01—Подача