Способ измерения диаметров малых отверстий Советский патент 1992 года по МПК G01B11/12 

Цель изобретения - повышение точности и производительности измерений.

Цель достигается тем, что перед установкой детали размещают на столике оптического прибора прозрачную пластину с растровой шкалой и совмещают один из центральных штрихов растровой шкалы с визирной линией прибора, устанавливают деталь на прозрачной пластине, наблюдают в поле зрения прибора изобретения штрихов растровой шкалы, отраженные от поверхности измеряемого отверстия, выбирают из совокупности наблюдаемых штрихов прямолинейный штрих, совмещают его с визирной линией прибора и определяют диаметр отверстия вдоль выбранного штриха. На фиг. 1 изображена принципиальная схема оптического прибора, реализующего предлагаемый способ; на фиг. 2 - вид совокупности изображений штрихов, наблюдаемых в поле зрения оптического прибора.

Оптический прибор содержит источник света 1, конденсор 2, столик 3, на котором размещают прозрачную пластину 4 с растровой шкалой 5 и деталь б с измеряемым отверстием 7, визирную сетку 8 и окуляр 9. Способ измерения диаметров малых отверстий осуществляется следующим образом.

На столик 3 оптического прибора, например, универсального или инструментального микроскопа, размещают прозрачную пластину 4 с растровой шкалой 5 с мелким шагом, например, 20 мкм, таким образом, чтобы один из центральных (серединных) штрихов, шкалы 5 был совмещен с визирной линией визирной сетки 8. Это обеспечивает совмещение штрихов растровой шкалы 5 пластины А с линией измерения прибора. После этого на пластину 4 устанавливают деталь 6 с измеряемым отверстием 7, при этом в поле зрения окуляра 9 появляются отраженные изображения штрихов растровой шкалы 5 (фиг. 2).

Это связано с тем, что, как правило, прецизионные отверстия имеют высокое качество обработки цилиндрической поверхности отверстия, благодаря чему такая поверхность имеет хорошие отражательные свойства. Поэтому от цилиндрической поверхности отверстия 7 (но не от фаски отверстия) отражаются штрихи растровой шкалы 5, при этом проявляется важное свойство: если штрих шкалы 5 лежит в диаметральном сечении отверстия 7, то штрих отражается без искривления; если штрих незначительно смещен относительно диаметрального сечения отверстия 7, то изображение штриха искривлено в поле зрения, причем форма и величина искривления зависят от того, с какой стороны и на каком удалении лежат штрихи относительно диаметрального сечения, что позволяет точно и легко совместить центральный штрих

растровой шкалы 5 с диаметральным сечением отверстия 7, так как во-первых, штрих, совмещенный с диаметральным сечением отверстия 7, отражается от поверхности отверстия 7 без искажения его формы, т.е.

прямолинеен, во-вторых, по обе стороны от этого штриха лежат штрихи, концы которых изогнуты симметрично в разные стороны, что облегчает оценку именно того одного штриха, который совмещен с диаметральным сечением отверстия 7. После этого пластину 4 с деталью 6 перемещают таким образом, чтобы прямолинейный отраженный штрих растровой шкалы 5 совместился с визирной линией сетки 8, затем производят измерение диаметра отверстия 7 вдоль прямолинейного штриха шкалы 5.

Данный способ измерения диаметров малых отверстий обеспечивает повышение точности измерений за счет того, что штрихи отражаются от цилиндрической поверхности отверстия, а не от его кромки, а совмещение линии измерения с диаметральным сечением производится по объективному критерию: по форме отраженных

штрихов. При необходимости точность измерения диаметра отверстий может быть повышена за счет применения растровых шкал с более мелким шагом. Центрирование по растро.вой шкале позволяет повысить

производительность измерений,

Формула изобретения Способ измерения диаметров малых отверстий при помощи оптического прибора,

заключающийся в том, что устанавливают деталь с измеряемым отверстием на столик оптического прибора, находят диаметральное сечение отверстия, совмещают с ним визирную линию прибора и определяют диаметр отверстия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности измерений, перед установкой детали размещают на столике оптического прибора прозрачную пластину

с растровой шкалой и совмещают один из центральных штрихов растровой шкалы с визирной линией прибора, устанавливают деталь на прозрачной пластине, наблюдают в поле зрения прибора изобретения штри5 хов растровой шкалы, отраженные от поверхности измеряемого отверстия, выбирают из совокупности наблюдаемых штрихов прямолинейный штрих, совмещают его с визирной линией прибора и определяют диаметр отверстия вдоль выбранного штриха

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машино- и приборостроении при изготовлении миниатюрных подшипников, часовых камней, фильер и т.п. Цель изобретения - повышение точности и производительности измерений. На станке оптического прибора, например микроскопа, размещают прозрачную пластину с растровой шкалой и совмещают один из центральных штрихов шкалы с визирной линией прибора. Затем на пластину устанавливают деталь с измеряемым Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении и приборостроении, преимущественно при изготовлении миниатюрных подшипников, часовых камней, фильер и т.д. Известен способ измерения диаметров малых отверстий при помощи оптического прибора, заключающийся в том, что устанавливают деталь с измеряемым отверстиотверстием и наблюдают в поле зрения прибора изображения штрихов растровой шка- лы, отраженные от поверхности измеряемого отверстия. Если штрих шкалы лежит в диаметральном сечении отверстия, то он отражается без искривления, т.е. его изображение остается прямолинейным, если штрих смещен относительно диаметрального .сечения отверстия, то изображение штриха искривлено в поле зрения, причем форма и величина искривления зависят от того, с какой стороны и на каком удалении относительно диаметрального сечения расположены штрихи. Совмещают прямолинейный отраженный штрих растровой шкалы с визирной линией прибора и определяют диаметр отверстия вдоль прямолинейного штриха. Повышение точности измерений достигается за счет того, что штрихи отражаются от цилиндрической поверхности изделия, а не от его кромки, а совмещение линии измерения с диаметральным сечением производится по объективному критерию: по форме отраженных штрихов. Центрирование по растровой шкале позволяет повысить точность измерений. 2 ил. ем на столик оптического прибора, находят диаметральное сечение отверстия, совмещают с ним визирную линию прибора и определяют диаметр отверстия. Недостатками известного способа являются невысокая точность измерений из-за кривизны цилиндрической поверхности отверстий, большая трудоемкость процесса измерений, обусловленная сложностью поиска диаметрального сечения отверстия. fe Ы vj СЛ О СО о CJ

|у у / / ZL