УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ ЕМКОСТИ И ДОБРОТНОСТИ Советский патент 1969 года по МПК G01R27/26 

Изобретение относится к области электроизмерительной техники и предназначено для исследования электрических свойств диэлектрических материалов, помещаемых между обкладками конденсаторов.

Известные устройства для измерения емкоС1И и добротности конденсаторов с исследуемым диэлектриком не позволяют одновременно и независимо измерять оба параметра ц динамике их изменений.

Предлагаемое устройство отличается от известных тем, что в нем выход параметрического генератора через детектор и усилитель соединен с конденсатором в цепи смещения, а исследуемый конденсатор подключен к генератору через периодический прерыватель. Это отлг;чие позволяет с-днэвромснно и незав1| ;1 10 измерять оба параметра в рабочих условиях.

На чертеже представлена функциональная схема описываемого устройства.

Исследуемый конденсатор / через прерыватель 2 подключен кпараметрическому генератору (емкостному параметрону) В. Генерируемые параметроном колебания детектируются детектором 4, усиливаются усилителем 5 ,; подаются иа конденсатор 6 в цепи смещения параметрона.

роном колебаний от нагрузки и расстройки его контура относительно половинной частоты накачки нри подключении к параметрону исследуемой емкости. Для обеспечения независимости иропесса измерения от знаков изменения емкости добротности конденсатора последний подключают к параметрону через периодически действуюпдш прерыватель 2, например поляризованное реле. При этом синхронно с

работой прерывателя модулируются амплитуда колебаний парамегрона и напряжение его смещения.

Глубина модуляции амплитуды генерируемы. пapл 1eтpoнoм колебаний и напряжения

смещения являются соответственно однознач |ыми мерами добротности и величины емкост исслс.- омого коиденсатира. Они :;зме11яютгч импульсными вольтметрами 7 и 5, щкалы которых могут быть проградуированы в измеряемых параметрах.

Для регистрации изменений исследуемых параметров можно использовать самописцы.

Влияние на результат измерения изменяющейся собственной добротности конденсаторов г;араметрона, например ва-рикапоз, можно исключить путем щунтировани г контура нараметрона сонротивлением, величина которого много меньше минимального сопротивления прпмененных конденсаторов.

Предмет изобретения

Устройство для измерения емкости и добротности конденсаторов с использованием параметрического резонанса, отличающееся тем, что, с целью одновременного и независимого

измерения обоих параметров в рабочих условиях, в нем выход параметрического генератора через детектор и усилитель соединен с конденсатором в цепи смещения, а исследуемый конденсатор подключен к генератору через периодический прерыватель.

UH