СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ ИМПУЛЬСНЫХ ИСТОЧНИКОВ СВЕТА Советский патент 1966 года по МПК G01J5/52 

Известен способ измерения температуры импульсных источников света, заключающийся в том, что импульс от исследуемого источника света, предварительно ослабленный серым светофильтром, и импульс от эталонной лампы сравнения направляют под некоторым углом к оптической оси измерительной установки на приемник излучения поочередно и выделяют переменную составляющую сигналов, пропорциональную температуре исследуемого источника.

Предложенный способ позволяет повысить точность измерений температуры импульсных источников света с импульсами малой длительности и отличается от известных способов тем, что на приемник излучения подают два импульса от эталонной лампы сравнения, один из которых пропускают прямо на приемник излучения, а второй - через светофильтр со строго известным коэффициентом пропускания. Импульс от исследуемого источника света подают на приемник излучения во времени между двумя импульсами от эталонной лампы сравнения, а искомую яркость излучения исследуемого источника света, пропорциональную его температуре, определяют интерполяцией между двумя близкими сигналами от эталонной лампы сравнения.

Описываемый способ позволяет провести работу по составлению щкалы температур в области свыше 10000°С.

Предмет изобретения

Способ измерения температуры импульсных источников света, заключающийся в том, что импульс от исследуемого источника света, предварительно ослабленный серым светофильтром, и импульс от эталонной лампы сравнения направляют под углом к оси измерительной установки на приемник излучения поочередно, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, на приемник излучения подают два импульса от эталонной лампы сравнения, один из которых пропускают прямо на приемник излучения, а второй - через светофильтр со строго известным коэффициентом пропускания, импульс от исследуемого источника света подают на приемник излучения во времени между двумя импульсами от эталонной лампы сравнения, а искомую яркость излучения исследуемого источника, пропорциональную его темпер.атуре, определяют интерполяцией между двумя близкими сигналами от эталонной лампы сравнения.