Известно устройство для совмещения противолежащих элементов, например -контактов микросхем при сварке, содержащее два подвижных основания, служащих для закрепления совмещаемых элементов, осветитель и микроскоп.
Цель изобретения - повышение точности совмещения.
Достигается это тем, что перед объективом микроскопа установлена оптическая система, состоящая из двух трехгранных призм, над которыми размещена пентапризма, примыкающая к кубу с полупрозрачной диагональю, на котором укреплена третья трехгранная призма, и зеркала. Осветитель выполнен в виде расположенных между трехгранными призмами и пентапризмой двух ламп с независимым регулированием яркости, разделенных S-образпым экраном.
На чертеже изображена конструкция описываемого устройства в двух проекциях.
Одним из совмещаемых элементов является, например, подложка 1 со схемой, размещенная на подвпжном столе 2, а другим элементом является, например, кристалл 3, контактные ВЫВОДЫ которого (на чертеже не показаны) обращены к рабочей поверхности подложки /. Кристалл 3 .крепится при помощи подвижного вакуумного присоса 4.
Оптическая система 5, вводимая в пространство между подложкой / и -кристаллом 3, состоит из двух трехгранных призм 6 н 7, над которыми размещена пентапризма 8, примыкающая к кубу 9 с полупрозрачной диагональю. Совмещение изображений -кристалла 3 и схемы подложки / осуществляется на верхней горизонтальной грани куба 9. Призмы устанавливают так, чтобы фигуры подложки / и кристалла 3 слились в одно изображение. -Полученное общее изображение поворачивают на 90° в третьей трехгранной призме 10, укрепленной на кубе 9, и при помощи зеркала 11 направляют в объектив микроскопа 12.
Освещаются подложка 1 и кристалл 3 двумя лампами 13 с независимым регулированием яркости, разделенными S-образным экраном 14.
Устройство работает следующим образом.
При выведенной оптической системе 5 на
подвижный стол 2 устанавливают подлол ку
/ со схемой и при помощи микроскопа 12
находят зону схемы с контактами для сварки. Затем при помощи вакуумного присоса 4 подвешивают кристалл 3 контактными выводами вниз, вводят оптическую систему 5, включают и регулируют освещение, перемещают и поворачивают любой из .элементов
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
ВИЗИРНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ АТТЕСТАЦИИ ФОТОГРАММЕТРИЧЕСКИХ КАМЕР | 1973 |
|
SU369533A1 |
МНОГОМЕСТНЫЙ КОПИРОВАЛЬНЫЙ СТАНОК | 1973 |
|
SU368010A1 |
Устройство для измерения продольных аберраций окуляров микроскопов | 1986 |
|
SU1428970A1 |
Способ фокусировки телескопического объектива и устройство для его осуществления | 1990 |
|
SU1760423A1 |
БИБЛИОТЕКА | 1973 |
|
SU390351A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ МОНТАЖА КРИСТАЛЛА | 2001 |
|
RU2194337C1 |
Проектор для измерения параметров сечения кристаллов | 1975 |
|
SU550527A1 |
Трехканальный фотоэлектрический микроскоп | 1971 |
|
SU498591A1 |
УСТРОЙСТВО для ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОГРАММЕТРИЧЕСКИХ КАМЕР | 1971 |
|
SU318009A1 |
Измеритель радиусов сферических оптических поверхностей | 1981 |
|
SU1048308A1 |
Даты
1969-01-01—Публикация