пульсной последовательности и операция измерения вольт-секундной площади импульса эквивалентны по достигаемому результату); уровень Ui устанавливают равным уровню деления вольт-секундной площади контролируемой последовательности пополам Us/2, уровень Ui отсчитывают в момент равенства среднего значения напряжения контролируемой последовательности О удвоенной величине среднего значения напряжения последовательности элементов импульсов 2(J2. ограниченных уровнем Ui, а значение обобщенной амплитуды Uo определяют из соотношения -Uo 2Ui. Формула из об р е т е н и я 1. Способ определения обобщенных параметров импульсов, включающий измере.ние вольт-секундной площади S контролируемого импульса, о т л и ч а ю щ ий с и тем, что, с целью повышения точности, измepяЮt вольт-секундную площадь Si элемента контролируемого импульса, ограниченного заданнь м уровнем Ui, и определяют искомые значения обобщенной амплитуды Uo и обобщенной длительности Го импульса по формулам: Uo-Ui -д.; TO - тт- - Uo 2.Способ по п. 1,отличающийся тем, что, с целью упрощения и повышения информативности при определении обобщенных параметров периодической импульсной последовательности, заданный уровень Ui устанавливают равным уровню деления вольт-секундной площади контролируемой последовательности пополам Us/2, а искомое значение обобщенной амплитуды Uo определяют из соотношения Uo 2Ui. 3.Способ по n.2i отличающийся тем, что заданный уровень Ui отсчитывают в момент равенства среднего значения напряжения контролируемой последовательности и удвоенной величине среднего значения напряжения последовательности элементов импульсов 2U2, ограниченных уровнем Ui.
Изобретение относится к технике электрических Измерений и может быть использовано для определения параметров (обобщенной амплитуды, обобщенной дли-тельности) импульсов или периодической импульсной последовательности. Целью изобретения является повышение точности при определении обобщенных параметров импульсов и упрощение при определении обобщенных параметров периодической импульсной последовательности. Цель достигается за счет того, что измеряют вольт- секундную площадь S контролируемого импульса, измеряют вольт-секундную площадь Si элемента контролируемого импульса, ограниченного заданным уровнем Ui, и определяют искомые значения обобщенной амплитуды Uo и обобщенной длительности импульса по формулам: Uo = Ui'S/S-Si; Го = =S/Uo = (S-Si)/Ui. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.^^Изобретение относится к технике электрических измерений и может быть использовано для определения параметров (обобщенной амплитуды, обобщенной длительности) импульсов или периодической импульсной последовательности.Цель изобретения - повышение точности при определении обобщенных параметров импульсов и упрощение при определении обобщенных параметров периодической импульсной последовательности.На фиг.1 приведена временная диаграмма, поясняющая способ применительно к однополюсному импульсу; на фиг.2 - вре- мейная диаграмма, поясняющая способ применительно к периодической импульсной последовательности.Согласно способу для определения обобщенных параметров импульсов необходимо измерить вольт-секундную площадьS контролируемого импульса, вольт-секундную площадь Si элемента контролируемого импульса, не превышающего заданный (по априорной информации об амплитуде импульса) уровень Ui, а также искомые значения обобщенной амплитуды Uo и обобщенной длительности Го по формулам:VJОою ^СА)_ 3 _ S - Si ^^ Uo Ui 'При определении обобщенных параметров периодической импульсной последовательности измеряют среднее значение напряжения несмещенного контролирупмо- го сигнала (операция измерения среднего значения напряжения периодической им-
О ,.f. . г (Го) t
/
Фиг. I
Ц„ 1/о
n,Vi
Сриг.2
