Способ определения форм колебаний поверхности Советский патент 1992 года по МПК G01H9/00 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле форм колебаний вибрирующих объектов.

Известен способ определения форм колебаний изделий, сущность которого заключается в том. что в конструкции возбуждают резонансные колебания, регистрируют параметры резонанса (частоту и амплитуду) с помощью датчика, сигнал с которого подают на осциллограф. После этого находят узловые линии, по расположению которых определяют форму колебаний. Для нахождения узловых линий испытуемую конструкцию заряжают электростатическим зарядом равномерной плотности, на поверхности конструкции наносят сыпучий материал, частицы которого удерживаются силами электростатического притяжения, изменяют

заряд до появления четкой картины узловых линий, которая получается вследствие осыпания частиц порошка в местах пучностей.

Недостатком данного способа является возможность определения форм колебаний только плоских поверхностей

Наиболее близким к изобретению является способ определения форм колебаний поверхности, заключающийся в освещении пучком света исследуемой поверхности, заключающийся в освещении пучком света исследуемой поверхности и определении формы колебаний с использованием жидкого индикатора, который наносят на всю исследуемую поверхность, регистрируют интенсивность отраженного от него пучка света, о определение формы колебаний осуществляют по распределению интенсивности в отраженном пучке.

VJ VJ

ю

С СО OJ

Недостатком данного способа являетсяСпособ осуществляется следующим обсужение класса исследуемых форм колеба-разом.

ний, так как не исследуются колебания, вы-На исследуемую поверхность наносят

званные импульсными нагрузками. Этоиндикатор в виде диффузно-отражающего

объясняется применением жидкого индика-5 слоя. Поверхность 2 освещают равномертора.но пучком света от источника света. ОтраЦель изобретения - расширение классаженный пучок света принимают дискретно

исследуемых форм колебаний за счет коле-по длине поверхности линейкой фотоприбаний, вызванных импульсными нагрузка-емников с узким полем зрения до воздейми.10 ствия колебаний (см.фиг. 1 а) и фиксируют

Это достигается тем, что в способе оп-значения величин сигналов с каждого фоределения форм колебаний поверхности,топриемника линейки 4 на регистраторе 5

заключающемся в том, что наносят на исс-(см.фиг.2 а).

ледуемую поверхность индикатор, освеща-При воздействии с источника б колебэют ее пучком света, регистрируют15 ний на исследуемую поверхность 2 происхораспределение интенсивности отраженно-дит изменение формы поверхности 2. что

го света и по распределению определяютприводит к изменению интенсивности оевеформу колебаний, дополнительно на иссле-щения отдельных фотоприемников линейки

дуемую поверхность наносят индикатор в4 фотоприемников (см.фиг. 16). При этом при

виде тонкого диффузно-отражающего слоя,20 отражении от вогнутости исследуемой порегистрацию отраженного излучения про-верхности 2 интенсивность света еозрастаизводят дискретно по длине поверхности вет, а при отражении от выпуклости нескольких точках в малом телесном угле,уменьшается, это происходит из-за свойств

регистрируют интенсивность излучения извогнутой и выпуклой поверхности,

этих точек до возбуждения колебаний и so25 С выходов линейки 4 фотоприемников

время колебаний, и по разности этих сигна-сигналы фиксируются на регистраторе 5.

лов определяют форму колебаний.Величины сигналов будут больше или меньНа фиг. 1 показана схема устройства, ре-sue опорного сигнала (линия а, фиг.2) в эави- ализующего предлагаемый способ (а - досимости от наличия вогнутости или воздействия возбуждающей силы; б - при ее30 выпуклости поверхности. Эти величины сиг- воздействии на поверхность); на фиг.2 - ди-налов наносят на график, точки соединяют- аграмма зависимости сигналов на выходеся линией, образуется форма колебаний фотоприемников от длины поверхности (а -исследуемой поверхности (см. фиг.2б). до возбуждения колебаний; б - в моментИспользование изобретения позволяет колебаний).35 расширить класс исследуемых форм колебаУстройство содержит источник 1 света.ний за счет колебаний, вызванных импульс- равномерно освещающий исследуемую по-нымм нагрузками, верхность 2, на которую нанесен индикатор

3 в виде диффузно-отражающего слоя, ли-Формула изобретения нейку 4 фотоприемников, регистратор 5, ис-40 Способ определения форм колебаний точник б колебаний, причем отраженный отповерхности, заключающийся в том, что на- исследуемой поверхности 2 пучок света оп-носят на исследуемую поверхность индика- тически связан по всей длине с динейкой 4тор, освещают ее пучком света, фотоприемников, имеющих узкое поле зре-регистрируют распределение интенсивно- ния. Выходы линейки 4 фотоприемников яв-45 сти отраженного света и по распределению ляются входами регистратора 5.определяют форму колебаний, о т л и ч а га- Индикатор 3 а виде диффузно-отражаю-щ и и с я тем, что, с целью расширения щего слоя может быть нанесен или путемкласса исследуемых форм колебаний за счет наклейки ленты на исследуемую поверх-колебаний, вызванных импульсными на- ность 2, или путем обработки исследуемой50 грузками, на исследуемую поверхность на- поверхности 2 абразивным порошком, илиносят индикатор в виде тонкого диффузно нанесением на исследуемую поверхность 2отражающего слоя, регистрацию отражен- диффузно-отражающего слоя краски.кого излучения производят дискретно по

Применение индикатора в виде диффуз-длине поверхности в-нескольких точках в

но-отражающего слоя позволяет опреде-55 малом телесном угле, регистрируют интенлять форму колебаний поверхностей,сивность излучения из этих точек до возбужрасположенных в любом положении отно-дения колебаний и во время колебаний, и по

сительно горизонта, а также имеющих кри-разности этих сигналов определяют форму

волинейную поверхность.колебаний.

Л j i . АУ А

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле форм колебаний вибрирующих объектов. Цель изобретения - расширение класса исследуемых форм колебаний за счет колебаний, вызванных импульсными нагрузками Поверхность освещают равномерно, а отраженный пучок света принимают дискретно по длине поверхности до воздействия колебаний и фиксируют значения величин сигналов с каждого фотоприемника. При воздействии колебаний на исследуемую поверхность происходит изменение формы поверхности, что приводит к изменению интенсивности освещения отдельных фотоприемников. При отражении от вогнутости исследуемой поверхности интенсивность света возрастает, а при отражении от выпуклости - уменьшается. Величины сигналов наносят на график, точки соединяются линией, образуется форма колебаний исследуемой поверхности. Использование изобретения позволяет расширить класс исследуемых форм колебаний за счет колебаний, вызванных импульсными нагрузками. 2 ил. ё

А А А Л А А /р А

j i i i t I i

i t i

7k , , t V 4 .

I

J

i i i i i i r4

t т Т Т Ф Т i i i i i i t

i i i i i i

u,

опор

jL

I

J

i r