HsaectHbi устройства для измерения деформаций образца, содержащие осв.етитель, объективы, зеркала или призмы, развертывающее устройство, фотоприемнЕК, электронную и компенсационную схемы.
Предложенное устройство отличается от известных тем, что на выходе компенсационлой схемы включена цепочка встречно соединенных стабилитронов. Это повышает точность измерения деформации.
На фиг. 1 изображена структурная схема предложенного устройства.; на фиг. 2 - компенсационная схема того же устройства; на фит. 3 - форма импульса на выходе формирователя импульсов.
Устройство для измерения деформации образца при нормальной и повыщенной температурах содержит осветитель 1, объективы 2, зеркала 3 (или призмы), отсчетное устройство 4, развертывающее устройство 5, фотолриемник 6, электронный усилитель 7, формирователь 8 импульсов, регистрирующее устройство 9 и компенсационную схему 10, состоящую из траизисторов 11, 12, стабилитронов 13, 14 и интегратора 15.
Устройство работает следующим образом.
меток на диафрагму развертывающего устройства 5.
Через развертывающее устройство световой поток попадает на фотоприемник 6, с выхода 5 которого снимаются прямоугольные импульсы определенной длительности. Изменение длительности импульсов фотоприемника 6 пропорционально величине деформации образца 16. Имлульсы с выхода фотоприемника 6 через
0 электронный усилитель 7 подаются на формирователь 8 импульсов, который исключает влияние низкочастотных составляющих и преобразует входные импульсы в импульсы строго прямоугольной формы по длительности,
5 равные входным.
С выхода формирователя 5 импульсы поступают на вход компенсационной схемы 10. При номинальной измерительной базе образца время /1 первого нолуперпода импульса равно
0 времени /а второго полуиериода. Когда на вход схемы 10 подается первый полупериод входного импульса, транзистор 11 закрыт, а транзистор 12 открыт. Напряжение на интеграторе 15 будет создаваться током от источника .EI и определяться напряжением стабилизации стабилитрона 14 и прямым падением напряжения на стабилитроне 13.
током источника 2 -и определяться напряжением стабилизации стабилитрона 13 и прямым падением напряжения на стабилитроне 14.
Так как за нервый и второй лолупериоды входного импульса токи равны, но направлены встречно друг другу, то стрелка регистрирующего устройства 9 будет находиться на нулевой отметке.
При установлении необходимой температуры образца 16 первоначальная база изменится и равенство длительностей первого и второго полупериодов нарушится, на интеграторе 15 появится разностный ток, и стрелка регистрирующего устройства 9 отклонится от нулевого положения.
Возвращение стрелки регистрирующего устройства в нулевое положение осуществляется поворотом отсчетного устройства 4, связанного с одним из зеркал 3, что вызывает выравнивание длительности первого и второго полупериодов имлульса на входе компенсационной схемы.
Нагружая нагретый образец 16, на .регистрирующем устройстве 9 фиксируют величину, пропорциональную деформации образца от приложенной нагрузки.
Предмет изобретения
Устройство для измерения деформаций образца при нормальной и повыщенной температурах, содержащее осветитель, объективы, зеркала или лризмы, развертывающее устройство, фотоприемник, электронную и комленсационную схемы, отличающееся тем, что, с целью повыщения точности измерения деформации, на выходе компенсационной схемы включена цепочка встречно соединенных стабилитронов.
15
Г
J
L...
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Скоростная камера ждущего типа | 1986 |
|
SU1385117A1 |
Фотоимпульсивное устройство для измерения поперечных размеров ленты | 1978 |
|
SU741043A1 |
Фотоэлектрическое устройство для измерения размеров объекта | 1983 |
|
SU1142735A1 |
ФОТОЭЛЕКТРОННЫЙ ЭКСТЕНЗОМЕТР | 1969 |
|
SU241781A1 |
ВИЗИРНОЕ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО | 1972 |
|
SU349963A1 |
Фотоэлектрическое устройство для измерения размеров объекта | 1984 |
|
SU1317279A1 |
Фотоимпульсное устройство для измеренияпОпЕРЕчНыХ РАзМЕРОВ лЕНТ | 1979 |
|
SU836517A2 |
Автоколлиматор | 1978 |
|
SU805062A1 |
СПЕКТРОМЕТР | 2007 |
|
RU2347212C2 |
Двухкоординатный фотоэлектрический микроскоп | 1980 |
|
SU894353A1 |
Даты
1969-01-01—Публикация