СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ КИНЕТИКИ ПРОПИТКИ ПОРИСТЫХТЕЛ Советский патент 1968 года по МПК G01N21/47 

Известен способ исследования кинетики пропитки пористых тел, согласно которому, концы образца, расположенного на подставке, помещают в резервуар с исследуемой жидкостью.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что, с целью повышения точности измерения, образец прижимают к основанию равнобедренной стеклянной пр-измы, освещают его световым потоком и по изменению полного внутреннего отражения светового потока от основания призмы при соприкосновении жидкости с поверхностью стекла оценивают степень пропитки образца.

Па чертеже схематически изображено устройство для реализации предлагаемого способа.

Концы образца 1, расположенного на подставке 2, помещают в кювету 3 с исследуемой жидкостью и прижимают образец к основанию равнобедренной стеклянной призмы 4. Затем призму освещают от источлика света 5. Световой поток попадает на фотоэлемент 6 и, отразивщись от основания призмы, - на фотоэлемент 7. По мере смачивания образца в той части, которая находится в контакте с призмой 4, световой поток, попадающий на фотоэлемент 7, уменьшается. По разности световых потоков регистрируемых фотоэлементами 6 и 7, оценивают степень нропитки образца.

Предмет изобретения

Способ исследования кинетики пропитки пористых тел, по которому концы образца, расположенного на подставке, помещают в резервуар с Исследуемой жидкостью, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, образец прижимают к основанию равнобедренной стеклянной призмы, освещают его световым потоком и по изменению полного внутреннего отражения светового потока от основания призмы при соприкосновении жидкости с поверхностью стекла оценивают степень пропитки образца.