УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ СЛОЕВ Советский патент 1968 года по МПК G02F1/01 

Известные устройства для измерения фотоэлектрических характеристик светочувствительных слоев фотоприемников, тканей и других объектов содержат источник излучения, микрообъектив, предметный столик для установки исследуемого объекта со светочувствительным слоем.

Предложенное устройство состоит из точечного источника излучения, микрообъектива, проектирующего этот источник с у меньшением в плоскость исследуемого образца, и механизма сканирования.

Оно отличается от известного тем, что между источником излучения и микрообъективом установлен зеркальный модулятор, модулирующий световой поток, направляемый к светочувствительному слою, и одновременно отклоняющий увеличенное микрообъективом изображение светочувствительного слоя на регистрирующую систему. Это устройство позволяет проводить исследование распределения чувствительности по светочувствительному слою с высоким разрешением, проводить наблюдение за качеством фокусиравки, т. е. засветки микропятном светочувствительного слоя, и проводить видимые измерения в процессе работы. Отклонение изображения исследуемого объекта осуществляется с помощью зеркального модулятора без дополнительной потери света в фотоэлектрическом канале. Наличие -в устройстве только зеркальных поверхностей создает возможность вести исследования светочувствительных слоев в широком диапазоне спектра.

На чертеже представлено описываемое устройство.

Оно содержит источник излучения 1, световой поток от которого проходит через светофильтр 2, диафрагму 3, зеркальный модулятор 4, зеркальный микрообъектив 5, отражается от плоского зеркала о и направляется на светочувствительный слой 7 исследуемого объекта, усгановленного на предметном столике 8. Для перемещения пульсирующего светового потока по поверхности светочувствительного слоя предусмотрена возможность перемещения исследуемого объекта в двух взаимно перпендикулярных направлениях в горизонтальной плоскости. В режиме автоматического сканирования в устройстве может осуществляться автоматическое качание плоского зеркала 6 вокруг оптической оси зеркального микрообъектива 5. Для визуального наблюдения освещенного участка светочувствительного слоя или его фоторегистрации используется та же оптическая система, но работающая в обратном ходе. Зеркальный микрообъектив 5 при этом формирует увеличенное изображение освещенного участка и направизображение объекта к регистрирующей системе 9.

Зеркальиый модулятор выполнен в виде лопастиого зеркальиого обтюратора; плоские стороны которого, обращенные к исследуемому объекту, И1меют зеркальное покрытие.

Предмет изобретения

Устройство для измерения фотоэлектрических характеристик светочувствительных слоев, содерл{ащее источник излучения, микрообъектив, предметный столик для установки исследуемого объекта со светочувствительным слоем, отличающееся тем, что, с целью исключения потерь используемого светового потока и упрощения конструкции, между источником излучения и микрообъективом установлен зеркальный модулятор, модулирующий световой поток, направляемый К светочувствительному слою, и одновременно отклоняющий увеличенное микрообъективом изображение светочувствительного слоя на регистрирующую систему. S