СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЯ АНИЗОТРОПИИ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК С ОДНООСНОЙ АНИЗОТРОПИЕЙ Советский патент 1968 года по МПК G01R33/12 

Описание патента на изобретение SU207261A1

Известные способы измерения поля анизо тропии тонких магнитных пленок, имеющих одноосную анизотропию, основанные на импульсном перемагничивании пленок, обладают сравнительно сложным процессом измерения и недостаточно точны.

В описываемом способе измерения -поля анизотропии тонких магнитных пленок с одноосной анизотропией упрощение процесса измерения и повышение точности достигнуто тем, что вдоль оси легкого намагничивания пленки создают импульсное магнитное поле, меняющееся по знаку и достаточное для перевода анизотропной .пленки в состояние насыщения. Вдоль оси трудного намагничивания создают постоянное магнитное поле, напряженность которого плавно возрастает до значения, при котором прекращается раздвоение импульсов, снимаемых с испытуемой пленки и наблюдаемых на экране осциллографа. По величине напряженности постоянного магнитного поля определяют анизотропию исследуемой пленки.

С целью пояснения описываемого способа на чертеже приведена схема устройства для его осуществления.

тельность, достаточную для перемагничивания топкой магнитной пленки из насыщенного состояния в одном направлении в насыщенное состояние в противоположном направлепии.

Частота следования импульсов одного направления, например импульсов 1, выбрана большей, чем частота следования импульсов 2 другого направления, например, в два раза.

На экране осциллографа 3 наблюдают раздвоенный импульс 4 от переключения тонкой магнитной пленки импульсами 1.

Большая амплитуда сигнала соответствует переключению тонкой магнитной пленки из одного устойчивого состояния в другое, меньшая амплитуда сигнала соответствует изменению намагниченности.

Кроме того вдоль оси трудного намагничивания создается постоянное магнитное поле, величина которого постепенно увеличивается от нуля до значения, при котором прекращается раздвоение импульсов 4.

Это происходит в момент, когда напряженность постоянного поля по оси трудного намагничивания достигнет величины, равной полю анизотропии, и разнополярные импульсы / и 2 только отклоняют вектор намагниченности от оси трудного намагничивания в одну или другую сторону.

При дальнейшем увеличении постоянного поля ио оси трудного намагничивания вид сигналов с тонкой магнитной плепки принципиально не меняется, уменьшается лишь их плош,адь и амплитуда за счет меньшего отклонения намагниченности от оси трудного намагничивания импульсами поля но оси легкого намагничивания. Таким образом, за величину ноля анизотропии тонкой магнитной пленки Нк можно принять величину напряженности минимального постоянного поля но оси трудного намагничивания, при которой прекрашается раздвоение сигнала с тонкой магнитной пленки от имнульсов ноля по оси легкого намагничивания, поданных с более высокой частотой.

Электронный осциллограф служит в этом случае индикатором, а не измерительным прибором. В качестве измерительного прибора можно использовать прибор постоянного тока высокого класса точности, благодаря чему погрешность измерения будет составлять доли нроцента.

При использовании тонкой магнитной пленки, нанесенной например па гибкий металлический нровод 5 с оси легкого намагничивания, направленной по окружности нормального сечепия цилиндра, имнульсы магнитного поля создают импульсы напряжения на зажимах 6, соединенных с контактами 7. Для создания .плавно возрастаюш:его ностоянного магнитного поля нровод 5 помеш;ают внутрь катушки 8, подключаемый через амперметр 9 и реостат 10 к источнику ностоянного тока 11. Выходные импульсы, подаваемые на осциллограф 3, снимают при номощи контактов 12 и 13.

Предмет изобретения

Снособ измереиия поля анизотропии тонких магнитных пленок с одноосной анизотронией, основанный на импульсном перемагничивании пленок, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и унрощения процесса измерений, вдоль оси легкого намагничивания плепки создают импульсное магнитное ноле, меняюш,ееся по знаку и достаточное для перевода анизотропной пленки в состояние насыщения, а вдоль оси трудного намагничивания создают ностоянное магнитное -поле, напряженность которого плавно возрастает до значения, при котором прекращается раздвоение импульсов, снимаемых с испытуемой пленки, наблюдаемых на экране осциллографа и по величине напряженности ностоянного магнитного поля определяют поле анизотропии исследуемой пленки.

Похожие патенты SU207261A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения параметров цилиндрических тонких магнитных пленок 1975
  • Лысый Леонид Тимофеевич
  • Штельмахов Михаил Степанович
SU536449A1
Способ измерения анизотропии тонких магнитных пленок 1982
  • Алексеев Вадим Петрович
  • Папорков Владимир Аркадьевич
  • Крюков Александр Михайлович
SU1023262A1
Способ измерения коэрцитивной силы цилиндрических тонких магнитных пленок 1975
  • Лысый Леонид Тимофеевич
SU555355A1
УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК 1972
SU346692A1
Способ измерения коэрцитивной силы цилиндрических тонких магнитных пленок 1978
  • Лысый Леонид Тимофеевич
  • Бавыкин Николай Иванович
  • Замирец Николай Васильевич
  • Канатчиков Николай Никифорович
SU737897A1
Способ измерения анизотропии тонкой магнитной пленки 1985
  • Алексеев Вадим Петрович
  • Левин Валерий Львович
  • Мордвинцев Виктор Матвеевич
  • Папорков Владимир Аркадьевич
SU1347054A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТОСТРИКЦИИ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК 1973
  • Витель К. С. Полул П. И. Татарский Л. Г. Темник
SU370561A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ ПОЛЯ ОДНООСНОЙ АНИЗОТРОПИИ ФЕРРОМАГНИТНОЙ ПЛЕНКИ 1968
SU210904A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЯ АНИЗОТРОПИИ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК 1967
SU205372A1
Способ измерения эффективного магнитного поля одноосной анизотропии в магнитной пленке 1990
  • Логунов Михаил Владимирович
  • Рандошкин Владимир Васильевич
SU1765847A1

Иллюстрации к изобретению SU 207 261 A1

Реферат патента 1968 года СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЯ АНИЗОТРОПИИ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК С ОДНООСНОЙ АНИЗОТРОПИЕЙ

Формула изобретения SU 207 261 A1

SU 207 261 A1

Даты

1968-01-01Публикация