СПОСОБ АНАЛИЗА МИКРООБЪЕКТОВ Советский патент 1970 года по МПК G01N33/10 G01N21/27 

Известны способы анализа микрообъектов с использовапием сканирования изобралсения объекта световым лучом и измерения спектральной яркости зерен выделяемых, фаз на дву.х различных участках спектра.

Предложенный способ отличается от известного тем, что исследуемый объект освещают светом по крайней мере с тремя различными диапазонами длин волн и по частному логарифмов отношений яркости зерен судят о фазовом составе объекта. Это позволяет исключить влияние вариаций толщины зерен на результат анализа и повысить его точность.

На чертеже изображен один из вариантов устройства для реализации описываемого способа.

Изображение поверхности сканируемого препарата /, сформированное оптической системой 2, . монохроматизируется цветоделительным устройством 5 и воздействует на фотоэлектрический преобразователь 4.

С выхода преобразователя 4 токи /i, /о и /д, являющиеся функциями спектральных яркостей Ьь Ь-2 и 6з по меньшей мере в трех различных участках спектра, поступают на вход вычислительного устройства 5, ток на выходе

которого пропорционален частному логарифмов отношений

, 1

In

In

/3 (3)

r

т

-

А (За)

In

Г

In /3 (з)

0-А

,ft

cf. -3

In10

- К Inде /i(6i) /C,&r, /.,(62) ..I,(b,) КзЬз;

/1, 1-2 И /3 - ТОКИ на выходе преобразователя, пропорциональные Ь, Ь-2 и 6з;

фу, т , где Ф - первичный световой поток от источника; Y - коэффициент, учитывающий рассеяние и

поглощение света различными спектрально изотропными неоднородностями и включеПИЯМИ фазы; t - удельный коэффициент светоиропускаиия (т ;; 1) на единицу толщины /г; К- коэффициент иропорциональности. Из формулы следует, что ток / на выходе вычислительного устройства свободен от основных возмущающих факторов: вариации толщины /I от зерна, рассеяния и ноглощения света Y и нестабильности иервичного светового потока Ф, а зависит лищь от удельных сиектральных коэффициентов светопропускания, являющихся индивидуальной характеристикой выделяемой фазы. предмет изобретения Сиособ анализа микрообъектов с использованием сканирования изображения объекта световым лучом и измерением снектральной яркости зерен фаз, отличающийся тем, что, с целые исключения вариаций толщины зерен на результат анализа и иовышения его точноности, исследуемый объект освещают светом по крайней мере с тремя различными диапазонами длин воли и по частному логарифмов отнощений яркости зерен судят о фазовом составе анализируемого объекта.

Н регистратору

Ч

1 I А i f IСнонироВоние

Т til I I

ОсВеи ение.