Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком Советский патент 1983 года по МПК H01G9/00 

Изобретение относится к радиоэлектронной технике и может быть использовано в производстве конденсаторов с оксидным диэлектриком. Известен сГгособ испытаний конденсаторов с оксидным диэлектриком, заключающийся в измерении дисперсии тока заряда (или разряда) при подаче медленно возрастающего напряжения или синусоидсшьного напряжения инфразвуковых частот 1. Конденсаторы разбраковывают- по величине отклонения от среднего значения измеряемого тока b данной выборке. Недостатком данного спо соба является очень низкая чувствительность , что делает этот способ применимым для конденса;торов системы металл-оксид-металл. Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ отбраковки конденсаторов с оксид ным диэлектриком, включающий измерение тока утечки L23, Конденсатор считается годным, если величина измеряемого тока мень ше величины, нормированной техническими условиями для данного типа конденсаторов. Считается при этом, что чем меньше ток утечки конденсатора, тем более он надежен в эксплуатации. Поэтому для особоответственной аппаратуры из готовых изделий делецот выборку конденсаторов с минимальными TOKaiIra утечки. На практике, однако, даже в этом случае некоторые конденсаторы при эксплуатации быстро выходят из строя. Цель изобретения - повышение точности отбраковки. Цель достигается тем, что согласно способу отбраковки конд ецсаторов с оксидным диэлектриком, включающему измерение тока утечки, одновременно с измерение тока утечки измеряют флуктуацию его, а отбраковку конденсаторов производят по аномальному значению флуктуации тока утечки. Пример. Конденсаторы танта ловые типа К52-1 номинала 100 В 3,3 мкф в количестве 24 шт. после изготовления разбраковываются по вели чине тока утечки обычным способом; на конденсатор подается рабочее напряжение 100 В и измеряется ток утечки. Все конденсаторы признанЬ годными, так как величина тока утечки у всех конденсаторов меньше 1 мкА. Затем эти конденсаторы разбраковываются по предлагаемому спо собу: на конденсатор подается номинальное (рабочее) напряжение 100.В и измеряется, величина тока утечки и его флуктуации. Спектр флуктуации изучается с помощью анализатора, позволяющего проводить изучение спектра сразу в двухстах равноотстоящих точках. Измеренные вели чины усредняются в режиме накопле ния (линейного или экспоненциального ) с помощью многоканального нако.пителя за время 2 мин. Обнаружено, что на двух конденсаторах из всех измеренныхфлуктуации тока зйачительно (свыше 10 раз } больше, чем на остапьнЕлх, при этом по величине тока утечки все конденсаторы удовлетворяют, требованиям технических условий. Испытания на надежность показывают, что ток утечки конденсаторов, имеющих аномально большое зна чение флуктуации тока, растёт в процессе испытания/, а у -остальных конде саторов - падает.

Предлагаемой способ отбраковки конденсат .роВ «о- оксидным диэлектриком позволяет повысить достоверност указанной операции, так как одновре-v

Менно с отбраковкой явно дефектных конденсаторов выявляются изделия, потенциально ненадежные при эксплуатации.

При этом можно без дополнительных 3атрат времени проводить разбраковку всех изготавливаемых конденсаторов по качеству диэлектрической изоляции.

° Формула изобретения

Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком, включающий измерения тока утечки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности отбраковки, одновременн с измерением тока.утечки измеряют флуктуацию тока ут(, а отбраковку конденсаторов производят по аномальному значению флуктуации тока утечки.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе , 1. Патент Японии 47-49660, кл. 59 Е 3122, 13.12.72.

2. Закгейм Л.Н. Электрические конденсаторы. М.-Л., Госэнергойздат, 1963, с. 272 (прототип).