Известны установки для обработки деталей излучением оптического квантового генератора (ОКГ). Они содержат ОКГ, импульсную лампу подкачки, подключенную к источнику ее питания, и микроскоп для наблюдения за обрабатываемым участком.
Предложенное устройство отличается тем, что перед объективом микроскопа установлен подвижной затвор, а цепь питания лампы подкачки оптического квантового генератора содержит контакты, расположенные таким образом, что они замкнуты лишь при положении затвора, в котором объектив микроскопа перекрыт. Это позволяет осуществить защиту глаз оператора, ведущего наблюдения в микроскоп, от воздействия отраженного от обрабатываемой поверхности излучения ОКГ.
На чертеже представлена принципиальная схема микроскопа и затвора.
Микроскоп 1 позволяет наблюдать участок поверхности обрабатываемой детали 2 при помощи ОКГ 3. Затвор 4 сблокирован с пусковым устройством 5 импульсной лампы 6 подкачки. При включении пускового устройства шторка 7 затвора электромагнитом приводится в положение, в котором микроскоп закрыт, замыкая контакты цепи поджига импульсной лампы.
| название | год | авторы | номер документа |
|---|---|---|---|
| Лазерная офтальмологическая установка | 1972 |
|
SU446981A1 |
| Лазерная офтальмологическая установка | 1976 |
|
SU728869A1 |
| ПРИЕМОПЕРЕДАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО ЛАЗЕРНОГО ЛОКАТОРА | 1986 |
|
RU2048686C1 |
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЦЕССА ГОРЕНИЯ ПОРОШКОВ МЕТАЛЛОВ ИЛИ ИХ СМЕСЕЙ | 2018 |
|
RU2687308C1 |
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЦЕССА ГОРЕНИЯ ПОРОШКОВ МЕТАЛЛОВ ИЛИ ИХ СМЕСЕЙ | 2018 |
|
RU2685040C1 |
| СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЦЕССА ГОРЕНИЯ ПОРОШКОВ МЕТАЛЛОВ ИЛИ ИХ СМЕСЕЙ | 2018 |
|
RU2685072C1 |
| Устройство для измерения дисбаланса | 1982 |
|
SU1120197A1 |
| ПРОТИВООСЛЕПИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ТРАНСПОРТНЫХ СРЕДСТВ И СПОСОБ ЗАЩИТЫ ВОДИТЕЛЯ ПОСРЕДСТВОМ ПРОТИВООСЛЕПИТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ | 1996 |
|
RU2095681C1 |
| ФУНДУС-КАМЕРА | 2001 |
|
RU2214152C2 |
| СПОСОБ ОБРАБОТКИ ДЕТАЛЕЙ ИЗЛУЧЕНИЕМ ОПТИЧЕСКОГО КВАНТОВОГО ГЕНЕРАТОРА | 1964 |
|
SU224677A1 |
Установка для обработки деталей излучением оптического квантового генератора (ОКГ), содержащая кристалл ОКГ, импульсную лампу подкачки, подключенную к источнику ее питания, и микроскоп для наблюдения за обрабатываемым участком, отличающаяся тем, что, с целью защиты глаз ведущего наблюдения в микроскоп оператора от воздействия отраженного от обрабатываемой поверхности излучения ОКГ, перед объективом микроскопа расположен подвижной затвор, а цепь питания лампы подкачки ОКГ содержит контакты, расположенные таким образом, что они замкнуты лишь при положении затвора, в котором объектив микроскопа перекрыт.
