СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОБЪЕМНЫХ УДЕЛБНБ1Х СОПРОТИВЛЕНИИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ Советский патент 1968 года по МПК G01R27/02 

Осуществление известных способов измерения объемных удельных сопротивлений диэлектрических материалов, размещенных на заземленной подложке, требует обязательного контакта электроизмерительного прибора с испытуемым образцом, что влечет за собой искажение морфологической структуры последнего. Предлагаемый способ отличается от известного тем, что образец помещают в вакуумированный объем, наносят на него электростатический заряд и но времени стекания заряда определяют искомую величину. Это позволяет предотвратить искажения морфологической структуры образца. Если на заземленной металлической пластине расположить образец диэлектрического материала, на котором имеется заряд Qo, то при определенных внешних условиях (температуре влажности) нейтрализация статического заряда будет происходить по закону т , где Ёа - ч мидщшая времени стекания заряда, 8а eso - a6c37n. диэлектриче екая проницаемость, р, - ,«..о5ъемное сопротивление материала, KQ . ф/ж - диэлектрическая проницаемость вакуума, е - относительная проницаемость диэлектрика. Очевидно, что потенциал статического поля, определяемый на некотором расстоянии от образца, будет изменяться по тому же экспотенциальному закону, что и заряд на диэлектрике, т. е. J. Измерив время t, в течение которого потенциал поля изменяется от ср,, до ф, , определив отношение потенциалов и зная е испытуемого материала, можно найти удельное объемное сопротивление по формуле Если определять время т, в течение которого потенциал статического заряда на диэлектрике уменьшается в а раз, то формулу можно упростить: Эта формула удобна при измерении р, материалов, имеющих т порядка нескольких минут. 3 пыленности окружающего воздуха и т. д.), целесообразно измерять р, в вакуумированных объемах. . : Предмет изобретения Способ измерения объемных удельных сопротивлений диэлектрических материалов, 4 размещенных на заземленной подложке, отличающийся тем, что, с целью исключения электрического контакта с испытываемым образдом и искажения его морфологической структуры, образец помещают в вакуумированный объем, наносят на него электростатический заряд и по времени стекания заряда определяют искомую величину.