ОПТИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ ЗЕРКАЛЬНОЙ ПОВЕРХНОСТИ Советский патент 1969 года по МПК G01B11/30 

Известен онтический сиособ измерения прямолинейности зеркальной новерхности, при котором используют неподвижпо установлеиную афокальпую оборачивающую систему, движущуюся по направляющим измерительную каретку с установленными на ней маркой и отсчетным микроскопом и .оптическую систему для передачи изображепия марки в отсчетный микроскоп.

Особенностью предлагаемого оптического способа является то, что оптической системой последовательно проектируют изображение марки на проверяемую поверхность, в промежуточное пространство и с двукратным увеличением смещения, вызываемого перемещением проверяемой поверхности но нормали, на ось афокальной оборачивающей системы. Это позволяет повысить точность измерения и предотвратить повреждения проверяемой поверхности.

На чертеже представлена схема измерения прямолинейности зеркальной поверхности согласно описываемому способу.

Измеряемый объект / с контролируемой зеркальной поверхностью ЯЯ устанавливают на плиту 2, на которой также неподвижно размещена афокальная оборачивающая система 3. По направляющим 4 может двигаться измерительная каретка 5 с установленными на ней маркой 6 п отсчетным микроскопом 7. Оптическая система 8 для передачи изображения марки в отсчетный микроскоп.

В пропессе измерения прямолпнейности зеркальиой поверхиости ЯЯ объекта / каретку 5 перемещают относительпо поверхности ЯУ7 и последовательно нроектируют изображение марки на проверяемую поверхность, в промежуточное пространство и с двукратным увеличением смещения, вызываемого перемещением проверяемой поверхности но нормали, на ось афокальной оборачивающей системы 3.

Изображение щтрихов и марки контролируется наблюдателем на экране 9,

15

Предмет изобретения

Оптический способ измерения прямолинейности зеркальной поверхности, при котором используют неподвижно установленную афокальную оборачивающую систему, движущуюся но направляющим измерительную каретку с установленными на ней маркой и отсчетным микроскопом и оптическую систему для передачи изображения марки в отсчетный микроскоп, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности измерения и предотвращения повреждения проверяемой поверхности, оптической системой последовательно проектнруют изображение марки на ироверяемую поверх 248249 .

34

кратным увеличением смещения, вызываемого нормали, на ось афокальной оборачивающе; перемещением проверяемой поверхности по системы.

./а--. г

fK

%С