Изобретение относится к измерительной технике.
Данное устройство предназначено для измерения временных параметров транзисторов и диодов в наносекундном диапазоне.
Известны устройства для измерения переходных характеристик полупроводниковых приборов в наносекундном диапазоне, содержащие блок стробоскопического преобразователя выходного сигнала, снимаемого с полупроводникового прибора, блок генератора импульсов с выходом для подключения испытуемого полупроводникового прибора, блок генератора стробирующих импульсов, блок автоматического сдвига синхроимпульсов, блок измерения интервалов времени.
Недостатком этих устройств является низкая производительность.
Предлагаемое устройство отличается тем, что, с целью автоматизации измерения параметров и повышения разрешающей способно.сти, к выходу генератора стробирующих импульсов подсоединен стробоскопический преобразователь сигнала, поступающего на испытуемый полупроводниковый прибор. Выход преобразователя присоединен к блоку формирования импульсных напряжений начала отсчета интервала времени, выход которого подсоединен к блоку измерения интервала времени, содержащему переключатель каналов и
цифровой индикатор. Сюда же подсоединен блок формирования импульсного напряжения конца отсчета, соединенный с выходом блока стробоскопического преобразователя сигнала,
снимаемого с испытуемого полупроводникового прибора. Блок измерения интервалов времени подсоединен к генератору импульсов, а выход блока подключен к блоку задержки синхроимпульсов, соединенному через блок автоматического сдвига синхроимпульсов с блоком формирования импульсов запрета. Выходы последнего подсоединены к блоку формирования импульсов начала отсчета и блоку формирования импульсов конца отсчета.
На чертеже представлена структурная схема описываемого устройства.
Устройство содержит блоки 1 и 2 стробоскопических преобразователей, входные клеммы
3 и 4 которых предназначены для подключения испытуемого полупроводникового прибора, блок 5 генератора импульсов с выходом 6 для подключения испытуемого прибора, блок 7 задержки синхроимпульсов, блок 8 автоматпческото сдвига синхроимпульсов, блок 9 генератора стробоимпульсов, блок 10 формирования . имиульсов начала отсчета, блок 11 формирования импульсов конца отсчета, блок 12 формирования импульсов запрета, блок 13 цифроПринцип действия устройства основан на определении временных параметров полупроводникового прибора автоматическим сравнением трансформированных во времени с помощью стробоскопических нреобразователей входного сигнала, поступающего на испытуемый полупроводниковый прибор, н выходного сигнала, снимаемого с этого прибора.
Импульсные напряжения, обеспечивающие начало отсчета интервалов времени, формируются блоком 10 из переднего и заднего фронтов преобразованного входного сигнала, импульсы конца отсчета формируются блоком // в момент, когда амплитуда выходного сигнала достигает заданного значения.
Блок 12 формирования импульсов запрета приводит в рабочее состояние схемы формирования импульсов начала и конца отсчета и нейтрализует влияние номех на их работу.
Интервалы времени измеряются блоком 13 с цифровым отсчетом, который имеет четыре канала с общим трехразрядным индикаторным устройством. Каждый канал предназначен для измерения одного из четырех интервалов времени ( времени задержки, нарастания, рассасывания, спада) и имеет отдельный вход для импульса, разрегиающего счет, н для импульса, прекращающего счет. Переключаются каналы автоматически. Счетным импульсом является входной сигнал, поступающий на испытуемый полупроводниковый прибор.
Одновременно с переключением каналов может изменяться время задержки сигнала синхронизации блоком 7 задержки синхроимпульсов. Таким образом, стробирование входного и выходного импульсов может начаться в требуемый момент времени. Это нозволяет исследовать импульсное напряжение по частям, применяя малый щаг считывания, т. е. увеличивая разрешающую способиость устройства.
Устанавливаемый порог срабатывания схемы формирования импульса конца отсчета зависит от известных величин источника питания
коллектора испытуемого транзистора и бетаточного коллекторного напряжения.
Предмет изобретения
Устройство для измерения переходных характеристик полупроводниковых приборов в наносекундном диапазоне, содержащее блок
стробоскопического преобразователя сигнала, снимаемого с испытуемого полупроводникового прибора, блок генераторов импульсов с выходом для подключения исиытуемого полупроводникового прибора, блок генератора стробирующих импульсов, блок автоматического сдвига синхроимпульсов, блок измерения интервалов времени, отличающееся тем, что, с целью автоматизации измерения нараметров и повышения разрешающей способности устройства, к выходу генератора стробирующих импульсов подсоедпнен стробоскопический нреобразователь сигнала, поступающего на испытуемый полупроводниковый прибор, выход этого преобразователя присоедииен к блоку
формирования имнульсных напряжений начала отсчета интервала времени, выход которого подсоединен к блоку измерения интервала времени, содержащему нереключатель каналов и цифровой индикатор, сюда же подсоединен
блок формирования импульсиого напряжения конца отсчета, соединенный с выходом блока стробоскопического преобразователя сигнала, снимаемого с испытуемого полупроводникового прибора, кроме того, блок измереиия интервалов времени подсоединен к генератору импульсов, а выход блока подсоединен к блоку задержки синхроимиульсов, соединенному, в свою очередь, через блок автоматического сдвига синхроимиульсов с блоком формирования импульсов запрета, выходы которого подсоединены к блоку формнрования импульсов начала отсчета и блоку формирования импульсов конца отсчета.
