СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СДВИГА ФАЗ СПЕКТРАЛЬНЫХ КОМПОНЕНТ ДВУХ СИГНАЛОВ Советский патент 1967 года по МПК G01R27/28 

По известным способам измерения сдвига фаз для спектральных компонент двух сигналов используют в целях нредваритеочьной частотной селекции два фнльтра. При этом вследствие неидентичностц их частотно-фазовых характеристик возникают ошибки измерения разности фаз.

По предложенному способу измерения сдвига фаз спектральных компонент двух сигналов исцользуют один оптический фильтр для предварительной частотной селекции спектральных компонент двух сигналов, записанных на фотопленку или экран потенциалоскопа.

На чертеже представлена блок-схема устройства для осуществления предложенного способа.

Фотопленка / с записью процессов fi(x) и fsix) ставится на пути светового потока, разделяя его на два пучка и пространственно модулируя их сигналами. Пространственно модулированные световые пучки пропускаются через дифракционные решетки 2, образующие синусоидальную структуру - «эталон частоты. Последний может перестраиваться путем вращения одна относительно

другой параллельно расположенных дифракционных решеток.

Световые пучки, прошедшие эталон частоты, направляются на фотоумножители 3 и -i, которые интегрируют световые пучки по пространственным координатам. Разность фаз измеряют фазометром 5.

Предмет изобретения

Способ измерения сдвига фаз снектральных компонент двух сигналов, основанный на частотной селекции с помощью фильтров с последующей подачей селектированных сигналов на фазометр и преобразование электрических сигналов в оптические при помощи записи на нленку или потенциалоскоп, отличающийся тем, что, с целью устранения ошибок измерения, вызванных неидентичностью фильтров, изображение обоих сигналов проектируют на две вращающиеся одна по отношению к другой оптические решетки, общие для обоих сигналов, причем световые потоки изображения после прохождения решеток подают на два электронно-оптических преобразователя, на выходе которых подключают фазометр.

y-fiW

y-f2()