ТНО- . ..'tIIi •^' ' Тга?•''*.""?!'»»• '• ~'' Советский патент 1970 года по МПК G01R27/26 

Изобретение относится к области электроизмерительной техники и предназначено для динамических измерений электрических и неэлектрических величин с помощью емкостных и индуктивных датчиков.

Известены способы измерения емкости (индуктивности) и добротности реактивных элементов путем использования параметрического резонанса. Однако такие способы -не позволяют производить измерения .параметров в динамике их изменений, автоматически записывать результаты измерений и передавать их по линиям связи.

Предлагаемый способ отличается от известных тем, что испытуемый объект включают в контур параметрона, настроенного в резонанс по лервой субгармонике на.качки, и по изменению амолитуды генерируемых колебаний и величине смещения параметрона судят соответственно о добротности и емкости (индуктивности) реактивного элемента.

Это обеспечивает возможность измерений параметров датчиков в динамике их изменений и ловышает точность измерений.

Предлагаемый способ основан на зависимости амплитуды генерируемых параметроном колебаний от величины нагрузки и расстройки его контура относительно первой субгармоники накачки.

изменяется характер генерируемых колебаний первой гармоники, а амплитуда их уменьшается на величину, прямо пропорциональную внесенному в контур затухания.

Разность значений амплитуд генерируемых колебаний является мерой добротности подключенного объекта. Под действием обратной связи, возвращающей параметрон к резонансу, изменяется величина его смещения, котпрая отражает реа1ктивные свойства объекта.

В процессе динамических измерений всякое изменение емкости (индуктивности) и добротности будет сопровождаться соответствующими изменениями амплитуды генерируемых колебаний и величины смещения, используемой для подстройки контура параметрона.

Предмет изобретения

Способ измерения емкости (индуктивности) и добротности реактивных элементов путем использования параметрического резонанса, отличающийся тем, что, с целью возможности измерений в динамике и повышения точности,

испытуемый объект включают в контур параметрона, настроенного в резонанс по первой субгармонике накачки, и по изменению амплитуды генерируемых колебаний и величине смешения параметрона судят о доброт