СПОСОБ ИЗМЕРЕПИЯ СОБСТВЕННОГО Советский патент 1967 года по МПК H01J43/04 H01J40/16 

Известный способ измерения собственного разрешения фотоэлектронных умножителей (ФЭУ) основан на использовании в качестве эквивалентного источника света, облучающего фотокатод исследуемого ФЭУ, тиратрона, работающего в режиме принудительного зажигания и гашения. При этом получают импульсы, близкие по форме и интенсивности световым импульсам, излучаемым кристаллом NalTl при облучении его у-источником. В качестве у-источника обычно используют Csi37.

Однако получаемые результаты измерений не однозначны из-за необходимости калибровать источник света по интенсивности относительно кристалла NalTl, облучаемого у-источНИКОМ, так как практически нельзя определить количество квантов в эквивалентных световых вспышках. То есть, на измерения накладывается погрешность, вызванная неоднородностью кристалла NalTl и несовпадением спектрального состава вспышки от эквивалентного источника света и сцинтилляций кристалла. Это приводит к невозможности оценки собственно амплитудного разрешения ФЭУ без учета влияния кристалла.

Предложенный способ отличается от известного тем, что фотокатод фотоэлектронного умножителя облучают световой вспышкой с известными числом квантов и спектральной характеристикой. В качестве источника вспышек используется стандартный источник света с цветовой температурой 2548° К, для которого можно выделить любой заранее заданный участок спектра и точно установить количество квантов в этом спектральном интервале.

Управляя интенсивностью и спектральным составом излучения с помощ.ью обычных средств световой оптики, можно получить стандартную вспышку, по интенсивности и спектральному составу полностью эквивалентную сцинтилляционной вспышке от у-источника в идеальном кристалле.

Достоинство предложенного способа заключается в том, что он позволяет определить собственное спектрометрическое разрешение ФЭУ и собственное разрешение различных выпускаемых сцинтилляционных крнсталлов нутем сравнения величины собственного амплитудного разрешения ФЗУ с амплитудным разрешением, полученным при помощ,и сцинтилляционного кристалла и у-источника.

Предмет изобретения

Способ измерения собственного спектрометрического разрешения фотоэлектронного умножителя путем амплитудного анализа выходных импульсов при облучении фотоэлектронного умножителя световыми вспышками, отличающийся тем, что, с целью повышения 34

точности и стандартизации измерений, фото- квантов и спектральной характеристикой от катод фотоэлектронного умножителя облу- стандартного источника света с цветовой темчают световой вспышкой с известными числом пературой 2548° К200036