Двухлучевой интерферометр Советский патент 1976 года по МПК G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU523272A1

мы зеркал и светоделителей с диафрагмами, формирующими две независимо регулируемые пары когерентных световых пучков, создающих две интерференционные картины, причем зеркала основной системы установлены так, что эталонный и рабочий пучки разведены и разделены диафрагмами. Введение дополнительных приставок не требует изменения конструкции известного интерферометра типа Маха-Цендера.

Принципиальная оптическая схема предлагаемого интерферометра показана на чертеже.

Источник света 1 и телескопическая система 2 формируют параллельный пучок света, который направляется на основную четырехпластинчатую систему зеркал и светоделителей 3, 4, 5, 6, образующих эталонную ветвь и рабочую ветвь. Камера с исследуемой неоднородностью 7 устанавливается в рабочей ветви. Эталонный и рабочий пучки объединяют вторым светоделителем 6 и направляют в первую и вторую приемные части, в которых установлены дополнительно приставки (четырехпластинчатые системы зеркал, пластин и диафрагм) 8 и 9.

Для осуществления регистрации одновременно двух интерференционных картин в одной плоскости с различной исходной настройкой разворотами зеркал и светоделителей основной четырехнластинчатой системы интерферометра разводят эталонный и рабочий пучки так, чтобы в приставках 8 и 9 с помощью систем диафрагм 10 было осуществлено разделение эталонного и рабочего световых пучков. Затем эталонный и рабочий пучки вновь сводятся разворотами зеркал в приставках и направляются на фоторегистраторы 11 и 12, которые фиксируют полученные интерференционные картины. Ширина и ориентация полос на этих картинах определяется исходной настройкой оптических элементов.

Формула изобретения

Двухлучевой интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей, содержащий источник света, основную систему зеркал, формирующую основные эталонный и рабочий пучки, в последнем установлена камера с исследуемой неоднородностью, и приемную часть, отличающийся тем, что, с целью одновременного получения двух интерференционных картин с различными исходными настройками, в приемной части интерферометра

установлены две дополнительные четырехпластинчатые системы зеркал и светоделителей с диафрагмами, формирующими две независимо регулируемые пары когерентных световых пучков, создающих две интерференционные

картины, причем зеркала основной системы установлены так, что эталонный и рабочий пучки разведены и разделены диафрагмами. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. А. Н. Захарьевский. Интерферометры, М., 1952, с. 238.

2.Авт. св. СССР № 197219 от 04.08.66, кл. G Olb 9/02.

3.Л. А. Васильев. Теневые методы, М., 1968, с. 77 (прототип).

Похожие патенты SU523272A1

название год авторы номер документа
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП 2013
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Латушко Михаил Иванович
RU2527316C1
ФАЗОВО-ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МОДУЛЬ 2013
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Сухенко Евгений Пантелеевич
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Беляков Владимир Константинович
  • Латушко Михаил Иванович
RU2539747C1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ 1967
SU197219A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ВТОРОГО ПОРЯДКА 2009
  • Ларионов Николай Петрович
RU2396513C1
Устройство обработки голограмм фазовых объектов 1983
  • Зейликович Иосиф Семенович
  • Карнаухов Николай Васильевич
  • Сигов Валентин Васильевич
  • Спорник Николай Максимович
SU1330603A1
Интерференционный датчик линейногопЕРЕМЕщЕНия Об'ЕКТА 1979
  • Шестаков Константин Михайлович
  • Садов Василий Сергеевич
  • Романов Александр Вячеславович
  • Павлов Леонид Иванович
  • Василевский Валентин Евгеньевич
SU838325A1
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей оптических деталей 1985
  • Тарханов Владимир Иванович
SU1249322A1
Интерферометр для контроля оптических поверхностей 1982
  • Бубис Исак Яковлевич
  • Ган Михаил Абрамович
  • Кузнецов Алексей Иванович
  • Робачевская Виолетта Ильинична
  • Флейшер Александр Григорьевич
SU1065684A1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ МИКРОСКОПИИ 2013
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Латушко Михаил Иванович
RU2536764C1
Способ и устройство регистрации пространственного распределения оптических характеристик труднодоступных объектов 2017
  • Мачихин Александр Сергеевич
  • Бурмак Людмила Игоревна
  • Пожар Витольд Эдуардович
  • Михеева Татьяна Владимировна
RU2655472C1

Иллюстрации к изобретению SU 523 272 A1

Реферат патента 1976 года Двухлучевой интерферометр

Формула изобретения SU 523 272 A1

SU 523 272 A1

Авторы

Ловков Спартак Яковлевич

Овечкин Алексей Петрович

Сигов Валентин Васильевич

Даты

1976-07-30Публикация

1974-01-03Подача