СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ НЕМЕТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ Советский патент 1967 года по МПК G01N27/90 G01N27/84 

Известны способы дефектоскопического контроля неметаллических материалов, например пластмасс, основанные на нанесении на контролируемую поверхность проникающей жидкости, позволяющие выявлять поверхностные дефекты. Предлагаемый способ отличается от известных тем, что, с целью повышения производительности и качества контроля, в проникающую жидкость добавляют присадку, повышающую ее электропроводность, например смесь олеиновой кислоты с окисью магния, и выявляют поверхностные дефекты с помощью токовихревого дефектоскопа с накладным или проходным датчиком. Сущность предлагаемого способа заключается в следующем. На поверхность контролируемого изделия наносят проникающую жидкость, например керосин, в который добавляют присадку, повышающую его электропроводность. После удаления жидкости с контролируемой поверхности присадка остается в полости дефекта. При введении контролируемого изделия в проходной датчик токовихревого дефектоскопа или при сканировании накладного датчика по поверхности контролируемого изделия электрсчроводная жидкость, находящаяся в полости дефекта, взаимодействует с полем датчика, питаемого переменным током повышенной частоты. Датчик посылает информацию о. наличии дефектов на индикатор токовихревого дефектоскопа. В качестве присадки для повышения электропроводности керосина может быть иснользована смесь олеиновой кислоты (1 г) с окисью магния (70 г), приготовленная при температуре 300°С. После остывания эта смесь растворяется в керосине до концентрации 1 : 100. Предмет изобретения Способ дефектоскопического контроля неметаллических материалов, например пластмасс, основанный на нанесении на контролируемую поверхность проникающей жидкости, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности и качества контроля, в проникающую жидкость добавляют присадку, повышающую ее электропроводность, например смесь олеиновой кислоты с окисью магния, и ведут контроль с использованием токовихревого дефектоскопа с накладным или проходным датчиком.