УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНКИ Советский патент 1996 года по МПК G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU1831121A1

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может использоваться для измерения толщины металлических пленок, нанесенных на диэлектрическую подложку, и толщины диэлектрических пленок на металле.

Цель изобретения расширение диапазона измеряемых толщин и класса исследуемых материалов, а также увеличение чувствительности.

На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства для измерения толщины пленки.

Устройство для измерения толщины пленки содержит источник 1 питания, СВЧ-генератор, включающий активный элемент 2, размещенный в волноводе 5, отрезок коаксиальной линии 4, открытый конец 5 которой является излучателем, магнитный сердечник 6, слой диэлектрика 7, катушка индуктивности 8, металлический экран 9, коммутирующий элемент 10, индикатор 11, высокочастотный (ВЧ) генератор 12.

Устройство для измерения толщины пленки работает следующим образом.

Начальный уровень сигнала с активного элемента 2 СВЧ-генератора подается через коммутирующий элемент 10 на вход индикатора 11 и при помощи компенсирующего резистора 13 на шкале индикатора 11 устанавливается нулевое положение. При проведении измерений тонких металлических слоев 0,02-0,1 мкм меняется нагрузка, что приводит к изменению уровня сигнала, поступающего на индикатор 11.

Если толщина металлической пленки более 0,1 мкм и чувствительность СВЧ-датчика падает, коммутирующий элемент 10 переводят в другое положение и работает ВЧ-генератор 12. Начальный уровень сигнала с коллектора транзистора 14 подается на вход индикатора 11 и при помощи компенсирующего резистора 15 на шкале индикатора устанавливается нулевое значение. При проведении измерений изменяется индуктивность катушки индуктивности 8 в результате взаимодействия электромагнитной волны катушки 8 с пленкой и изменяется постоянное напряжение на коллекторе транзистора 14. Это изменение фиксируется индикатором 11. Для увеличения концентрации электромагнитного поля катушки 8 в определенном объеме, последняя покрыта сверху проводящим экраном 9, имеющим форму катушки 8 и открытым с излучающей стороны. Катушка 8 индуктивности представляет собой совокупность витков разного диаметра, наименьший диаметр имеет виток, совпадающий с плоскостью излучения, что обеспечивает локальность измерений и сохраняет высокую добротность.

Похожие патенты SU1831121A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ 1995
  • Усанов Д.А.
  • Скрипаль А.В.
  • Коротин Б.Н.
  • Авдеев А.А.
RU2096791C1
УСТРОЙСТВО НА ДИОДЕ ГАННА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ 1995
  • Усанов Д.А.
  • Скрипаль А.В.
  • Коротин Б.Н.
  • Авдеев А.А.
RU2094811C1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИКА НА МЕТАЛЛИЧЕСКОМ ОСНОВАНИИ 1989
  • Авдеев А.А.
  • Коротин Б.Н.
  • Писарев В.В.
  • Тупикин В.Д.
  • Усанов Д.А.
RU2012871C1
Терморезисторная вставка для коаксиального измерительного преобразователя 1987
  • Сергеев Игорь Алексеевич
SU1681275A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ СМЕСИ ВЕЩЕСТВ 1999
  • Жиров М.В.
  • Совлуков А.С.
RU2164021C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ СМЕСИ ВЕЩЕСТВ 2002
  • Гагарин М.А.
  • Бакулин В.П.
  • Жиров М.В.
  • Совлуков А.С.
  • Фатеев В.Я.
  • Кононов А.С.
  • Жиров В.М.
RU2246118C2
Устройство для измерения магнитной проницаемости на сверхвысоких частотах 1982
  • Пчельников Юрий Никитич
  • Овчинников Александр Владимирович
  • Суслов Лев Михайлович
  • Дымшиц Раиса Марковна
SU1095119A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ЖИДКОСТИ В ЕМКОСТИ 2013
  • Жиров Михаил Вениаминович
  • Воробьева Алла Викторовна
  • Совлуков Александр Сергеевич
  • Гончаров Андрей Витальевич
  • Жирова Вера Владимировна
RU2534747C1
ВЫСОКОЧАСТОТНЫЙ ГАЗОРАЗРЯДНЫЙ ИСТОЧНИК ИОНОВ ВЫСОКОЙ ПЛОТНОСТИ С НИЗКОИМПЕДАНСНОЙ АНТЕННОЙ 2000
  • Берлин Е.В.
RU2171555C1
РЕЗОНАНСНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЛИЖНЕПОЛЕВОГО СВЧ-КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ 2013
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Горбатов Сергей Сергеевич
  • Кваско Владимир Юрьевич
  • Фадеев Алексей Владимирович
RU2529417C1

Реферат патента 1996 года УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНКИ

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может использоваться для измерения толщины металлических пленок, нанесенных на диэлектрическую подложку, и толщины диэлектрических пленок, нанесенных на металл. Цель изобретения - расширение диапазона измеряемых толщин и класса исследуемых материалов, а также увеличение чувствительности. Устройство для измерения толщины пленки содержит источник 1 питания, СВЧ-генератор, включающий активный элемент 2, размещенный в волноводе 3, отрезок 4 коаксиальной линии, открытый конец 5 которой является излучателем, магнитный сердечник 6, слой диэлектрика 7, катушку 8 индуктивности, металлический экран 9, коммутирующий элемент (КЭ) 10, индикатор (И) 11, ВЧ-генератор 12. Начальный уровень сигнала с активного элемента 2 подается через КЭ 10 на вход И11. При измерении металлических слоев 0,02 - 0,1 мкм меняется нагрузка, что приводит к изменению уровня сигнала, поступающего на И 11. Если толщина металлической пленки более 0,1 мкм, КЭ 10 переводят в другое положение и работает ВЧ-генератор 12. Проводящий экран 9 покрывает сверху катушку 8, что увеличивает концентрацию поля в определенном объеме. 1 з. п. ф-лы, 1 ил.

Формула изобретения SU 1 831 121 A1

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНКИ, содержащее СВЧ-генератор, к выходу которого подсоединен излучательный элемент в виде отрезка коаксиальной линии, и индикатор, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона измеряемых толщин и класса исследуемых материалов, введены высокочастотный генератор, в частотозадающую цепь которого включена катушка индуктивности, внешняя поверхность которой покрыта слоем диэлектрика, на котором размещен введенный металлический экран, при этом отрезок коаксиальной линии установлен внутри катушки индуктивности соосно с ней, а излучающие торцы отрезка коаксиальной линии и катушки индуктивности расположены в одной плоскости, индикатор подключен к измерительным выводам высоккочастотного генератора и активному элементу СВЧ-генератора через введенный коммутирующий элемент. 2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что, с целью увеличения чувствительности, внутри катушки индуктивности установлен сердечник из магнитного материала с осевым отверстием для размещения отрезка коаксиальной линии, при этом образующая внешней поверхности сердечника совпадает с образующей внутренней поверхности катушки индуктивности.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1996 года SU1831121A1

Гордиенко Ю.Е
и др
Микроволновый измеритель толщины пленок на низкоомных подложках
- "Приборы и техника эксперимента", 1981, N 3, с.231
Усанов Д.А
и др
Устройство для измерения толщины диэлектрических пленок
- "Приборы и техника эксперимента", 1986, N 4, с.227.

SU 1 831 121 A1

Авторы

Усанов Д.А.

Писарев В.В.

Авдеев А.А.

Скрипаль А.В.

Тупикин В.Д.

Панченко В.С.

Даты

1996-02-20Публикация

1988-10-20Подача