СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ РАЗДЕЛА ФАЗ Советский патент 1968 года по МПК G01F23/292 

.1

Известным способом исследуемый объект просвечивают пучком света и по степени его рассеяния судят о поверхности раздела фаз.

Предложенный способ состоит в том, что лля определения поверхности раздела фаз используют поляризованный световой пучок и по степени его деполяризации судят о поверхности раздела фаз.

Па чертеже изображен один из возможных вариантов осуществления предложенного способа.

Параллельный пучок света от источника света / проходит поляризатор 2 и поляризованным входит в дисперсную систему 3.

Затем световой поток проходит анализатор 4, который может быть установлен в двух положениях: параллельно и перпендикулярно

первоначальной плоскости .поляризации. Фотоэлементом 5 замеряют интенсивность световых потоков при этих двух крайних положениях анализатора.

Степень деполяризации света характеризует развитость поверхности.

Предмет изобретения

Способ определения поверхности раздела фаз с просвечива-нием исследуемого объекта световым пучком, отличающийся тем, что, с 1-;елью осугцествления измерения поверхности раздела фаз в системах с большим содержанием дисперсной фазы, используют поляризованный световой пучок и измеряют степень деполяризации этого пучка, по которой судят о степени развитости поверхности.

.

Т 5 4