АВТОКОЛЛИМАЦИОННЫЙ ПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОФИЛЯ НЕЛИНЕЙНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ Советский патент 1968 года по МПК G01B11/255 G01B9/06 

Известны автоколлимационные приборы для определения профиля нелинейных поверхностей, например, желобов внутренних колец шарикоподшипников с оптической системой, содерл аш,ей осветительную часть с двумя марками, расположенными симметрично относительно плоскости полевой диафрагмы на расстоянии глубины резкости оптической системы, и наблюдательную часть.

Предложенный прибор отличается от известных тем, что он снабжен поворотной объективной головкой, в корпусе которой размеп.(,ены отклоняюш,ие зеркала, микрообъектив и подвижная сканируюш,ая ш,ель, размеш,енная в плоскости зрачка микрообъектива. Микрообъектив установлен наклонно к олтической оси прибора с предметпой точкой, €овпадаюш,ей с этой осью, служащей одновременно осью враш,епия головки. Такое -выполнение позволяет измерять радиус поверхности в пределах всего угла охвата.

На чертеже схематически изображен автоколлимационный прибор.

Прибор состоит из осветительной системы /, -наблюдательной си-стемы 2 и .поворотной объективной головки 3.

верхность желоба кольца 6 под углом, позволяющим контролировать весь угол охвата желоба при двух .положениях поворотной головки (О-180°). На чертеже изображена по-воротная головка в положении для контроля нижней части поверхности желоба. После поворота головки на 180° контролируется верхняя часть поверхности. Для измерения радиуса кривизны в любой

точке контролируемой поверхности в .плоскости зрачка микрообъекгива находится подвижная сканирующая щель 7, перемещающаяся перпендикулярно оси объектива.

В приборе использован объектив с числовой апертурой Л-0,65. Однако при сканировании поверхности желоба действующая апертура объектива о.пределяется шириной щели и значительно меньше числовой апертуры объектива. Глубина резкости в этом случае значительно увеличивается и, следовательно, точность измерения радиуса кривизны в рассматриваемой точке поверхности желоба понижается. Для того чтобы избежать снижения точности, В осветительную систему вводят

устройство 8, выполненное в виде двух марок, расположенных симметрично относительно плоскости полевой диафрагмы осветительной системы на расстоянии глубины резкости оптической системы прибора. Марки