Способ определения оптимальных характеристик пищевых продуктов и устройство для его осуществления Советский патент 1993 года по МПК G01N33/02 

Описание патента на изобретение SU1809381A1

JZ

S

/

Похожие патенты SU1809381A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ОБЛУЧЕННОСТИ ДИСПЕРСНЫХ ПИЩЕВЫХ МАТЕРИАЛОВ 2007
  • Филатов Владимир Владимирович
  • Агломазов Алексей Львович
RU2380006C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНОЙ ИЗЛУЧАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ ДИСПЕРСНЫХ ПИЩЕВЫХ ПРОДУКТОВ 2009
  • Филатов Владимир Владимирович
RU2409298C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНОЙ ПОГЛОЩАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ ДИСПЕРСНЫХ ПИЩЕВЫХ ПРОДУКТОВ 2009
  • Филатов Владимир Владимирович
RU2405396C1
УСТАНОВКА ДЛЯ ТЕРМООБРАБОТКИ ЗЕРНОВОГО СЫРЬЯ 2004
  • Филатов В.В.
  • Филатов А.В.
  • Кирдяшкин В.В.
  • Елькин Н.В.
  • Плаксин Ю.М.
  • Андреева А.А.
RU2264128C1
Устройство для измерения излучательной способности твердых непрозрачных материалов 1989
  • Хлебников Олег Евгеньевич
  • Халатов Артем Артемович
SU1732181A1
СПОСОБ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА КОРМОВ ДЛЯ СЕЛЬСКОХОЗЯЙСТВЕННЫХ ЖИВОТНЫХ 1992
  • Вяйзенен Г.Н.
  • Пищик Г.Ф.
  • Никифоров П.В.
  • Токарь А.И.
  • Вяйзенен Г.А.
RU2019979C1
ВАКУУМНЫЙ ДВУХЛУЧЕВОЙ СПЕКТРОФОТОМЕТР 1971
  • Г. П. Старцев, Н. Г. Герасимова, С. А. Куликов, В. Г. Никитин,
  • И. В. Пейсахсон, Г. Петрова, С. П. Розов, Ю. А. Снигирев,
  • Н. Т. Фирсов, В. Ф. Уваров Е. А. Шишлов
SU307281A1
Двухлучевой спектрофотометр 1979
  • Коссова Нина Федоровна
SU819591A1
В П 1974
  • С. В. Кузьмин Новосибирский Институт Органической Химии
SU361720A1
Способ контроля качества зерен риса 1980
  • Яковенко Валентин Арсентьевич
  • Морозов Владимир Георгиевич
SU958924A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 809 381 A1

Реферат патента 1993 года Способ определения оптимальных характеристик пищевых продуктов и устройство для его осуществления

Формула изобретения SU 1 809 381 A1

, фиг.1

ления оптических характеристик пищевых продуктов включает эллипсоиды вращения 9, 10, систему отражающих зеркал, рабочий канал 6 и канал сравнения 7, источник 1 излучения, два световода 2, 3. Один из последних установлен неподвижно в рабочем канале и снабжен поворотной заслонкой, а другой установлен в канале сравнения с возИзобретение относится к теплофизиче- ским измерениям и может найти применение при измерении терморадиационных характеристик материалов.

Целью изобретения является повышение точности и. сокращение длительности определения полусферических отражательной РПи пропускательной ТА характеристик сееторзссемваклцих материалов.

Измерение спектральных оптических характеристик в два этапа обусловлено тем, что измеряются две неизвестные величины ТАд-и RA.2. Для их расчета необходимо иметь два уравнения. Каждое из уравнений находят на отдельном этапе. На первом - находят уравнение, описывающее суммарную спектральную отражательную способность R Ai+2+o. Величину FU.i+2+o находят путем сравнения отраженного лучистого потока с лучистым потоком непосредственно от излучателя, На втором этапе находят второе уравнение, описывающее отношение К Л1+2+3 лучистого потока, прошедшего через образец к отраженному от образца лучистому потоку.

На первом этапе - определение суммарной спектральной отражательной способности путем сравнения отраженного лучистого потока с лучистым потоком непосредственно от излучателя обусловлено тем, что измерение характеристик производится по двухлучевой схеме. Двухлучевая схема работает по принципу сравнения двух потоков. Один из них - отраженный от исследуемого образца поток, другой - поток непосредственно от излучателя.

На втором этапе измерение отношения лучистого потока, прошедшего через образец к отраженному лучистому потоку обусловлено тем, что используется также двухлучевая схема спектрофотометра, требующая наличия двух различных потоков, и тем, что одновременно участвуют в измерении как отражательная RA.2, так и пропуска-- тельная ТА.2 способности материала.

можностью поворота вокруг малой оси эллипсоида вращения, в фокальной плоскости эллипсоида вращения в канале сравнения расположен подвижный экран 12. Источник излучения установлен на пересечении оси неподвижного световода и малой оси эллипсоида вращения канала сравнения. 2 ел. ф-лы, 3 ил.

Обоснование расчета спектральных пропускательных и отражательных способностей материала по формулам (1) и (2) приведена в приложении (с. 11 - 13).

Снабжение устройства световодами необходимо для увеличения плотности теплового потока, падающего на исследуемый образец, что приводит к значительному повышению точности измерения ТД.2 и RA.2.

Наличие двух световодов необходимо для осуществления поэтапного экспериментального исследования. :

Установка одного из световодов неподвижно в рабочем канале обусловлена тем,

что он выполняет при исследованиях только одну функцию - подать лучистый поток от излучателя на поверхность исследуемого образца в рабочем канале на первом этапе . исследований. Снабжение его поворотной

заслонкой необходимо для перекрытия лучистого потока падающего на него от излучателя на втором этапе измерений.

Установка другого световода в канале сравнения обусловлена необходимостью

подведения лучистого потока от излучателя в канале сравнения. Поворот этого световода вокруг малой оси эллипсоида вращения обусловлен тем, что на первом этапе исследования лучистый поток направляется непосредственно в канал сравнения, а на втором этапе - на поверхность исследуемого образца со стороны канала сравнения.

Расположение подвижного экрана в фокальной плоскости эллипсоида вращения в

канале сравнения обусловлена тем, что на первом этапе измерений необходимо полностью исключить попадание пропущенного исследуемым образцом лучистого потока в канал сравнения. .

Установка источника излучения на пересечении оси неподвижного световода, и малой оси эллипсоида вращения канала сравнения обусловлена тем, что малая ось эллипсоида совмещается с осью вращения

световода в канале сравнения. Необходимость этого совмещения обусловлена тем, что этот световод поворачивается на разных этапах измерений и при этих поворотах расстояние от торца световода до образца и параболического зеркала не должно существенно отличаться.

Расположение источника излучения на пересечении осей световодов обусловлено свойством этих световодов - излучение должно падать перпендикулярно к их торцевой поверхности, что обусловлено необходимостью освещения образца в перпендикулярном направлении.

Предлагаемый способ определения оптических характеристик пищевых продуктов и устройство для его осуществления имеют единый изобретательский замысел и направлены на решение поставленной задачи по повышению точности и сокращению длительности определения,

Способ иллюстрируется фиг, 1-3.

На фиг. 1 изображено устройство для определения оптических характеристик пищевых продуктов.

Устройство для определения оптиче- ских характеристик пищевых продуктов содержит источник излучения 1, два световода 2 и 3, изготовленные из стекла KRS-5 с границами пропускания 0,6 - 38 мкм, оптическую приставку 4 иДаухлучевой спектрофотометр 5, которые соединены между собой при помощи рабочего канала 6 и канала сравнения 7, заслонку 8. Приставка 4 состоит из эллипсоидов вращения 9 и 10 с внутренним серебрянным покрытием, которые смонтированы на подвижных платах и перемещаются по вертикали и вдоль приставки, кюветы 11, которая с образцом перемещается в.направляющих и может быть закреплена на любом уровне, подвижного экрана 12, параболических зеркал 13 и 14 с фокусным расстоянием 40 мм, фокальными, плоскостями которых являются плоскости Fa и FZ , при этом фокусы параболических зеркал 13 и 14 и их центры расположены на продолжении большой оси зеркальных эллипсоидов вращения 9 и 10, благодаря чему достигается равномерность освещения плоских зеркал 15, 16, 17, и 18, расположенных в приставке 4, и параллельность лучей в каналах 6 и 7, Каждое из зеркал 15, 16, 17 и 18 имеет четыре степени свободы, параболические зеркала 13 и 14 снабжены также шаровым шарниром. В спектрофотометре-5 для равномерного освещения щелей по высоте установлены сменные линзы 19, 20 и 21, компенсирующие клинья 22 и 23, которые уравнивают мощность световых потоков в рабочем канале бив канале сравнения 7, плоские зеркала 24, 25, 26, 27,

28, 29 укреплены на шаровых шарнирах, прерыватель 30, который обеспечивает поочередное направление лучей из рабочего канала 6 и канала сравнения 7 на приемник 31, 5 в качестве которого используют датчик с малой приемной площадкой, например, висмутовый болометр. В спектрофотометре 5 также расположены торические зеркала 32, 33 и 34,которые попеременно направля10 ют сравниваемые лучи на приемник 31, и параболическое зеркало 35 для направления интегральных лучей из каналов 6 и 7 на призму разложения 36. Зачерненный экран 37 позволяющий получить требуемое пре15 ломление луча, попадающего из канала сравнения 7, закреплен в спектрофотомет- f ре 5 неподвижно. Входная 38 и выходная 39 щели предназначены для устранения рассеянного света. Зеркало Литтрова 40, позво20 ляющее направить монохроматический луч из щели 38 в щель 3.9, закреплено на шаровом шарнире. Эллиптическое зеркало 41 для фокусирования лучей на приемнике 31 установлено на шаровых шарнирах,

5

Способ осуществляют следующим образом, Исследуемый образец устанавливают в кювету 11, так что поверхности образца находятся е первых фокальных плоскостях

0 FI и FY блоков, состоящих из зеркальных эллипсоидов вращения 9 и 10. Hs первом этапе открывают заслонку 8 и световод 2 поворачивают на 180° вокруг оси 0-0 таким образом, чтобы излучение от источника 1 с

5 помощью световода 2 попадало непосредственно на параболическое зеркало 11, при этом вдвигают экран 12 системы, чтобы излучение от световода 3 не проходило через .- образец. В результате этого с помощью

0 спектрофотометра 5 определяют суммарную спектральную отражательную способ- ность RA.1+2-H) путем сравнения отраженного лучистого потока с лучистым потоком непосредственно от излучателя. На вто5 ром этапе закрывают заслонку 8, световод 2 поворачивают на 180° в положение, указанное на фиг. 1, чтобы излучение от источника 1 попадало на образец в канале сравнения 7, при этом выдвигают экран 12. Благодаря 0 этому на втором этапе измеряют отношение КЯ.и-2+з пропущенного излучения к отражен- ному излучению. Отраженный от поверхности образца лучистый поток фокусируется во второй фокальной плоскости F2 эллипсо5 ида вращения 10, а прошедший через образец поток коллимируется в фокальной плоскости F2 эллипсоида вращения 9. Отра-. женные плоскими зеркалами 17 и 18 лучистые потоки проходят компенсирующие

клинья 23, 22 и попадают на плоские зеркала 24 и 25.

В рабочем канале б пучок плоским зеркалом 26 направляется на торическое зеркало 33, которое создает второе изображение источника е плоскости отражающей поверхности прерывателя 30. В канале сравнения 7 плоское зеркало 24 направляет луч на торическое зеркало 32, которое создает изображение источника в том месте отражающей поверхности прерывателя 30, что и торическое зеркало 33 рабочего канала 6. При вращении прерывателя 30 пучки из обоих каналов 6 и 7 попеременно направляются торическим зеркалом 27 во входную щель 38 двухлучевого спектрофотометра 5 и фокусируется в плоскости этой щели 38. Пройдя входную щель 38, луч попадает на параболическое зеркало 35 и затем разлагается в спектр призмой разложения 36. Отразившись от зеркала Литтрова 40 луч вторично проходит через призму разложения 36, фокусируется параболическим зеркалом 35 и направляется плоским зеркалом

28 на выходную щель 39. При повороте зеркала Литтрова 40 на выходную щель 39 направляются лучи различных длин волн. Изображение щели 39 проектируется плоским

29 и эллиптическим 41 зеркалами на приемнике 31. Отношения RAm+o и КАч+2+з непрерывно записываются на диаграмме. Продолжительность измерений в пределах одного микрона не превышает 18 - 20 мин.

Пример:

Проводили измерения оптических характеристик рисовых экструдатов. Рисовые экструдаты помещают в кювете между стеклами. Стекла кюветы имеют следующие спектральные характеристики: ТА .1 Т Аз 0,7; RA ,1 R Аз 0,2. При наличии экрана 12 за кюветой имеют тАо 0, RAo 0,95. Открывают заслонку 8 и световод 2 поворачивают на 180° вокруг оси 0-0 таким образом, чтобы излучение от источника 1 с помощью световода 2 попало непосредственно на параболическое зеркало 14, при этом вдвигают экран 12, чтобы излучение от световода 3 не проходило через образец. В результате этого с помощью двухлучевого спектрофотометра 5 определяют суммарную спектральную отражательную способность путем сравнения отраженного лучистого потока с лучистым потоком непосредственно от излучателя: RAi+2+o 0,47. На втором этапе закрывают заслонку 8, световод 2 поворачивают на 180° в положение, указанное на фиг. 1, с тем, чтобы излучение от источника 1 попадало на образец, при этом выдвигают экран 12. Благодаря этому измеряют отношение K/li+2+з пропущенного излучения к отраженному излучению: К Ai+2+з 0,42. Подставляя указанные значения в уравнение 1 и 2, и имея в виду, что спектральная

отражательная способность экрана R АО 0,95, находим значения спектральных характеристик экструдатов Т А,2 0,3 и R A.2 0,4. Продолжительность измерений не превышает 18 мин.

0 Таким образом предлагаемый способ и устройство позволяют повысить мощность выходного сигнала вследствие облучения образца более мощным интегральным лучистым потоком, модулирования пропущенно5 го и отраженного лучистых потоков, а также последующего усиления с помощью усилителя переменного тока, кроме того сокращается продолжительность эксперимента в 3 - 5 раз по сравнению с существующим уст0 ройством. Благодаря этому обеспечивается возможность одновременного измерения ТА и RA в условиях быстропротекающих процессов в образце, кроме того повышается точность экспериментального исследова5 ния вследствие сравнения ТЯ и ПЯподвухлу- чевой схеме и использования одного приемника для измерения как отраженного, так и пропущенного образцом Лучистых потоков.

0 Указанные оптические характеристики позволят подобрать оптимальные режимы работы генератора при ИК-обработке пищевых продуктов, что обеспечит в конечном итоге повышение качества высушиваемых

5 пищевых продуктов.

Используя метод многократных отражений, получены суммарные значения ТА 1+2+3 и R Л1+2+3, позволяющие определять ТА и RA.2 материала в случае измерения пропу0 скательной и отражательной способностей материала, заключенного в кювете с известными свойствами верхней (TAi; RAi) и нижней (ТАз; НАз) стекол.

Схема для расчета RA1+2+3 методом

5 многократных отражений представлена на фиг. 2, для расчета TAi+2+з - на фиг. 3.

На фиг. 2 и 3 представлены гармоники отражаемых и пропускаемых лучистых потоков и знаменатели геометрических прогрес0 сии. При определении отражательной способности RA1+2+3 рассмотрены лишь лучистые потоки, возникающие при добавлении к двухслойной среде третей пластины с отражательной способностью RA з. Суммар5 ная отражательная способность двухслойной пластины известна:

Т,1 RA2

RAl+2 RAl +

1-RA.1RA2

0)

91809381 10

f Из фиг. 2 видно, что основной суммар-+ , R, D-, + J л /g) ный лучистый поток от составляющей ТА.1 и Л 1 - RA,1RA3TA,2 Т А,2 можно представить в следующем виде:

тя,1 1Я2 . 5 у 1 з RJ (1 + Для проверки справедливости получен- А1+2+з A A AJV 5 ного выражения нами рассчитаны по (5) зна+ RJ RJ о 4- Rl i2 1RJ о3 4- VI +ЧеНИЯ 1+2+3 ДЛЯ Тр6Х °ДИнакОВЫХ ЛИСТОВ

-- пд ,irvi, ...д«писчей бумаги с отражательной способно4- R3 ,ТЗ о 2R3 о + R3 i2 TJ ,4RJ + У+СТЬЮ кажД°ГО ЛИСТа R 50% И 90%

RA1 А2 rvi,3-rrw,i IA fvuj ...;Отличие полученного по уравнению (5)

,-., 2r,v гч oi / значения РД,1+2+з от действительного + TAI ТАЗ RA3FUiRA2(l + 1,2%.

2 pi 2 /«чСхема для расчета величины суммарной

+ R/uRA,2 + ,1 «Д,2 + ...; (4)пропускательной способности трехслойной

Основной лучистый поток, проходящийсреды -цН2+3 представлена на фиг. 3. на

через двухслойную пластину, описывается 15 которой показаны гармоники проходящих

геометрической прогрессией:через трехслойную пластину лучистых пото. ,.,,. , , ,ков и знаменатели их геометрических проТЯ1+2 ТЯ1ТА2(1+RA.1IU2+грессий.

+ FUi2fU22 + ...)(3) 20 Как видно из фиг. 3 Преобразуя уравнения (2) и (3) найдем -ц 1+2+3 в т Дд + R 2p дэ + дополнительный отраженный лучистый поток: +lU22RA32 + ...)- UiU2aTbRA3RAi(1 +

T21T29R,q25 + RA,2RA,3+ai22RA,32 + .-.Kl Н2+3 (1 RA1R/ RA-1fU;2+ +RZiRA3U22 + RAi2rU32U24...) +

T iU23TbRA32RA2RAi(1 +

----- 1(4) л; +R/t,3TA22RA1 + RA32TA24RXl4 +

: -«.«Tfc.30 +.д,«А,ил. «Ля л ...}.

Таким образом, суммарная отражатель-Преобразуя полученное выражение и ная способность трехслойной пластины оп- учитывая (3) получим ределяется суммированием полученного

лучистого потока RA.1+2+31 с отраженным в 35ТА,1ТА,2ГАЗ двухслойной пластине RAn-2. . ТА, 1+2+3- рд РАзУс 1 - RA.1RA2)

fUl RA 1t -м.

40(1 - RA.2U3) (1 - RA.1 RA3T&)

I,1RA2 T ufcRA3

1-RA,tRA2(i-RA,1RA2):

Учитывая уравнения 5 и б в соотношении КА1+2+3 (ТЛи-2+з)/(Р Л1+2+2) получим:

ia,1+2+3 TA,1TA2TA3( 1 - RA.1 RA2)

,1RA3Tfc (1 - RA.2 RA3) (1 - RA.1RA3Tb)

RA.1(1 -RA.1RA3)2 (1 -RAHRA )T|,TrbRA3(RA,+ 1

..ГО

Полученные выражения позволяют еде- 45 чения РЛ,2 и ТА.2 могут быть определены лать вывод, что при измерении спект- только, при совместном решении в каждом ральных характеристик влажных случае системы уравнения (5), (7), т.е. нельзя материалов в кюветах действительные знаУчитывая уравнения 5 и б в соотношении КА1+2+3 (ТЛи-2+з)/(Р Л1+2+2) получим:

ограничиваться учетом только одной из составляющих.

Формула изобретения 1. Способ определения оптических характеристик пищевых продуктов, предусматривающий облучение исследуемой пробы источником монохроматического излучения, измерение величин отраженного от пробы исследуемого пищевого продукта и прошедшего через нее лучистого потока с последующим установлением значений спектральных отражательной и пропуска- тельной характеристик исследуемого пищевого продукта, отличающийся тем, что, с целью сокращения времени и повышения точности, дополнительно измеряют величину отраженного лучистого потока непосредственно от источника монохроматического излучения, при этом установление значений спектральных отражательной и пропускательной характеристик ведут в два этапа, на первом из которых устанавлиКА,1+2+3 ТА,1 ТА2ТА,3( 1 - RA.1 RA2

1 +

RA,1RA,3Tfc (1- RA.2RA.3) (1 - RA,1RA,

RA,1(1 -RA,1RA,2)Z +lЈlRA,2(l -RA,1RA;2 )Т,ТгЈш,3(РА,Ш,2-Ь

где RA2 - спектральная отражательная способность исследуемого материала;

ТА2 - спектральная пропускательная способность исследуемого материала;

RAi и RAs - спектральные отражательные способности стекол кюветы;

RAo спектральная отражательная способность экрана;

R Аи-2-ю - суммарная спектральная отражательная способность; TAt и ТАз - спектральные пропуска- тельные способности стекол кюветы;

К Ai+2+з - отношение лучистого яотока, прошедшего через образец к отраженному лучистому потоку.

2. Устройство для определения оптических характеристик пищевых продуктов, содержащее источник монохроматического излучения, систему отражающих зеркал, оптическую приставку, включающую два элвают значение суммарной спектральной отражательной характеристики по результату сравнения величин отраженного от пробы исследуемого пищевого продукта лучистого

потока с лучистым потоком непосредственно от источника монохроматического излучения, на втором устанавливают отношение величин прошедшего через пробу исследуемого пищевого продукта лучистого потока к

величине лучистого потока, отраженного от данной пробы, а определение оптических характеристик пищевых продуктов осуществляют из формулы.

R3 9

RA,1+2-hO RA,1+ T%4Т%1Т%21Щ) rR,,.RJ94. 1ч

20 (1 -НАЛ RA2)21

1-RA

ЛЖзТЙ

липсоида вращения с размещенной между

ними кюветой для пробы исследуемого продукта, и двухлучевой спектрофотометр, подсоединённый к оптической приставке рабочим каналом и каналом сравнения, о т- личающееся тем, что, с целью сокращения времени и повышения точности, оно снабжено двумя световодами, поворотной заслонкой и подвижным экраном, при этом первый из световодов установлен неподвижно в рабочем канале и оснащен поворотной заслонкой, а второй размещен с возможностью поворота вокруг малой оси эллипсоида вращения в канале сравнения, причем в фокальной плоскости последнего расположен подвижный экран, а источник

монохроматического излучения установлен на пересечении оси первого световода и малой оси эллипсоида вращения канала сравнения,

Фиг. 2

MV

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1993 года SU1809381A1

С
Г
Ильясов, В
В
Красников
Метод определения оптических и терморадиационных характеристик пищевых продуктов, М,: Пищевая промышленность, 1972, 175 с
С
Г
Ильясов, В
В
Красников, Физические основы инфракрасного облучения пищевых продуктов
М.: Пищевая промышленность, 1978, 360 с
Ю
М
Плаксин
Исследование процесса выпечки мучных кондитерских изделий в печах с ИК-излучением
Диссертация канд
техн
наук
Контрольный висячий замок в разъемном футляре 1922
  • Назаров П.И.
SU1972A1

SU 1 809 381 A1

Авторы

Бабенко Вячеслав Емельянович

Плаксин Юрий Михайлович

Арвеладзе Дареджан Георгиевна

Кахидзе Назим Амиранович

Беридзе Нодари Хусейнович

Даты

1993-04-15Публикация

1990-10-10Подача