УСТРОЙСТВО для ПРОВЕРКИ и ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЦИФРОВЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ Советский патент 1972 года по МПК G05B23/02 

Описание патента на изобретение SU359639A1

Изобретение относится к области цифровой контрольно-измерительной техники и предназначено для измерения статических параметров цифровых полупроводниковых элементов и их временных характеристик в наносекундном диапазоне.

Известны устройства для измерения переходных характеристик полупроводниковых приборов в наносекундном диапазоне, содержащие блок стробоскопических преобразователей входного и выходного сигналов, блок генератора импульсов, блок формирования стробимпульсов, схему автоматического сдвига стробимпульсов, блок управления.

И:з вест1пы также устройства для (Н|Ия параметров цифровых полупроводниковых логических элементов, содержащие блок стробоскопических преобразователей входного и выходного сигналов, блок генератора импульсов, блок автоматического сдвига синхроимпульсов, блок формирователей стробимпульсов, блок измерения временных интервалов и блок управления.

Недостатком таких устройств является неточность отсчета временных интервалов, если измеряемые элементы имеют значительный разброс своих временных характеристик, так как требуется ручное переключение диапазона измерения временного интервала для получения необходимой точности. Попытка сохранения точности приводит к понижению производительности таких устройств и увеличению стоимости Проверки логической схемы. Предлагаемое устройство отличается тем,

что, с целью повышения точности отсчета и введения автоматического измерения параметров, в устройство введены блоки управляемых преобразователей напряжения в ток, ко входам которых подключен выход блока выработки напряжения для автоматического сдвига синхроимпульса, а выходы соединены со входом блока автоматического сдвига синхроимпульсов, а управляющие входы преобразователей напряжения в ток подключены

к соответствующим выходам дешифратора, входы которого подсоединены к соответствующим выходам блока цифрового измерения интервалов времени, и блок программного измерения параметров, соединенный с соответствующими выхода-ми блока цифрового измерения интервалов времени и со входами блока генератора импульсов и блока управления.

Это позволило полностью автоматизировать процесс контроля цифровых полупроводниковых логических элементов, введя между блоком управления и блоком генератора сигналов узел программного выбора режимов, который позволяет осуществить контроль параметров цифровых полупроводниковых элеменНа чертеже иэображ. блок-юхема предлагаемого устройства.

Устройство для проверки и измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов содержит блок /, состоящий из держателя цифровых полупроводниковых элементов и коммутации источников питающих напряжений и нагрузки; блок 2 стробоскопического преобразования входного сигнала; блок 3 стробоскопического преобразования выходного сигнала; блок 4 генератора импульсов; блок 5 автоматического сдвига синхроимпульсов, ,по сдвигаемому фронту которых формируются стробимпульсы блоком 6 формирования стробимпульсов; блок 7 дискриминатора начала отсчета измеряемого временного интервала; блок 8 дискриминатора конца отсчета измеряемого временного интервала; блок 9 цифрового измерения интервалов времени; блок 10 выработки напряжения для автоматического сдвига синхроимпульсов. На чертеже изображены также три блока 11-13 управляемых преобразователей напряжения в ток, на объединенные входы 14-16 которых подается напряжение для автоматического сдвига синхроимпульсов, а с выходов 17-19 снимается ток, пропорциональный напряжению на входах 14-16 соответственно, со своим для каждого преобразователя коэффициентом преобразования. Это происходит при наличии на управляющих входах 20-22 соответственно сигналов разрешения вырабатываемых блоком 23 дещифратора, который в свою очередь управляется сигналами с выхода схемы фиксации щага считывания блока 9 измерения временных интервалов. Задание режимов измерения параметров цифрового логического элемента, установленного в держателе блока /, осуществляется по сигналам блока 24 управления. Последовательность измерения параметров и условия перехода к измерению следующего параметра определяются блоком 25 программного измерения параметров по принципу «годен - брак.

Вариант выполнения управляемого преобразователя напряжения в ток (блок 11) содержит диод 26, р-п-р транзистор 27 и сопротивление 28.

Работа устройства состоит в автоматическом измерении параметров цифрового полупроводникового элемента, установленного в держателе блока 1. Входные сигналы, нагрузка и напряжение источников питания для каждого измеряемого параметра устанавливаются в соответствии с ТУ на проверяемый элемент с помощью блока / по сигналам блока 24 управления. Входной импульсный сигнал на цифровой полупроводниковый элемент (и одновременно на стробоскопический преобразователь 2 входного сигнала) подается с выхода блока 4 генератора импульсов, в котором вырабатываются все серии импульсов, необходимые для работы устройства.

трансформированных во времени с помощью блоков 2 и 5 стробоскопических преобразователей входного и выходного сигналов на заданных техническими условиями на измеряемый элемент уровнях отсчета. Момент времени, соответствующий превыщению входным сигналом заданного уровня, фиксируется блоком 7 дискриминатора начала отсчета временного интервала. Момент времени, соответствуЮЩИЙ превышению 1выхюдньгм сигналом заданйого уро.в1ня, фиксируется «блоком 8 дискриминатора конца отсчета временного интервала. Блок 9 измерения временного интервала фиксирует цифровое значение трансформированного измеряемого временного интервала пересчетом синхроимпульсов, заключенных между моментами начала и конца отсчета. Для стробирования сигналов в блоках 2 и 5 блок 6 формирования стробимпульсов вырабатывает стробимпульсы по автоматически сдвигаемому фронту синхроимпульсов, подаваемых на вход этого блока с выхода блока автоматического сдвига синхроимпульсов, который обеспечивает задержку фронта синхроимпульсов по заданной программе, определяемой законом изменения величины тока, подаваемого на вход блока 5 с объединенных выходов 17-19 блоков 11-13 управляемых преобразователей напряжения в ток.

На чертеже приведен вариант выполнения управляемого преобразователя напряжения в ток (блок //), в котором база р-п-р транзистора 27 подключена к общей шине (земле), а анод диода 26 объединен с эмиттером

р-п,-р транзистора 27 и подключен через сопротивление 28 К клемме входа /4 и к выходу блока 10. Сигнал разрешения или запрещения преобразования напряжения на клемме 14 в ток на входе 17 подается на катод

диода 26. При положительном сигнале (разрещение) диод 26 заперт, транзистор 27 открыт и через него протекает ток на выход 17. Коэффициент преобразования (отрицательного) напряжения в ток в данном случае определяется величиной сопротивления 28. Работа транзистора 27 в линейном режиме обеспечивается заданием начального напряжения на выходе блока 10 и выбором сопротивления 28 значительно большим, чем сопротивление база-эмиттер открытого транзистора 27. При подаче на катод диода 26 отрицательного сигнала (запрещение) транзистор 27 закрывается и преобразователь выключен (ток на выходе отсутствует).

Закон изменения величины тока на объединенных выходах 17-19 блоков 11-13 при фиксированном шаге считывания определяется законом изменения напряжения на выходе блока 10, в частном случае - это ступенчат:ое п.ил|оаб,разное «апряжемие, 1котО|рому ооот1вет1ст;вует сту1пе1Н1чатый лилю10:бразный ток на Объединенных выходах блоков 11-13. Каждой ступеньке асответствует iCHiHxipoимпульс, подаваемый на вход бл10ка 5 с выхода бл,ока 5 (ic объединенных выходов /7-75), .определяет сдвиг фронта синхроимпульса IB блоке 5 отнюсительно фр|0|Нта предыдущего СИНхроимтульса. Этот сдвиг определяет шаг счиТ1ыва«,ия |СИГ1на1Л|0в блоками 2 и 5 строгбоюкопических преобразователей. Ша1Г считы В)а1НИя определяется масштабом преобразования иапряжбния с выхода |бло1ка 10 в ток «а входе блока 5. Этот маюшта б преобразования равен сумме коэффициентов т .реобразования напряжения в ток тех преОбразователей, «а управляющих входах (20-22) которых есть сишнал разрешения. Ком бина-ция разрешающих и заорещающих сигналов выра1батывается дешифpiaTopOAi 23 в зависимости от кода, уста|но(вленного в схеме фийса.ции ша.га сЧИТьпваиия блока 9. Длителыность развертки ери данном шаге считывания определяется чиолом сийхрюимпульсов за один цикл изм1ерения (число.м ступенек в одном импульсе ступенчатого пилообразнаго напряжения). Так как злранее неизвестна величина измеряемого временного интерв ала, то блок 24 устанавливает в Схеме фиксации шага считывания блока 9 код, соответствующий минимальному шагу считывания (.минимальной длительности развертки).

Если измеряемый временной интервал больше установленной длительности развертки, то происходит переполнение счетчика синхроимпульсов блока 9 и блок 24 устанавливает в схеме фиксации шага считывания блока 9 код, соответствующий большему шагу считывания.

Для оптимального использования длительностей разверток в блоке 5 предусмотрена регулировка момента начала стробирования входных и выходных сигналов.

Предмет изобретения

Устройство для проверки и измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов, содержащее дешифратор, блок управления, соединенный с блоками держателя цифровых полупроводниковых элементов и коммутации источников питающих напряжений и нагрузки, выработки напряжения для автоматического сдвига синхроимпульсов и генератор импульсов, который соединен с блоком выработки напряжения для автоматического сдвига синхроимпульсов, с блоком автоматического сдвига синхроимпульсов, с блоком

управления, с блоком стробоскопического преобразования входного сигнала, а через блок держателя цифровых полупроводниковых элементов и коммутации источников питающих напряжений и нагрузки - с блоками

стробоскопического преобразования выходного сигнала, которые соединены через дискриминаторы начала и конца отсчета измеряемого временного интервала с блоком цифрового измерения интервалов времени, блок автоматического сдвига синхроимпульсов через блок формирования стробимпульсов соединен с блоками стробоскопического преобразования входного и выходного сигнала, отличающееся тем, что, с целью повышения точности

отсчета временных интервалов и автоматизации измерения параметров, в устройство введены блоки управляемых преобразователей напряжения в ток, ко входам которых подключен выход блока выработки напряжения

для автоматического сдвига синхроимпульса, а выходы соединены со входом блока автоматниеокого сдвига синхроимпульсов, управляющие входы преобразователей напряжения в ток подключены к соответствующим выходам дешифратора, входы которого подсоединены к соответствующим выходам блока цифрового измерения интервалов времени, и блок программного измерения параметров, соединенный с соответствующими выходами блока

цифрового измерения интервалов времени и со входами блока генератора импульсов и блока управления.

15

Р

Похожие патенты SU359639A1

название год авторы номер документа
Устройство для проверки и измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов 1975
  • Панов Александр Иванович
  • Маслов Виктор Анатольевич
  • Ворожеев Валентин Федорович
SU570884A2
Устройство для измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов 1977
  • Панов Александр Иванович
  • Ворожеев Валентин Федорович
SU693274A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕХОДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ 1969
SU234524A1
Цифровой измеритель временных параметров полупроводниковых приборов 1977
  • Панов Александр Иванович
  • Рамзайцев Олег Федорович
  • Герасимов Николай Федорович
SU744384A1
Устройство для измерения временных интервалов 1976
  • Панов Александр Иванович
SU658523A1
УСТРОЙСТВО ВЫБОРКИ И ХРАНЕНИЯ АНАЛОГОВОЙ ИНФОРМАЦИИ 2006
  • Старосельский Виктор Игоревич
  • Гуминов Николай Владимирович
  • Шмелев Сергей Сергеевич
RU2314580C1
Устройство для контроля динамических параметров интегральных микросхем 1976
  • Рацун Мирон Осипович
  • Климов Александр Викторович
SU647695A1
Стробоскопический цифровой осциллограф с асинхронной записью 1980
  • Михайлов Евгений Иванович
  • Михайлова Галина Михайловна
SU960636A1
Стробоскопический измеритель вре-менных интервалов 1974
  • Квядарас Вигаудас Броняус
  • Найденов Аркадий Иванович
SU508776A1
Устройство для измерения импульсной мощности оптического излучения 1980
  • Алексеев Сергей Григорьевич
  • Гельман Моисей Меерович
  • Котюк Андрей Федорович
  • Тихомиров Сергей Владимирович
SU918798A1

Иллюстрации к изобретению SU 359 639 A1

Реферат патента 1972 года УСТРОЙСТВО для ПРОВЕРКИ и ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЦИФРОВЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

Формула изобретения SU 359 639 A1

23

SU 359 639 A1

Даты

1972-01-01Публикация