Ток утечки (мкА)
Продолжение таблицы
| название | год | авторы | номер документа |
|---|---|---|---|
| Способ отбраковки оксидно-полупроводниковых конденсаторов | 1979 |
|
SU942183A1 |
| Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком | 1980 |
|
SU930406A1 |
| Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком | 1981 |
|
SU997113A1 |
| СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОКСИДНО-ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КОНДЕНСАТОРОВ | 1993 |
|
RU2069405C1 |
| СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА КОНДЕНСАТОРОВ С ДВОЙНЫМ ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ СЛОЕМ | 2009 |
|
RU2406176C1 |
| Устройство для измерения параметров полупроводниковых вентилей | 1980 |
|
SU920586A1 |
| СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОКСИДНЫХ КОНДЕНСАТОРОВ | 1989 |
|
RU1695770C |
| СПОСОБ ОТБРАКОВОЧНЫХ ИСПЫТАНИЙ ПОДЛОЖКИ ИЗ ДИЭЛЕКТРИКА ИЛИ ПОЛУПРОВОДНИКА С ТОПОЛОГИЕЙ, ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ НА СТОЙКОСТЬ К ВНЕШНИМ ВОЗДЕЙСТВУЮЩИМ ФАКТОРАМ | 1998 |
|
RU2138830C1 |
| СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА КАТОДОВ ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВЫХ ТРУБОК | 1994 |
|
RU2065635C1 |
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА КОМПАУНДИРОВАНИЯ ОБМОТОК ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАШИН | 2012 |
|
RU2522177C2 |
Изобретение относится к радиоэлектронной технике и может использоваться при производстве конденсаторов с оксидным диэлектриком. Цель изобретения - снижение трудоемкости. Источник 1 постоянного напряжения (ИПН) включен последовательно с испытуемым конденсатором (ИК) 2, резистором 3 и кнопкой 4. шунтирующей микроамперметр (М) 5. Новым в способе является набор напряжения ИПН 1, равным величине номинального напряжения ИК 2, и выбор номинала резистора 3 из условия получения величины постоянной времени цепи заряда ИК 2 в пределах 0,01 - 0,1 с В качестве аномального вида зависимости параметров заряда ИК 2 от времени .заряда использована зависимость превышения величины тока заряда, измеренного спустя 2 с, после выдачи напряжения ИПН 1 на ИК 2 над величиной предельно-допустимого значения тока утечки для данного типа конденсатора Ток утечки измеряют М5 (через 2 с), нажав кнопку 4 Измеренное значение тока сравнивают с табличным для данного типойоминала конденсатора и бракуют ИК 2. если его ток больше табличного
Формула изобретения СПОСОБ ОТБРАКОВКИ КОНДЕНСАТОРОВ С ОКСИДНЫМ ДИЭЛЕКТРИКОМ, включающий подачу нарастающего напряжения от источника постоянного напряжения на испытуемый конденсатор, соединенный последовательно с источником постоянного напряжения через резистор, и отбраковку конденсаторов по аномальному виду временной зависимости параметров заряда, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости, величину напряжения источника постоянного напряжения выбирают равной величине
номинального напряжения испытуемого конденсатора, величину номинала резистора выбирают из условия получения величины постоянной времени цепи заряда конденсатора в пределах 0,01 - 0,1 с, а в качестве аномального вида зависимости
параметров заряда от времени заряда используют зависимость с превышением величины тока заряда конденсатора, измеренного через 2с после подачи нарастающего напряжения йд испытуемый конденсатор, над величиной предельно допустимого значения тока утечки для данного типа конденсатора.
