СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ Советский патент 1968 года по МПК G01B7/34 

Известен способ определения шероховатости поверхности, заключающийся в том, что поток электронных лучей направляют на экран или фотопластинку касательно к поверхности детали и по полученному теневому изображению действительного профиля микронеровностей судят о чистоте поверхности.

Для повышения точности измерения согласно предлагаемому способу испытуемый образец освещают источником тепловых лучей, измеряют температуру образца и температуру окружающей среды дифференциальной термопарой, которую подводят с обратной стороны контролируемого образца, и по разности температур судят о микрорельефе поверхности.

На чертеже приведена схема устройства, поясняющая существо предложенного способа.

Одна сторона контролируемого образца 1 освещается источником 2 тепловых лучей. К противоположной стороне образца подведена термопара 3, измеряющая температуру поверхности образца 1. Термопара 4, включенная дифференциально с термопарой 3, измеряет температуру окружающей среды. Гальванометр 5, шкала которого проградуирована в единицах шероховатости, включен к выходу термопар 3 и 4. Он показывает величину шероховатости поверхности независимо от температуры окружающей среды.

Способ измерения шероховатости поверхности, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, испытуемый образец освещают источником тепловых лучей, измеряют температуру образца и температуру окружающей среды дифференциальной термопарой и по разности температур судят о микрорельефе поверхности.