Способ определения электронной температуры плазмы тлеющего разряда Советский патент 1992 года по МПК G01N15/02 

Описание патента на изобретение SU1733975A1

сл С

Похожие патенты SU1733975A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ЗОНДОВОЙ ДИАГНОСТИКИ ПЛАЗМЫ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2012
  • Пузан Андрей Юрьевич
  • Бакумов Алексей Олегович
  • Киржаев Александр Сергеевич
  • Буянов Александр Борисович
  • Чернышев Владимир Анатольевич
  • Иванов Максим Михайлович
  • Горохов Василий Васильевич
  • Карелин Владимир Иванович
RU2503158C1
Способ определения плотности ионного тока на контактирующую с плазмой стенку и устройство для его осуществления 2016
  • Машеров Павел Евгеньевич
  • Пискунков Артур Федорович
  • Рябый Валентин Анатольевич
RU2660465C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛАВАЮЩЕГО ПОТЕНЦИАЛА В ПЛАЗМЕ 2013
  • Абрамов Александр Владимирович
RU2555495C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ 2000
  • Быковский Ю.А.
  • Конюхов И.Ю.
  • Пекленков В.Д.
RU2178156C1
Способ локальной диагностики максвелловской плазмы с помощью одиночного зонда Ленгмюра 2016
  • Рябый Валентин Анатольевич
  • Машеров Павел Евгеньевич
RU2642493C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛА ПЛАЗМЫ 2013
  • Абрамов Александр Владимирович
RU2556298C2
СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ПЛАЗМЫ 1973
  • Н. Л. Колесников, Б. С. Лебедев Е. В. Карташев
SU388221A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ В ПЛАЗМЕННЫХ УСТРОЙСТВАХ 2006
  • Бакумов Алексей Олегович
  • Дубинов Александр Евгеньевич
  • Иванов Максим Михайлович
  • Чернышов Владимир Анатольевич
RU2317659C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НЕЙТРАЛЬНОЙ И ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТ НЕРАВНОВЕСНОЙ ПЛАЗМЫ 2016
  • Мустафаев Александр Сеит-Умерович
  • Грабовский Артем Юрьевич
  • Сухомлинов Владимир Сергеевич
  • Мурильо Хиллер Оскар Габриэль
RU2648268C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ В ПЛАЗМЕННЫХ УСТРОЙСТВАХ 2007
  • Бакумов Алексей Олегович
  • Иванов Максим Михайлович
  • Чернышов Владимир Анатольевич
RU2351101C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 733 975 A1

Реферат патента 1992 года Способ определения электронной температуры плазмы тлеющего разряда

Изобретение касается зондовых методов экспериментального исследования плазмы тлеющего разряда в газах и может быть использовано для диагностики стационарной низкотемпературной плазмы. Цель изобретения - упрощение определения электронной температуры в стационарном состоянии плазмы. Цель изобретения достигается изменением величины потенциала гальванически изолированного одиночного зонда. Согласно способу измеряют токи зонда при положительном и отрицательном изменении потенциала зонда относительно плавающего потенциала плазмы, а электронную температуру определяют по формуле,приведенной в описании. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 733 975 A1

Изобретение относится к зондовым методам экспериментального исследования плазмы тлеющего разряда в газах и может быть использовано для диагностики стационарной низкотемпературной плазмы.

Цель изобретения - упрощение определения электронной температуры в стационарном состоянии плазмы.

Цель изобретения достигается изменением относительно плавающего потенциала плазмы величины потенциала гальванически изолированного одиночного зонда.

Одиночный зонд изолируют с помощью разделительного конденсатора, причем общую емкость С зонда и разделительного конденсатора определяют из условия

С(Ф),

где I - максимальная абсолютная величина тока зонда при положительном или отрицательном изменении его потенциала, А;

AV - абсолютная величина изменения потенциала, соответствующая I, В;

t - длительность изменения потенциала. С.

На чертеже представлена вольт-амперная характеристика зонда и величины, определяемые в процессе диагностики плазмы.

Н а чертеже показаны следующие величины: Vo плавающий потенциал плазмы; V0 + .AV - потенциал зонда при его положительном изменении; V0- A V - потенциал зонда при его отрицательном изменении; 11 - ток зонда при положительном изменении потенциала; i - ток зонда при отрицательном изменении потенциала.

Способ реализуют следующим образом.

Вначале определяется плавающий потенциал плазмы V0, при котором ток зонда равен 0. Затем измеряются токи зонда И и 12 при положительном +V и отрицательном

1 со

Сл)

о

v| СЛ

-V изменении потенциала зонда относительно плавающего потенциала плазмы.

Электронная температура определяется по формуле

Te-2AVJ|-t-| ,{эВ),

где - абсолютная величина изменения потенциала, В;

И - ток зонда при положительном изменении потенциала, А;

2 - ток зонда при отрицательном изменении потенциала, А.

Формула изобретения Способ определения электронной температуры плазмы тлеющего разряда, заключающийся в том, что в плазму вводят одиночный зонд, изменяют электрический потенциал зонда, измеряют его ток, отличающийся тем, что, с целью упрощения определения электронной температуры в стационарном состоянии плазмы, одиночный зонд гальванически изолируют с по0

5

мощью разделительного конденсатора, при этом общую емкость С зонда и разделительного конденсатора определяют из условия

).

где I - максимальная абсолютная величина тока зонда при положительном или отрицательном изменении его потенциала, А;

Д V -- абсолютная величина изменения потенциала, соответствующая I, В:

t - длительность изменения потенциала. С,

а электронную температуру оперделяют по формуле

И +12

Те 2ДУ

(эВ),

12-И

где Д V - абсолютная величина изменения потенциала, В;

I, - ток зонда при положительном изме- 0 нении потенциала, А;

2 - ток зонда при отрицательном изменении потенциала, А.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1992 года SU1733975A1

Методы исследования плазмы/Под ред
В
Лохте - Хольтгревена
М.: Мир, 1971, с
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ХЛОРИСТОГО БАРИЯ ИЗ ТЯЖЕЛОГО ШПАТА 1923
  • Будников П.П.
SU480A1

SU 1 733 975 A1

Авторы

Кубарев Юрий Васильевич

Коленько Петр Владимирович

Ковалев Евгений Федорович

Росинский Станислав Ефимович

Флоридов Александр Александрович

Черник Владимир Николаевич

Даты

1992-05-15Публикация

1988-05-18Подача