ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ Советский патент 1967 года по МПК G01N21/45 G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU197219A1

Известный интерферометр типа Маха-Цендера состоит из источника света, коллиматора, эталонной и рабочей ветвей и приемной части. В рабочей камере установлена камера с исследуемой неоднородностью.

Этот интерферометр не позволяет одновременно получить несколько интерференционных картин в одной плоскости с различной исходной настройкой (ориентировкой, шириной интерференционных полос и различной компенсацией разности хода).

Описываемый интерферометр отличается от известного тем, что в рабочей и эталонной ветвях установлены полупрозрачные пластины, создаюпдяе дополнительную независимую пару когерентных световых пучков и направляющих их на систему плоских зеркал, полупрозрачную пластину и .приемную часть, образующих вторую двухлучевую интерференционную картину.

Этот интерферометр позволяет получить одновременно две интерференционные двухлучевые картины в одной плоскости с различной начальной настройкой (различной ориентиробкой, шириной интерференционных полос и компенсацией разности хода).

ную пластину 3 и делится ею на два пучка, один из которых проходит через эталонную ветвь -зеркало 4 и полупрозрачную пластину 5, а другой пучок - через рабочую ветвь- зеркало 6 и полупрозрачную пластину 5, и попадает в приемную систему 7.

Исследуемая неоднородность устанавливается в камере 8 в рабочей ветви интерферометра. С целью одновременного получения второй двухлучевой интерференционной картины в рабочую и эталонную ветвь установлены полупрозрачные пластины 9 и 10. Они направляют один из световых пучков на плоское зеркало // и полупрозрачную пластину 12, другой - на зеркала 13, 14 и полупрозрачную пластину 12, после которой световые пучки попадают в приемную систему 15 интерферометра,

В эталонных ветвях интерферометра установлены компенсаторы 16 и 17. В случае применения в качестве источника света оптического квантового генератора установка компенсаторов в ветвях интерферометра не обязательна.

Предмет изобретения

Интерферометр для исследования прозрачных неоднородкостей, состоящий из источника света коллиматора, эталонной и рабочей ветвей, в которой установлена камера с исследуемой неоднородностью, нриемной части, отличающийся тем, что, с целью одновременного получения двух интерференционных картин, в

одной плоскости с различной настройкой, в рабочей и эталонной ветвях установлены полупрозрачные пластины, создающие дополнительную независимую пару когерентных световых пучков и направляющие их на систему зеркал, полуцрозрачную пластину и приемную часть, образующих вторую двухлучевую интерференционную картину.

Похожие патенты SU197219A1

название год авторы номер документа
ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 2002
  • Лукин А.В.
RU2209389C1
Двухлучевой интерферометр 1974
  • Ловков Спартак Яковлевич
  • Овечкин Алексей Петрович
  • Сигов Валентин Васильевич
SU523272A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ГАЗОДИНАМИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЯ 1969
SU244665A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКИХ СИСТЕМ И ОБЪЕКТИВОВ 2012
  • Ларионов Николай Петрович
RU2518844C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ГАЗОВЫХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ 1967
SU200816A1
ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ 1967
SU192435A1
ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 1970
SU266103A1
ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР СДВИГА 1967
SU202550A1
Интерференционное устройство для контроля линз 1990
  • Казаков Николай Павлович
  • Крылов Юрий Николаевич
  • Гиргель Сергей Сергеевич
  • Горелый Николай Николаевич
  • Войтенко Игорь Георгиевич
SU1758423A1
Способ юстировки интерферометра типа маха-цендера 1974
  • Комиссаров Николай Михайлович
  • Данилина Галина Георгиевна
SU505877A1

Иллюстрации к изобретению SU 197 219 A1

Реферат патента 1967 года ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ

Формула изобретения SU 197 219 A1

/5

SU 197 219 A1

Даты

1967-01-01Публикация